Cette thèse s’intéresse aux effets des particules présentent naturellement dans l’atmosphère. L'étude se focalise principalement sur l'impact des neutrons sur des composants électroniques fortement intégrés. La première partie détaille l'environnement radiatif naturel ainsi que les moyens de tests existants. Les technique de test sous faisceau laser sont mise en avant. La seconde partie s’intéresse au développement d'une plateforme de test de mémoires à base de FPGA programmée en VHDL. Les conceptions matérielle et logicielle sont explicitées. Une plateforme de test pour microprocesseur est également présentée. La dernière partie traite de l'évaluation de la sensibilité d'une mémoire SRAM bulk 90 nm sous faisceau laser 1064 nm. Le décodage de son plan mémoire est effectué et des solutions de durcissement sont suggérées / This thesis highlights the effects of natural atmospheric particles. The study mainly focuses on the neutrons impact on highly integrated electronic component. The first part deals with the natural radiative environment and the tests facility. Laser beams facilities are point out. The second part explains the devlopment of a memory test platform which is based on a FPGA and programmed with VHDL. Hardware and software designs are detailed. A microprocessor test platform is presented too. The last part deals with the sensibility evaluation of a 90 nm bulk SRAM memory under a 1064 nm laser. The descrambling of the memory is explained and hardening solutions are proposed

Cette thèse s'intéresse aux effets des particules présentent naturellement dans l'atmosphère. L'étude se focalise principalement sur l'impact des neutrons sur des composants électroniques fortement intégrés. La première partie détaille l'environnement radiatif naturel ainsi que les moyens de tests existants. Les technique de test sous faisceau laser sont mise en avant. La seconde partie s'intéresse au développement d'une plateforme de test de mémoires à base de FPGA programmée en VHDL. Les conceptions matérielle et logicielle sont explicitées. Une plateforme de test pour microprocesseur est également présentée. La dernière partie traite de l'évaluation de la sensibilité d'une mémoire SRAM bulk 90 nm sous faisceau laser 1064 nm. Le décodage de son plan mémoire est effectué et des solutions de durcissement sont suggérées