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絶縁ゲート型電界効果トランジスタの実装応力に起因するDC特性変動評価 / ゼツエン ゲートガタ デンカイ コウカ トランジスタ ノ ジッソウ オウリョク ニ キインスル DC トクセイ ヘンドウ ヒョウカ

小金丸, 正明 23 July 2008 (has links)
Kyoto University (京都大学) / 0048 / 新制・課程博士 / 博士(工学) / 甲第14102号 / 工博第2966号 / 新制||工||1440(附属図書館) / 26390 / UT51-2008-L157 / 京都大学大学院工学研究科機械工学専攻 / (主査)教授 宮﨑 則幸, 教授 木村 健二, 教授 北條 正樹 / 学位規則第4条第1項該当
電子実装
残留応力
電気特性変動
500

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