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Mapeamento de QTLs para resistência a grãos ardidos causados por diplodia (Stenocarpella Sp.) em milho (Zea Mays L.)Gutiérrez, Humberto Ignácio 28 February 2008 (has links)
Diplodia ear rot caused by the fungus Stenocarpella maydis (Berkeley) and Stenocarpella
macrospora (Earle) have become one of the most important limiting factors for the production
of Corn (Zea mays L.) in Brazil. The fungus can attack the stalks, leaves and the grain
causing significant reductions on yield and the overall quality of the grain, since it can produce
micotoxinas that are dangerous to livestock. Resistance to ear rot by Stenocarpella sp in corn
is quantitative and highly influenced by the environment and even that artificial inoculation
techniques are available to screen for the disease the overall cost is very expensive. The
objective of this study was the identification of quantitative trait loci (QTL s) associated with
ear rot resistance by Stenocarpella sp in one breeding population composed of 141 doublehaploid
progenies resulted from the cross among the resistant inbred MONDR1 and the
susceptible inbred MONDS1 in testcrosses with the susceptible tester MONDS5. Testcrosses
were evaluated at harvest time after artificial inoculation for ear rot at three different locations
in the central region of Brazil during the 2005/06 summer season. Thru Composite interval
mapping (CIM), a total of three QTL s (LOD>2.5) for ear rot resistance were identified at
chromosomes 2, 3 and 5, all together accounting for up 26% of total phenotypic variation for
this character. The identification of two QTL s for ear rot resistance coming from the
susceptible parent MONDS1 appear to indicate the presence of the phenomena of
transgressive segregation. Additionally we were able to identify six double-haploid progenies
with high level of resistance to ear rot by Stenocarpella (MDH15, MDH443, MDH95, MDH2,
MDH120 e MDH81), being those recommended for their incorporation into the breeding
program as new breeding sources for the Central Brazil regions. / Grãos ardidos causados pelos fungos Stenocarpella maydis (Berkeley) e Stenocarpella
macrospora (Earle) tem se constituído num dos maiores fatores limitantes para a produção de
milho (Zea mays L.) no Brasil. Estes fungos podem causar infecções no colmo, folhas e grãos,
podendo ocasionar reduções significativas na produtividade e na qualidade do grão, pela
produção de micotoxinas daninhas para aves e bovinos. A resistência para podridão de grão
por Stenocarpella sp apresenta herança quantitativa e pode ser altamente influenciada pelo
meio ambiente, e embora existam técnicas de inoculação que facilitam a discriminação de
materiais suscetíveis, isto requer de grande quantidade de recursos. O objetivo do presente
trabalho foi à identificação de locos de caracteres quantitativos (QTL) associados à resistência
para podridão de grãos ( grãos ardidos ) ocasionados por Stenocarpella sp numa população de
141 progênies duplo-haplóides derivadas do cruzamento entre a linhagem resistente MONDR1
e a linhagem susceptível MONDS1 em testcross com o testador susceptível MONDS5. A
porcentagem de espigas infectadas por Stenocarpella sp foi registrada para cada uma das
testcrosses apos da inoculação artificial em três localidades na região Central de Brasil
durante a Safra agrícola 2005/06. Mediante a análise de mapeamento por intervalo composto
foram identificados três QTL s com LOD>2.5 para resistência à grãos ardidos nos
cromossomos 2, 3 e 5, sendo estes em conjunto, responsáveis por ate 26% de variação
fenotípica para este caráter. A identificação de dois QTL s para resistência a grãos ardidos por
Stenocarpella sp com origem no progenitor susceptível parece indicar a presença do fenômeno
de segregação transgressiva. Adicionalmente foram identificadas seis progênies duplohaplóides
com alto nível de resistência a grãos ardidos (MDH15, MDH443, MDH95, MDH2,
MDH120 e MDH81), sendo estas recomendadas para sua incorporação no programa de
melhoramento para a região central do Brasil. / Mestre em Genética e Bioquímica
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