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Application de l'algorithme EM au modèle des risques concurrents avec causes de panne masquées

Thèse (M.Sc.)--Université Laval, 2005. / Titre de l'écran-titre (visionné le 15 décembre 2005). Bibliogr.

Identiferoai:union.ndltd.org:OCLC/oai:xtcat.oclc.org:OCLCNo/77046258
Date January 1900
CreatorsMichaud, Isabelle,
PublisherQuébec : Université Laval,
Source SetsOCLC
LanguageFrench
Detected LanguageFrench

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