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Analytical logical effort formulation for local sizing / Formulação analítica baseada em logical effort para dimensionamento local

Alegretti, Caio Graco Prates January 2013 (has links)
A indústria de microeletrônica tem recorrido cada vez mais à metodologia de projeto baseado em células para fazer frente à crescente complexidade dos projetos de circuitos integrados digitais, uma vez que circuitos baseados em células são projetados mais rápida e economicamente que circuitos full-custom. Entretanto, apesar do progresso ocorrido na área de Electronic Design Automation, circuitos digitais baseados em células apresentam desempenho inferior ao de circuitos full-custom. Assim, torna-se interessante encontrar maneiras de se fazer com que circuitos baseados em células tenham desempenho próximo ao de circuitos full-custom, sem que isso implique elevação significativa nos custos do projeto. Com tal objetivo em vista, esta tese apresenta contribuições para um fluxo automático de otimização local para circuitos digitais baseados em células. Por otimização local se entende a otimização do circuito em pequenas janelas de contexto, onde são feitas otimizações considerando o contexto global. Deste modo, a otimização local pode incluir a detecção e isolamento de regiões críticas do circuito e a geração de redes lógicas e de redes de transistores de diferentes topologias que são dimensionadas de acordo com as restrições de projeto em questão. Como as otimizações locais atuam em um contexto reduzido, várias soluções podem ser obtidas considerando as restrições locais, entre as quais se escolhe a mais adequada para substituir o subcircuito (região crítica) original. A contribuição específica desta tese é o desenvolvimento de um método de dimensionamento de subcircuitos capaz de obter soluções com área ativa mínima, respeitando a capacitância máxima de entrada, a carga a ser acionada, e a restrição de atraso imposta. O método é baseado em uma formulação de logical effort, e a principal contribuição é calcular analiticamente a derivada da área para obter área mínima, ao invés de fazer a derivada do atraso para obter o atraso mínimo, como é feito na formulação tradicional do logical effort. Simulações elétricas mostram que o modelo proposto é muito preciso para uma abordagem de primeira ordem, uma vez que apresenta erros médios de 1,48% para dissipação de potência, 2,28% para atraso de propagação e 6,5% para os tamanhos dos transistores. / Microelectronics industry has been relying more and more upon cell-based design methodology to face the growing complexity in the design of digital integrated circuits, since cell-based integrated circuits are designed in a faster and cheaper way than fullcustom circuits. Nevertheless, in spite of the advancements in the field of Electronic Design Automation, cell-based digital integrated circuits show inferior performance when compared with full-custom circuits. Therefore, it is desirable to find ways to bring the performance of cell-based circuits closer to that of full-custom circuits without compromising the design costs of the former circuits. Bearing this goal in mind, this thesis presents contributions towards an automatic flow of local optimization for cellbased digital circuits. By local optimization, it is meant circuit optimization within small context windows, in which optimizations are done taking into account the global context. This way, local optimization may include the detection and isolation of critical regions of the circuit and the generation of logic and transistor networks; these networks are sized according to the existing design constraints. Since local optimizations act in a reduced context, several solutions may be obtained considering local constraints, out of which the fittest solution is chosen to replace the original subcircuit (critical region). The specific contribution of this thesis is the development of a subcircuit sizing method capable of obtaining minimum active area solutions, taking into account the maximum input capacitance, the output load to be driven, and the imposed delay constraint. The method is based on the logical effort formulation, and the main contribution is to compute the area derivative to obtain minimum area, instead of making the delay derivative to obtain minimum delay, as it is done in the traditional logical effort formulation. Electrical simulations show that the proposed method is very precise for a first order approach, as it presents average errors of 1.48% in power dissipation, 2.28% in propagation delay, and 6.5% in transistor sizes.
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Analytical logical effort formulation for local sizing / Formulação analítica baseada em logical effort para dimensionamento local

Alegretti, Caio Graco Prates January 2013 (has links)
A indústria de microeletrônica tem recorrido cada vez mais à metodologia de projeto baseado em células para fazer frente à crescente complexidade dos projetos de circuitos integrados digitais, uma vez que circuitos baseados em células são projetados mais rápida e economicamente que circuitos full-custom. Entretanto, apesar do progresso ocorrido na área de Electronic Design Automation, circuitos digitais baseados em células apresentam desempenho inferior ao de circuitos full-custom. Assim, torna-se interessante encontrar maneiras de se fazer com que circuitos baseados em células tenham desempenho próximo ao de circuitos full-custom, sem que isso implique elevação significativa nos custos do projeto. Com tal objetivo em vista, esta tese apresenta contribuições para um fluxo automático de otimização local para circuitos digitais baseados em células. Por otimização local se entende a otimização do circuito em pequenas janelas de contexto, onde são feitas otimizações considerando o contexto global. Deste modo, a otimização local pode incluir a detecção e isolamento de regiões críticas do circuito e a geração de redes lógicas e de redes de transistores de diferentes topologias que são dimensionadas de acordo com as restrições de projeto em questão. Como as otimizações locais atuam em um contexto reduzido, várias soluções podem ser obtidas considerando as restrições locais, entre as quais se escolhe a mais adequada para substituir o subcircuito (região crítica) original. A contribuição específica desta tese é o desenvolvimento de um método de dimensionamento de subcircuitos capaz de obter soluções com área ativa mínima, respeitando a capacitância máxima de entrada, a carga a ser acionada, e a restrição de atraso imposta. O método é baseado em uma formulação de logical effort, e a principal contribuição é calcular analiticamente a derivada da área para obter área mínima, ao invés de fazer a derivada do atraso para obter o atraso mínimo, como é feito na formulação tradicional do logical effort. Simulações elétricas mostram que o modelo proposto é muito preciso para uma abordagem de primeira ordem, uma vez que apresenta erros médios de 1,48% para dissipação de potência, 2,28% para atraso de propagação e 6,5% para os tamanhos dos transistores. / Microelectronics industry has been relying more and more upon cell-based design methodology to face the growing complexity in the design of digital integrated circuits, since cell-based integrated circuits are designed in a faster and cheaper way than fullcustom circuits. Nevertheless, in spite of the advancements in the field of Electronic Design Automation, cell-based digital integrated circuits show inferior performance when compared with full-custom circuits. Therefore, it is desirable to find ways to bring the performance of cell-based circuits closer to that of full-custom circuits without compromising the design costs of the former circuits. Bearing this goal in mind, this thesis presents contributions towards an automatic flow of local optimization for cellbased digital circuits. By local optimization, it is meant circuit optimization within small context windows, in which optimizations are done taking into account the global context. This way, local optimization may include the detection and isolation of critical regions of the circuit and the generation of logic and transistor networks; these networks are sized according to the existing design constraints. Since local optimizations act in a reduced context, several solutions may be obtained considering local constraints, out of which the fittest solution is chosen to replace the original subcircuit (critical region). The specific contribution of this thesis is the development of a subcircuit sizing method capable of obtaining minimum active area solutions, taking into account the maximum input capacitance, the output load to be driven, and the imposed delay constraint. The method is based on the logical effort formulation, and the main contribution is to compute the area derivative to obtain minimum area, instead of making the delay derivative to obtain minimum delay, as it is done in the traditional logical effort formulation. Electrical simulations show that the proposed method is very precise for a first order approach, as it presents average errors of 1.48% in power dissipation, 2.28% in propagation delay, and 6.5% in transistor sizes.
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Analytical logical effort formulation for local sizing / Formulação analítica baseada em logical effort para dimensionamento local

Alegretti, Caio Graco Prates January 2013 (has links)
A indústria de microeletrônica tem recorrido cada vez mais à metodologia de projeto baseado em células para fazer frente à crescente complexidade dos projetos de circuitos integrados digitais, uma vez que circuitos baseados em células são projetados mais rápida e economicamente que circuitos full-custom. Entretanto, apesar do progresso ocorrido na área de Electronic Design Automation, circuitos digitais baseados em células apresentam desempenho inferior ao de circuitos full-custom. Assim, torna-se interessante encontrar maneiras de se fazer com que circuitos baseados em células tenham desempenho próximo ao de circuitos full-custom, sem que isso implique elevação significativa nos custos do projeto. Com tal objetivo em vista, esta tese apresenta contribuições para um fluxo automático de otimização local para circuitos digitais baseados em células. Por otimização local se entende a otimização do circuito em pequenas janelas de contexto, onde são feitas otimizações considerando o contexto global. Deste modo, a otimização local pode incluir a detecção e isolamento de regiões críticas do circuito e a geração de redes lógicas e de redes de transistores de diferentes topologias que são dimensionadas de acordo com as restrições de projeto em questão. Como as otimizações locais atuam em um contexto reduzido, várias soluções podem ser obtidas considerando as restrições locais, entre as quais se escolhe a mais adequada para substituir o subcircuito (região crítica) original. A contribuição específica desta tese é o desenvolvimento de um método de dimensionamento de subcircuitos capaz de obter soluções com área ativa mínima, respeitando a capacitância máxima de entrada, a carga a ser acionada, e a restrição de atraso imposta. O método é baseado em uma formulação de logical effort, e a principal contribuição é calcular analiticamente a derivada da área para obter área mínima, ao invés de fazer a derivada do atraso para obter o atraso mínimo, como é feito na formulação tradicional do logical effort. Simulações elétricas mostram que o modelo proposto é muito preciso para uma abordagem de primeira ordem, uma vez que apresenta erros médios de 1,48% para dissipação de potência, 2,28% para atraso de propagação e 6,5% para os tamanhos dos transistores. / Microelectronics industry has been relying more and more upon cell-based design methodology to face the growing complexity in the design of digital integrated circuits, since cell-based integrated circuits are designed in a faster and cheaper way than fullcustom circuits. Nevertheless, in spite of the advancements in the field of Electronic Design Automation, cell-based digital integrated circuits show inferior performance when compared with full-custom circuits. Therefore, it is desirable to find ways to bring the performance of cell-based circuits closer to that of full-custom circuits without compromising the design costs of the former circuits. Bearing this goal in mind, this thesis presents contributions towards an automatic flow of local optimization for cellbased digital circuits. By local optimization, it is meant circuit optimization within small context windows, in which optimizations are done taking into account the global context. This way, local optimization may include the detection and isolation of critical regions of the circuit and the generation of logic and transistor networks; these networks are sized according to the existing design constraints. Since local optimizations act in a reduced context, several solutions may be obtained considering local constraints, out of which the fittest solution is chosen to replace the original subcircuit (critical region). The specific contribution of this thesis is the development of a subcircuit sizing method capable of obtaining minimum active area solutions, taking into account the maximum input capacitance, the output load to be driven, and the imposed delay constraint. The method is based on the logical effort formulation, and the main contribution is to compute the area derivative to obtain minimum area, instead of making the delay derivative to obtain minimum delay, as it is done in the traditional logical effort formulation. Electrical simulations show that the proposed method is very precise for a first order approach, as it presents average errors of 1.48% in power dissipation, 2.28% in propagation delay, and 6.5% in transistor sizes.
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Corrosion des aciers dans les sols : mécanismes et cinétiques associés aux périodes transitoires d'humidification-séchage / Corrosion of steel in soil : mechanisms and kinetics associated with transient periods (drying-wetting)

Akkouche, Rym 12 December 2017 (has links)
En 2014, le réseau de pipelines à travers le monde est estimé à près de 3 500 000 km. Ces conduites en acier traversent plusieurs continents, régions, climats et donc différents types de sols. Elles sont protégées contre la corrosion externe par des revêtements et une protection cathodique. Néanmoins, il subsiste toujours un risque infime de dégradation de l’acier. Afin d’évaluer le risque de rupture d’une conduite, il est nécessaire d’étudier l’influence du sol sur la corrosion de l’acier nu non protégé composant cette conduite. Les paramètres régissant la corrosion des aciers dans les sols étant nombreux, nous nous sommes focalisés sur l’un des paramètres clés, à savoir « la teneur en eau » qui est directement reliée à d’autres paramètres très influents comme : l’aération ou taux d’oxygène, la résistivité du sol et la surface active. Dans cette thèse, nous nous sommes intéressés aux phénomènes se produisant lors de périodes transitoires de séchage/humidification de plusieurs types de sols : argileux, limoneux argileux et sableux. Une électrode multi-coupons a aussi été utilisée afin d’étudier les phénomènes liés à l’hétérogénéité de surface (formation de piles d’aération différentielle). Pour cela, différents coupons en acier provenant d’une conduite d’Air Liquide ont été enfouis pendant de longues périodes (4, 6 et 12 mois) dans différents types de sols. Les vitesses de corrosion sont estimées par électrochimie via la modélisation des courbes de voltammétrie autour du potentiel d’abandon. La surface active de l’électrode est estimée via la mesure de la résistance d’électrolyte par spectroscopie d’impédance électrochimique. Les échantillons sont ensuite analysés par micro-spectroscopie Raman, diffraction des rayons X et microscopie (optique, confocale et électronique à balayage) afin de déduire les mécanismes de corrosion de l’acier. Les résultats montrent, notamment, qu’en cas d’un fort taux d’humidité et d’une faible aération, les vitesses de corrosion sont très faibles (de l’ordre de 20 à 30 µm.an-1) mais atteignent 200 à 400 µm.an-1 lors des phases de séchage. La mesure de courants de couplage effectuée avec l’électrode multi-coupons ainsi que l’analyse de surface des coupons conventionnels ont confirmé la présence de piles d’aération différentielle et le caractère localisé de la corrosion. / In 2014, the pipelines network extended over 3500000 km worldwide. These pipes are passing through various continents, regions, areas and thus different types of soils. They are protected against external corrosion by coatings and cathodic protection. However, there is always a slight risk of carbon steel degradation. In order to evaluate the pipeline failure threat, it is necessary to study the influence of soil corrosion on the uncoated steel which composes this pipe. There are many parameters governing the steel corrosion in soils. We focused on one of the most important parameter “water content”. It is directly linked to other prominent parameters such as oxygen concentration, soil resistance and active area. In this thesis, we addressed the phenomena occurring at transitory periods of drying and remoistening in different types of soils : clayey, silt-loamy and sandy. A multi-coupon electrode was used as well in order to study the phenomena linked to surface heterogeneity (formation of differential aeration cells). For this aim, several steel coupons were buried in different types of soil for long periods (4, 6 and 12 months). The corrosion rates are estimated via electrochemical methods by fitting with a theoretical law the voltammetric curves acquired around the open circuit potential. The active area of the electrode was estimated via the determination of the soil electrolyte resistance by electrochemical impedance spectroscopy. Afterwards, the coupons were analyzed by micro-spectroscopy Raman, X-rays diffraction and microscopy in order to understand the corrosion mechanisms. Results showed that in case of very high moisture content and deaerated conditions, the corrosion rates were very weak (about 20 to 30 µm.yr-1) but reached 200 to 400 µm.yr-1 in the drying periods. The galvanic current measurements performed with the multi-coupon electrode and the surface analysis of the conventional electrodes both confirmed the presence of differential aeration cells and the localized nature of the corrosion.
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Ultra-dense co-integration of FeFETs and CMOS logic enabling very-fine grained Logic-in-Memory

Breyer, Evelyn T., Mulaosmanovic, Halid, Trommer, Jens, Melde, Thomas, Dünkel, Stefan, Trentzsch, Martin, Beyer, Sven, Mikolajick, Thomas, Slesazeck, Stefan 23 June 2022 (has links)
Ferroelectric field-effect transistors (FeFET) based on hafnium oxide offer great opportunities for Logic-in-Memory applications, due to their natural ability to combine logic (transistor) and memory (ferroelectric material), their low-power operation, and CMOS compatible integration. Besides aggressive scaling, dense integration of FeFETs is necessary to make electronic circuits more area-efficient. This paper investigates the impact of ultra-dense co-integration of a FeFET and an n-type selector FET, sharing the same active area, arranged in a 2TNOR memory array. The examined FeFETs exhibit a very similar switching behavior as FeFETs arranged in a standard AND-type array, indicating that the ultra-dense co-integration does not degrade the FeFET performance, and thus, paves the path to a very fine-grained, ultra-dense Logic-in-Memory implementation. Based on this densely integrated 2TNOR array we propose a very compact design of a 4-to-1 multiplexer with a build-in look-up table, thus directly merging logic and memory.

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