利用單一二元損失管制圖來偵測製程平均數向量及共變異數矩陣同時偏移。不同於已存在的多元管制圖，本文所提出的管制圖是以二元平均損失函數建構而成的，因此，在監控製程時，我們同時能獲得產品平均損失的資訊。平均連串長度分析結果指出二元損失管制圖在偵測製程小幅度偏移上有不錯的其偵測能力。本文將與現存的多元方法做績效表現的比較，例如：二元管制圖、多元的累積管制圖和多元的指數加權平均管制圖等。結果顯示，二元損失管制圖在偵測程平均數向量及共變異數矩陣同時偏移的情況下有較好的偵測能力。
| Identifer | oai:union.ndltd.org:CHENGCHI/G0098354004 |
| Creators | 呂雨築, Lu, Yu Chu |
| Publisher | 國立政治大學 |
| Source Sets | National Chengchi University Libraries |
| Language | 英文 |
| Detected Language | Unknown |
| Type | text |
| Rights | Copyright © nccu library on behalf of the copyright holders |
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