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電子注入ストレスを加えたゲート酸化膜の電流検出型原子間力顕微鏡による解析世古, 明義, 渡辺, 行彦, 近藤, 博基, 酒井, 朗, 財満, 鎭明, 安田, 幸夫 01 August 2004 (has links)
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