Return to search

Abordagem de teste baseada em defeitos para esquemas de dados / Fault-based testing approach for data schemas

Orientadores: Mario Jino, Silvia Regina Vergilio / Tese (doutorado) - Universidade Estadual de Campinas, Faculdade de Engenharia Eletrica e de Computação / Made available in DSpace on 2018-08-09T21:13:12Z (GMT). No. of bitstreams: 1
Emer_MariaClaudiaFigueiredoPereira_D.pdf: 934024 bytes, checksum: dbb2079115b56358ff3dc9e747df6386 (MD5)
Previous issue date: 2007 / Resumo: Dados são manipulados em várias aplicações de software envolvendo operações críticas. Em tais aplicações assegurar a qualidade dos dados manipulados é fundamental. Esquemas de dados definem a estrutura lógica e os relacionamentos entre os dados. O teste de esquemas por meio de abordagens, critérios e ferramentas de teste específicos é uma forma pouco explorada de assegurar a qualidade de dados definidos por esquemas. Este trabalho propõe uma abordagem de teste baseada em classes de defeitos comumente identificados em esquemas de dados. Um metamodelo de dados é definido para especificar os esquemas que podem ser testados e as restrições aos dados nos esquemas. Defeitos possíveis de serem revelados são os relacionados à definição incorreta ou ausente de restrições aos dados no esquema. A abordagem inclui a geração automática de um conjunto de teste que contém instâncias de dados e consultas a essas instâncias; as instâncias de dados e as consultas são geradas de acordo com padrões definidos em cada classe de defeito. Experimentos nos contextos de aplicações Web e de base de dados foram realizados para ilustrar a aplicação da abordagem / Abstract: Data are used in several software applications involving critical operations. In such applications to ensure the quality of the manipulated data is fundamental. Data schemas define the logical structure and the relationships among data. Testing schemas by means of specific testing approaches, criteria and tools has not been explored adequately as a way to ensure the quality of data defined by schemas. This work proposes a testing approach based on fault classes usually identified in data schemas. A data metamodel is defined to specify the schemas that can be tested and the constraints to the data in schemas. This testing approach provides means for revealing faults related to incorrect or absent definition of constraints for the data in the schema. The approach includes the automatic generation of a test set which contains data instances and queries to these instances; the data instances and queries are generated according to patterns defined in each fault class. Experiments in the contexts of Web and database applications were carried out to illustrate the testing approach application / Doutorado / Engenharia de Computação / Doutor em Engenharia Elétrica

Identiferoai:union.ndltd.org:IBICT/oai:repositorio.unicamp.br:REPOSIP/261002
Date09 June 2007
CreatorsEmer, Maria Claudia Figueiredo Pereira
ContributorsUNIVERSIDADE ESTADUAL DE CAMPINAS, Vergilio, Silvia Regina, Jino, Mario, 1943-, Melo, Ana Cristina Vieira de, Souza, Simone do Rocio Senger de, Chaim, Marcos Lordello, Ricarte, Ivan Luiz Marques, Magalhães, Leo Pini
Publisher[s.n.], Universidade Estadual de Campinas. Faculdade de Engenharia Elétrica e de Computação, Programa de Pós-Graduação em Engenharia Elétrica
Source SetsIBICT Brazilian ETDs
LanguagePortuguese
Detected LanguagePortuguese
Typeinfo:eu-repo/semantics/publishedVersion, info:eu-repo/semantics/doctoralThesis
Format140p. : il., application/pdf
Sourcereponame:Repositório Institucional da Unicamp, instname:Universidade Estadual de Campinas, instacron:UNICAMP
Rightsinfo:eu-repo/semantics/openAccess

Page generated in 0.0022 seconds