• Refine Query
  • Source
  • Publication year
  • to
  • Language
  • 1
  • Tagged with
  • 1
  • 1
  • 1
  • 1
  • 1
  • 1
  • 1
  • About
  • The Global ETD Search service is a free service for researchers to find electronic theses and dissertations. This service is provided by the Networked Digital Library of Theses and Dissertations.
    Our metadata is collected from universities around the world. If you manage a university/consortium/country archive and want to be added, details can be found on the NDLTD website.
1

Konstruktion av EMC-skanner med CoreXY-teknik

Hedberg, Karolina, Homman, Rebecka January 2019 (has links)
En god elektromagnetisk kompatibilitet (EMC) är en viktig faktor vid konstruktion av kretskort. EMC syftar på ett systems kompatibilitet med sin omgivning och en god EMC innefattar att ett elektriskt system inte interfererar med sig själv eller närliggande system. Kartläggning av EMC kan göras med en EMC-skanner vilken mäter det elektromagnetiska närfältet kring ett mätobjekt. Målet med det här projektet är att konstruera en EMC-skanner vars rörelsemekanism är baserad på CoreXY-teknik. Långsiktigt är målet att skannern ska kunna användas för att skapa 3D-kartor av EMC:n hos kretskort. EMC-skannerns mekaniska konstruktion utgick från en design från den digitala plattformen Thingiverse och bestod av aluminiumprofil och delar utskrivna med 3D-skrivare. För mätningar av det elektriska respektive magnetiska närfältet användes en närfältsprob. Rörelsen hos EMC-skannern styrdes av ett styrkort bestående av en Arduino och en RAMPS 1.4 med tre stegmotordrivare. Projektets arbetsgång bestod i att finna en lämplig design av skannern, skriva ut delar med 3D-skrivare, montera skannern, koppla och programmera komponenter för EMC-skannerns styrning samt att utföra en enklare provmätning. Slutprodukten blev en EMC-skanner med fungerande rörelser i x-, y- och z-led och vars rörelsemekanism i xy-planet baserats på CoreXY-teknik. Provmätningar visade att skannern kan användas för att mäta elektriska och magnetiska närfält från ett plant mätobjekt förutsatt att närfältsproben placeras tillräckligt nära detta. För att effektivt kunna använda EMC-skannern för att utföra mätningar på kretskort krävs vidareutveckling främst av skannerns styrning.

Page generated in 0.0227 seconds