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Développement de mesures non destructives, par ondes ultrasonores, d'épaisseurs de fronts de solidification dans les réacteurs métallurgiques

Dans les cuves d'électrolyse d'aluminium, le milieu de réaction très corrosif attaque les parois de la cuve, ce qui diminue leur durée de vie et augmente les coûts de production. Le talus, qui se forme sous l'effet des pertes de chaleur qui maintiennent un équilibre thermique dans la cuve, sert de protection naturelle à la cuve. Son épaisseur doit être contrôlée pour maximiser cet effet. Advenant la résorption non voulue de ce talus, les dégâts générés peuvent s'évaluer à plusieurs centaines de milliers de dollars par cuve. Aussi, l'objectif est de développer une mesure ultrasonore de l'épaisseur du talus, car elle serait non intrusive et non destructive. La précision attendue est de l'ordre du centimètre pour des mesures d'épaisseurs comprenant 2 matériaux, allant de 5 à 20 cm. Cette précision est le facteur clé permettant aux industriels de contrôler l'épaisseur du talus de manière efficace (maximiser la protection des parois tout en maximisant l'efficacité énergétique du procédé), par l'ajout d'un flux thermique. Cependant, l'efficacité d'une mesure ultrasonore dans cet environnement hostile reste à démontrer. Les travaux préliminaires ont permis de sélectionner un transducteur ultrasonore à contact ayant la capacité à résister aux conditions de mesure (hautes températures, matériaux non caractérisés...). Différentes mesures à froid (traité par analyse temps-fréquence) ont permis d'évaluer la vitesse de propagation des ondes dans le matériau de la cuve en graphite et de la cryolite, démontrant la possibilité d'extraire l'information pertinente d'épaisseur du talus in fine. Fort de cette phase de caractérisation des matériaux sur la réponse acoustique des matériaux, les travaux à venir ont été réalisés sur un modèle réduit de la cuve. Le montage expérimental, un four évoluant à 1050 °C, instrumenté d'une multitude de capteurs thermique, permettra une comparaison de la mesure intrusive LVDT à celle du transducteur, dans des conditions proches de la mesure industrielle.

Identiferoai:union.ndltd.org:usherbrooke.ca/oai:savoirs.usherbrooke.ca:11143/6176
Date January 2013
CreatorsFloquet, Jimmy
ContributorsDésilets, Martin
PublisherUniversité de Sherbrooke
Source SetsUniversité de Sherbrooke
LanguageFrench
Detected LanguageFrench
TypeMémoire
Rights© Jimmy Floquet

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