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1	在型Ⅱ截略抽樣計劃下選擇較可靠韋伯分配之研究吳慧貞, WU, HUI-ZHEN Unknown Date (has links) 在產品研究開發階段，決者經常面臨如何挑選比控制（標準）母體更具可靠度的設計母體。本篇論文研究的範圍是在型ＩＩ截略抽樣計劃且特定時間下，挑選較具可靠度的韋伯母體。假設π□、π□，．．．．，πk 是Ｋ＋１個獨立的韋伯母體，第ｉ個韋伯母體πi 的可靠度函數如下：Ｒ（ｔ；αｉ；βｉ）＝ｅｘｐ（－（ｔ╱αｉ）βi ）假如Ｒ（Ｓ* ；αｉ；βｉ）＞Ｒ（Ｓ* ；α□；βυ）則稱母體πｉ比π□更具可靠度。在型ＩＩ截略抽樣計劃下，我們主要決定ヾ每一母體適當的樣本和截略數（ｎｉ；γ ｉ）ゝ局部最適法則以便由π□到πk 中挑選比π□更具可靠度的母體。當形狀參數β已知時，由Huang et al （一九八四）的局部最適法則來推導挑選法則，在控制此法則的正確挑選機率及誤差機率下，計算樣本數及臨界值。當形狀參數β在某一區間中有事前分配，則修正局部最適法則。最後以法則來做模擬，由結果得知此法則對事前分配的變異仍相當的適用。截略抽樣計劃韋伯分配可靠度函數局部最適法挑選法則 SELECTION-RULE HUANG