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Análise de alta precisão das variáveis cristalográficas de um filme fino

Del Nery, Sheila Maria 21 July 1979 (has links)
Orientador: Stephenson Caticha Ellis / Dissertação (mestrado) - Universidade Estadual de Campimas, Instituto de Fisica Gleb Wataghin / Made available in DSpace on 2018-07-17T16:11:59Z (GMT). No. of bitstreams: 1 DelNery_SheilaMaria_M.pdf: 1596242 bytes, checksum: 3a63a3a181824dd043753133a6d53f97 (MD5) Previous issue date: 1979 / Resumo: A espessura de um filme fino é medida, neste trabalho, com um erro relativo de 0,4%, que para o filme analisado é da ordem de uma camada atômica. A precisão conseguida é muito maior que a encontrada na literatura. São encontrados valores excepcionalmente bons para o erro quadrático médio nas transformadas de Fourier e nas intensidades da curva desconvolucionada. Expressões são deduzidas para o cálculo dos erros das transformadas e das intensidades da curva desconvolucionada e se prova que são independentes dos pontos em que estão sendo calculados. É desenvolvido um método simples para analisar a variação da espessura de um filme fino. Encontrou-se para o filme fino analisado, que em 99,5% de sua extensão ele é uniforme / Abstract: The thickness af a thin film is measured in this wark with a relative error of 0.4% which for the analysed film is of the order of one atomic layer. The precision attained is then much better than in previous reported work in the literature. Also the quadratic errors in the Fourier Transforms and in the intensities in the deconvaluted profile are much better than usual. Expressions are deduced for the errors in the transforms and in the final intensities which are shown to be independent of the individual points where they are calculated. A new and simple method to analyse the variation of the film thickness was developped. In the case analysed it was found that the thickness was uniform over about 99.5% of the surface with the above cited precision / Mestrado / Física / Mestre em Física
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Transição de fase ferroelétrica-paraelétrica do nitrito de sódio

Lamas, Amilton da Costa 21 July 1979 (has links)
Orientador: Stephenson Caticha Ellis / Dissertação (mestrado) - Universidade Estadual de Campinas, Instituto de Fisica Gleb Wataghin / Made available in DSpace on 2018-07-17T22:10:52Z (GMT). No. of bitstreams: 1 Lamas_AmiltondaCosta_M.pdf: 4593546 bytes, checksum: c8e7d5ff23dd760ca8f83321695c24f3 (MD5) Previous issue date: 1979 / Resumo: Para o estudo da transição de fase Nitrito de Sódio é especialmente empregada a difração de raios-X de monocristais de NaNO2 na determinação dos parâmetros de ordem a partir da medida das intensidades refratadas. Embora o uso da difratometria de monocristais tenha a vantagem de revelar os picos satélites na fase senoidal para este caso particular, é limitada pelo fato de que a medida da intensidade pode ser realizada somente para uma reflexão fixa para um determinado corte no cristal. A investigação em várias reflexões, portanto, exige a preparação de várias amostras ou ter o mesmo cristal cortado diferentemente. Ainda mais devido a expansão térmica a variação dos parâmetros de rede, que são usualmente determinadas por métodos dilatométricos, não pode ser estimada diretamente da difração de raios-X tendo-se uma única amostra numa montagem de cristal fixo. Por estas razões, nós usamos o método de nó para redeterminar os parâmetros de rede com erros máximos da ordem de 0,003 Å em função da temperatura 16 reflexões, e para revelar as fases ferroelétricas, FS - proposta na literatura, a antiferroelétrica senoidal e a fase paraelétrica através de medidas das intensidades integradas de cinco reflexões apropriadas. São também calculados o parâmetro de ordem ferroelétrico, a energia dipolar e a constante elástica ( compliance ). Tendo em vista que a resolução angular do método de pó não é suficiente para separar os picos satélites dos principais, o parâmetro de ordem da fase senoidal não pode ser obtida. Nós sugerimos para estudo posterior, o uso do método de ajuste de perfil, recentemente desenvolvido por Huang e Parrish ( Appl. Phys. Lett 27 (1975) 123 ) para resolver os picos satélites e então estimar o parâmetro de ordem senoidal / Abstract: For the study of phase transition of Sodium Nitrite, X-ray diffraction from single crystal of NaNO2 is usually employed in determining the order parameters from the measurement of diffracted intensity. Although the use of single crystal diffractometry has the advantage of revealing the satellite peaks in the sinusoidal phase for this particular case, it is limited by the fact that the intensity measurement can be carried out only for a fixed reflection for a certain cut crystal. Investigation on various reflections, therefore, needs to have different samples prepared or have the same crystal cut differently. In addition, due to thermal expansion the variation of lattice constant, which is usually determined by dilatometric methods, can not be estimated directly from X-ray diffraction through a unique sample at a fixed crystal mounting. For these reasons, we have therefore used the powder method to re-determine the lattice constants with maximum error about 0.003 Å in function of temperature from 16 reflections; and to reveal the ferroelectric, the FS, the sinusoidal antiferroelectric and the paraelectric phases through the measurement of integrated intensity from 5 proper ref1ections. The ferroelectric order parameter, the interaction energy of dipole, and the coeficient of compliance are also presented. Owing to that the angular resolution of the powder method is not enough to separate the satellite peaks from the principal ones, the order parameter of sinusoidal phase can not be obtairied. We suggest, for further study, using the profile fitting method, recently developed by Huang and Parrish ( Appl. Phys. Lett 27 (1975) 123 ), to resolve the satellite peaks and the to estimate the sinusoidal order parameter / Mestrado / Física / Mestre em Física
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Analise termodinâmica do espectro de espalhamento quase-elástico de luz por cristais

Moreira, Armando Fernandes da Silva, 1946- 15 July 1977 (has links)
Orientador: Paulo Roberto de Paula e Silva / Tese (doutorado) - Universidade Estadual de Campinas, Instituto de Fisica Gleb Wataghin / Made available in DSpace on 2018-07-15T05:39:52Z (GMT). No. of bitstreams: 1 Moreira_ArmandoFernandesdaSilva_D.pdf: 3303514 bytes, checksum: 2f8b7275342adfd16e2a17794f28d513 (MD5) Previous issue date: 1977 / Resumo: Uma metodologia é proposta que permite a análise sistemática do espectro de espalhamento quase-elástico de luz por cristais. Especificadas a geometria de espalhamento e a simetria do cristal, a metodologia leva à determinação do número de componentes espectrais e das formas, larguras e intensidades relativas das mesmas em termos de um certo número de parâmetros termodinâmicos. A metodologia envolve: 1. a obtenção de equações para as variáveis termodinâmicas do cristal levando em conta processos irreversíveis de dissipação de energia; 2. a solução das mesmas para o vetor de espalhamento escolhido e a dada simetria cristalina; 3. a determinação do espectro através da hipótese de Onsager, que relaciona as soluções obtidas com as funções de correlação das mesmas variáveis. A título de ilustração, a metodologia foi aplicada ao material KH2PO4 ( KDP ), destacando-se os seguintes resultados ( válidos para a geometria de espalhamento escolhida ); 1. a linha de Rayleigh é lorentziana e as de Brillouin têm a forma de linhas de ressonância; 2. as larguras das linhas são proporcionais à difusividade térmica ( Rayleigh) e a um coeficiente de viscosidade (Brillouin). Para o mesmo material, foi também levado em conta um possível processo de relaxação térmica, caracterizado fenomenologicamente por um calor específico interno e um tempo de relaxação. Esse processo conduz ao aparecimento de uma nova linha (Iorentziana) e pode levar a um aumento substancial na intensidade da linha Rayleigh (comportamento típico de um "pico central") / Abstract: Not informed. / Doutorado / Física / Doutor em Ciências
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Medida precisa de parâmetros da rede cristalina por difração múltipla de raios-X

Portugal Postigo, Remberto Jose 21 July 1979 (has links)
Orientador: Stephenson Caticha Ellis / Dissertação (mestrado) - Universidade Estadual de Campinas, Instituto de Fisica Gleb Wataghin / Made available in DSpace on 2018-07-17T06:53:03Z (GMT). No. of bitstreams: 1 PortugalPostigo_RembertoJose_M.pdf: 3689329 bytes, checksum: b8c02fdea8eb1f616c8f874585f68792 (MD5) Previous issue date: 1979 / Resumo: A sensibilidade S da medida de parâmetros de rede por meio da Difração múltipla ( D.M. ) de raios-X ( S. Caticha Ellis, Japan J. Appl. Phys. (1975), 14, 603-611 ) é dada por: S = 1/( gtanf cos2q1 ), onde g = /a, q1 o ângulo de Bragg para a reflexão primária, e f o ângulo formado pelo vetor reciproco H da reflexão secundária; com o plano de incidência quando H está em posição de reflexão: Pares de Reflexões múltiplas com S alto foram escolhidos e o valor do parâmetro a calculado a partir da diferença angular azimutal entre cada par. Para mono-cristais de Germânio, CuKa1 e reflexão primária ( 222 ), foram escolhidos os seguintes pares de picos : (135') ( 315' ), ( 5'13 ) ( 5'31 ), ( 11'7 ) ( 1'17 ) e ( 711' ) ( 71'1 ) todos eles verificam; 1 ) o ângulo f é o mais pequeno dando então o maior valor de S. 2 ) A separação angular da posição dos picos para cada um destes pares é de aproximadamente 0,22°, que pode ser medida diretamente. 3 ) Os quatro pares envolvem só reflexões fracas. Assim. sendo, deslocamentos dos picos devido a interações dinâmicas não são levadas em conta. O experimento foi realizado usando um gerador microfoco ajustado para se ter um foco pontual de raios-X de 50 x 50 mm, monocromatizados por um cristal curvo de quartzo ( 101'1 ). A separação angular de cada par de reflexões foi medida girando o cristal com uma velocidade de 0,003 °/min com um erro de aproximadamente 10-5 °/min. São apresentados resultados para um cristal perfeito e para um imperfeito / Abstract: The sensitivity s of the measurement of lattice parameter by means of multiple diffraction ( MD ) of X-rays ( S. Caticha-Ellis, Jap, J. App1. Phys. ( 1975 ), 14, 603-611 ) is given by S = 1/( gtanf cos2q1 ), where g = /a, q1 is the Bragg angle for the primary reflection and f is the angle formed by the RELV H of the secondary reflection with the plane of incidence when H is in a reflecting position. Pairs of MD reflections with high S were chosen and the value of the parameter a calculated from the azimutal angle difference within each pair. For Ge single crystals, CuKa1 and primary reflection 222, the following four pairs were chosen: ( 135' ) ( 315' ), ( 5'13 ) ( 5'31 ), ( 11'7 ) ( 1'17 ) and ( 711' ) ( 71'1 ). All of them verify: 1 ) the angle f is the lowest thus giving the highest S. 2 ) The angular separation of the peak positions for the each of these pairs is about 0,22 degree so that it can be measured directly. 3 ) The four pairs involve only weak reflections so that the peak-shift due to dynamical interactions need not be considered. The experiments were performed by using a microfocus 50 x 50 mm point source of X-rays monochromatized by a curved quartz ( 1011 ) crystal. The angular separation of each pair of reflections was measured by rotat.ing the crystal at a speed of 0,003 deg/min with an error of about 10-5 deg/min. Results for perfect and imperfect crystals are reported. / Mestrado / Física / Mestre em Física
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O método semi-empírico "Tight Binding" aplicado ao cálculo da estrutura de bandas, densidade de estados, vacância ideal e função dielétrica em semicondutores

Mello, Denise Fernandes de 15 April 1988 (has links)
Orientador: Gaston E. Barberis / Dissertação (mestrado) - Universidade Estadual de Campinas, Instituto de Fisica Gleb Wataghin / Made available in DSpace on 2018-07-14T19:50:18Z (GMT). No. of bitstreams: 1 Mello_DeniseFernandesde_M.pdf: 1047101 bytes, checksum: 2332b977cc57d1bf68ab5f50e904f076 (MD5) Previous issue date: 1988 / Resumo: Usando o método semi-empírico "Tight Binding", aproximação de primeiros vizinhos e uma base sp3s*, onde s* é um pseudo estado excitado, o qual substitui os estados excitados de outras interações (modelo de Vogi), recalculamos a estrutura de bandas de 16 semicondutores com estrutura zincblenda e aplicamos o método para CdTe. A partir da estrutura de bandas, calculamos então, vacâncias ideais nesses mesmos semicondutores, assim como a parte imaginária da função dielétrica. Calculamos também as bandas de valência do composto iônico NaCl. Os resultados mostraram-se em boa concordância com resultados experimentais e teóricos obtidos por outros métodos, o que é altamente satisfatório, visto que com os demais modelos "Tight Binding" não era possível obter resultados realísticos para a maioria das propriedades / Abstract: Using the Vogi¿s model for the semi-empirical Tight Binding method, we have recalculated the band structure of 16 semiconductors with zincblenda structure and that for CdTe. Using these band we have calculated the density of states, ideal vacancies and the imaginary part of the dielectric function for these compounds. The valence bands of the ionic compound NaCl have been also calculated. The results are very satisfactory and in good agreement with experiments and others calculations / Mestrado / Física / Mestre em Física
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Estudo da aplicação de pressão em semicondutores pelo método SCF-X

Guimarães, Paulo Sergio 22 July 1979 (has links)
Orientador: Nelson de Jesus Parada / Tese (doutorado) - Universidade Estadual de Campinas, Instituto de Fisica Gleb Wataghin / Made available in DSpace on 2018-07-14T19:30:08Z (GMT). No. of bitstreams: 1 Guimaraes_PauloSergio_D.pdf: 1880111 bytes, checksum: fd74f773a636d97c6a698466d0324131 (MD5) Previous issue date: 1979 / Resumo: Este trabalho tem um duplo objetivo. Em uma primeira parte desenvolver o método de cluster, variante cristalina, visando aplicá-lo ao estudo de cristais covalentes. Na segunda parte do trabalho o método é usado no estudo de um material iônico. São estudados, também, os efeitos causados sobre as bandas de energia deste material pela aplicação de pressão hidrostática. O material escolhido para a primeira parte do trabalho foi a GaSb. Para a segunda parte foi escolhido o CuCl. Foram obtidos resultados bastante interessantes para os dois tipos de material / Abstract: This work is composed of two distinct parts. In the first part we intend to develop the cluster method, crystaline variant, intending to study covalent crystals. In the second part the method is applied to the study of an ionic material. We also studied the effects of the application of hidrostatic pressure on the energy bands of the material. The compound used in the first part of this work was the GaSb. In the second part we used the CuCl. Many interesting results were obtained in both parts of this work / Doutorado / Física / Doutor em Ciências
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Determinação direta das fases na difração de raios-X em cristais sem centro de simetria

Valladares, Jose Antonio Prado 27 November 1984 (has links)
Orientador: Shih-Lin Chang / Dissertação (mestrado) - Universidade Estadual de Campinas, Instituto de Fisica Gleb Wataghin / Made available in DSpace on 2018-07-15T19:15:31Z (GMT). No. of bitstreams: 1 Valladares_JoseAntonioPrado_M.pdf: 1756307 bytes, checksum: 641840856a53223c4ce7c9b70411dc54 (MD5) Previous issue date: 1984 / Resumo: Um método experimental é proposto para solucionar o problema da fase na difração de raios-X em cristais sem centro de simetria, usando difração múltipla caso três-feixes tipo-Bragg. Este método resulta da consideração da dependência da fase com a assimetria dos perfis de linha, com o sentido da rotação da rede cristalina e com o comprimento de onda da radiação incidente. Casos em que o comprimento de onda da radiação incidente está acima e abaixo da borda de absorção, lE, do átomo mais pesado constituinte do cristal, são estudados. Como resultado desse estudo, encontramos que, para l < lE, o sinal do seno da fase invariante é expresso pelo produto do sinal definido pela assimetria do perfil de linha e pelo sentido de rotação da rede cristalina. A aplicação deste método para, vários casos três-feixes mostram um perfeito acordo entre as fases determinadas experimentalmente e as teóricas. O cálculo dinâmico é empregado para a obtenção da superfície de dispersão e para as intensidades dos feixes difratados tipo-Bragg. A aproximação "caso dois-feixes modificado" é utilizada como tentativa para uma descrição analítica do problema / Abstract: Not informed. / Mestrado / Física / Mestre em Física
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Espalhamento difuso de raios X por cristais de LiF irradiados

Suzuki, Carlos Kenichi, 1945- 15 July 1974 (has links)
Orientador: Stephenson Caticha-Ellis / Dissertação (mestrado) - Universidade Estadual de Campinas, Instituto de Fisica Gleb Wataghin / Made available in DSpace on 2018-07-16T05:40:08Z (GMT). No. of bitstreams: 1 Suzuki_CarlosKenichi_M.pdf: 15940056 bytes, checksum: 0572edba1b6f432f9793afe69b360e81 (MD5) Previous issue date: 1974 / Resumo: Não informado / Abstract: Not informed. / Mestrado / Física / Mestre em Física

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