Local anodic modification of Si substrates covered with a self-assembled monolayer by scanning probe microscopy / 走査型プローブ顕微鏡による有機単分子膜被覆シリコン基板の局所的陽極酸化 / ソウサガタ プローブ ケンビキョウ ニ ヨル ユウキ タンブンシマク ヒフク シリコン キバン ノ キョクショテキ ヨウキョク サンカ

Description

Kyoto University (京都大学) / 0048 / 新制・課程博士 / 博士(工学) / 甲第14572号 / 工博第3040号 / 新制||工||1453(附属図書館) / 26924 / UT51-2009-D284 / 京都大学大学院工学研究科材料工学専攻 / (主査)教授 杉村 博之, 教授 酒井 明, 准教授 山田 啓文 / 学位規則第4条第1項該当

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1. http://hdl.handle.net/2433/77965
2. 000010316586
3. 10.14989/doctor.k14572

Tags

Scanning probe anodization

Self-assembled Monolayer

自己集積化単分子膜

500

Additional Fields

Identifer	oai:union.ndltd.org:kyoto-u.ac.jp/oai:repository.kulib.kyoto-u.ac.jp:2433/77965
Date	23 March 2009
Creators	Han, Jiwon
Contributors	杉村, 博之, 酒井, 明, 山田, 啓文, 韓, 智元, ハン, ジウォン
Publisher	京都大学 (Kyoto University), 京都大学
Source Sets	Kyoto University
Language	English
Detected Language	Japanese
Type	DFAM, Thesis or Dissertation
Format	application/pdf