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Search results

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1

集積回路におけるシングルイベント効果の評価とソフトエラー耐性向上手法の提案

古田, 潤 24 March 2014 (has links)
京都大学 / 0048 / 新制・課程博士 / 博士(情報学) / 甲第18411号 / 情博第526号 / 新制||情||93(附属図書館) / 31269 / 京都大学大学院情報学研究科通信情報システム専攻 / (主査)教授 小野寺 秀俊, 教授 髙木 直史, 教授 佐藤 高史 / 学位規則第4条第1項該当 / Doctor of Informatics / Kyoto University / DFAM
ソフトエラー
中性子
冗長化フリップフロップ
寄生バイポーラ効果
Multiple Cell Upset (MCU)
007
2

高耐圧パワー半導体素子を目指したp型SiC結晶のキャリア寿命に関する研究

林, 利彦 25 March 2013 (has links)
Kyoto University (京都大学) / 0048 / 新制・課程博士 / 博士(工学) / 甲第17581号 / 工博第3740号 / 新制||工||1570(附属図書館) / 30347 / 京都大学大学院工学研究科電子工学専攻 / (主査)教授 木本 恒暢, 教授 藤田 静雄, 准教授 浅野 卓 / 学位規則第4条第1項該当
Sic
p-type 4H-Sic
carrier lifetime
deep level
µ-PCD
bipolar device
lifetime control
recombination
キャリア寿命
ライフタイム
炭化珪素
p型Sic
光伝導度減衰
再結合
バイポーラ
500

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