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Extraction des paramètres intrinsèques des transistors à effet de champ tenant compte des phénomènes de propagation

Reproduction de : Thèse doctorat : Electronique : Cergy-Pontoise : 2005. / Titre provenant de l'écran titre. Bibliogr. p.121-129.

Identiferoai:union.ndltd.org:OCLC/oai:xtcat.oclc.org:OCLCNo/494864498
Date January 2008
CreatorsBalti, Moez Pasquet, Daniel.
Publisher[s.l.] : [s.n.],
Source SetsOCLC
LanguageFrench
Detected LanguageFrench

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