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Mapeamento de QTLs para resistência a grãos ardidos causados por diplodia (Stenocarpella Sp.) em milho (Zea Mays L.)

Gutiérrez, Humberto Ignácio 28 February 2008 (has links)
Diplodia ear rot caused by the fungus Stenocarpella maydis (Berkeley) and Stenocarpella macrospora (Earle) have become one of the most important limiting factors for the production of Corn (Zea mays L.) in Brazil. The fungus can attack the stalks, leaves and the grain causing significant reductions on yield and the overall quality of the grain, since it can produce micotoxinas that are dangerous to livestock. Resistance to ear rot by Stenocarpella sp in corn is quantitative and highly influenced by the environment and even that artificial inoculation techniques are available to screen for the disease the overall cost is very expensive. The objective of this study was the identification of quantitative trait loci (QTL s) associated with ear rot resistance by Stenocarpella sp in one breeding population composed of 141 doublehaploid progenies resulted from the cross among the resistant inbred MONDR1 and the susceptible inbred MONDS1 in testcrosses with the susceptible tester MONDS5. Testcrosses were evaluated at harvest time after artificial inoculation for ear rot at three different locations in the central region of Brazil during the 2005/06 summer season. Thru Composite interval mapping (CIM), a total of three QTL s (LOD>2.5) for ear rot resistance were identified at chromosomes 2, 3 and 5, all together accounting for up 26% of total phenotypic variation for this character. The identification of two QTL s for ear rot resistance coming from the susceptible parent MONDS1 appear to indicate the presence of the phenomena of transgressive segregation. Additionally we were able to identify six double-haploid progenies with high level of resistance to ear rot by Stenocarpella (MDH15, MDH443, MDH95, MDH2, MDH120 e MDH81), being those recommended for their incorporation into the breeding program as new breeding sources for the Central Brazil regions. / Grãos ardidos causados pelos fungos Stenocarpella maydis (Berkeley) e Stenocarpella macrospora (Earle) tem se constituído num dos maiores fatores limitantes para a produção de milho (Zea mays L.) no Brasil. Estes fungos podem causar infecções no colmo, folhas e grãos, podendo ocasionar reduções significativas na produtividade e na qualidade do grão, pela produção de micotoxinas daninhas para aves e bovinos. A resistência para podridão de grão por Stenocarpella sp apresenta herança quantitativa e pode ser altamente influenciada pelo meio ambiente, e embora existam técnicas de inoculação que facilitam a discriminação de materiais suscetíveis, isto requer de grande quantidade de recursos. O objetivo do presente trabalho foi à identificação de locos de caracteres quantitativos (QTL) associados à resistência para podridão de grãos ( grãos ardidos ) ocasionados por Stenocarpella sp numa população de 141 progênies duplo-haplóides derivadas do cruzamento entre a linhagem resistente MONDR1 e a linhagem susceptível MONDS1 em testcross com o testador susceptível MONDS5. A porcentagem de espigas infectadas por Stenocarpella sp foi registrada para cada uma das testcrosses apos da inoculação artificial em três localidades na região Central de Brasil durante a Safra agrícola 2005/06. Mediante a análise de mapeamento por intervalo composto foram identificados três QTL s com LOD>2.5 para resistência à grãos ardidos nos cromossomos 2, 3 e 5, sendo estes em conjunto, responsáveis por ate 26% de variação fenotípica para este caráter. A identificação de dois QTL s para resistência a grãos ardidos por Stenocarpella sp com origem no progenitor susceptível parece indicar a presença do fenômeno de segregação transgressiva. Adicionalmente foram identificadas seis progênies duplohaplóides com alto nível de resistência a grãos ardidos (MDH15, MDH443, MDH95, MDH2, MDH120 e MDH81), sendo estas recomendadas para sua incorporação no programa de melhoramento para a região central do Brasil. / Mestre em Genética e Bioquímica

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