Cette thèse s'intéresse aux effets des particules présentent naturellement dans l'atmosphère. L'étude se focalise principalement sur l'impact des neutrons sur des composants électroniques fortement intégrés. La première partie détaille l'environnement radiatif naturel ainsi que les moyens de tests existants. Les technique de test sous faisceau laser sont mise en avant. La seconde partie s'intéresse au développement d'une plateforme de test de mémoires à base de FPGA programmée en VHDL. Les conceptions matérielle et logicielle sont explicitées. Une plateforme de test pour microprocesseur est également présentée. La dernière partie traite de l'évaluation de la sensibilité d'une mémoire SRAM bulk 90 nm sous faisceau laser 1064 nm. Le décodage de son plan mémoire est effectué et des solutions de durcissement sont suggérées
| Identifer | oai:union.ndltd.org:CCSD/oai:tel.archives-ouvertes.fr:tel-01015741 |
| Date | 09 December 2013 |
| Creators | Renard, Sébastien |
| Publisher | Université Sciences et Technologies - Bordeaux I |
| Source Sets | CCSD theses-EN-ligne, France |
| Language | fra |
| Detected Language | French |
| Type | PhD thesis |
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