L'échantillonneur-bloqueur est un dispositif central des systèmes de conversion analogique-numérique. Son utilisation dans des domaines d'applications sensibles comme le domaine biomédical place des exigences élevées sur la performance de l'échantillonneur. Les distorsions d'injection de charges, d'erreur d'échantillonnage et celle due aux variations de la constante de temps sont trois sources de non-linéarité qu'il est primordial d'évaluer pendant la conception. La modélisation analytique est l'une des méthodes employées afin d'estimer la distorsion du dispositif d'échantillonnage. Cependant, les méthodes analytiques courantes sont complexes ou ne tiennent pas compte des capacités parasites du commutateur analogique. La conception par la mise en oeuvre de procédures de caractérisation de la distorsion à l'aide de simulateurs analogiques de la famille SPICE donne une bonne estimation de la distorsion mais aboutit à des cycles de conception longs et fastidieux. Dans ce document, nous proposons deux méthodes d'évaluation de la distorsion de l'échantillonneur-bloqueur. Dans un premier temps, nous présenterons un nouveau modèle analytique simple de la distorsion. Notre modèle met en oeuvre l'approximation en série de Taylor afin de caractériser complètement les trois sources de distorsion de l'échantillonneur-bloqueur, incluant l'effet de substrat et les capacités parasites du commutateur analogique. Une autre contribution dans ce mémoire est de proposer un logiciel de simulation comportementale d'aide à la conception des échantillonneurs-bloqueurs dans le procédé MOS submicronique 0.18 µm. Ce logiciel permet de réduire le cycle de conception et d'évaluer efficacement la distorsion de l'échantillonneur-bloqueur. Afin d'atteindre cet objectif, nous avons intégré le modèle BSIM3 du transistor au logiciel que nous avons développé en langage Java. Nous verrons avec des exemples d'application comment les paramètres de chacune des sources de distorsion agissent sur la gamme dynamique de l'échantillonneur-bloqueur par les méthodes que nous proposons. ______________________________________________________________________________ MOTS-CLÉS DE L’AUTEUR : Échantillonneur-blogueur, Distorsion, CMOS, Modélisation comportementale.