Schaltungsbezogene Modellierung der Ausbeute und des Ausfallrisikos mikroelektronischer Schaltkreise unter Berücksichtigung defektinduzierter Ausfallmechanismen

Description

Duisburg, Universiẗat, Diss., 2000.

Links & Downloads

1. http://www.ub.uni-duisburg.de/diss/diss0031/misc.pdf
2. http://deposit.ddb.de/cgi-bin/dokserv?idn=960292780

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Wafer

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Identifer	oai:union.ndltd.org:OCLC/oai:xtcat.oclc.org:OCLCNo/76220305
Date	January 2000
Creators	Miskowiec, Peter.
Publisher	[S.l. : s.n.],
Source Sets	OCLC
Language	German
Detected Language	German