Orientador: M.M. Francon / Tese (doutorado) - Universite Pierre et Marie Curie Paris IV / Made available in DSpace on 2018-08-03T18:16:47Z (GMT). No. of bitstreams: 1 Frejlich_Jaime_D.pdf: 2633333 bytes, checksum: 29e6772ffe1a41722f441fe8a8948bd1 (MD5) Previous issue date: 1977 / Resume: Nous avons cherché, tout au long de cette étude sur les photorésines négatives, à interpréter les processus dont elles sont le siege. Nous avons particulièrement orienté notre travail dans le sens de leur utilisation comme rnatériau d'enregistrernent en optique en étudiant leurs possibilités pratiques dans ce dornaine. L'introduction (premier chapitre) constitue une breve revue des matériaux d'enregistrernent les plus répandues actuellement. On y trouvera un résumé de leurs caractéristiques différentielles et plus particulièrement celles relatives aux photorésines. Après un rappel rapide de l'intérêt, pour l'optique moderne, des matériaux de phase, on analysera les problemes liés aux non linéarités des matériaux d'enregistrement en général et des matériaux de phase en particulier. Dans le second chapitre, nous étudierons systématiquernent la préparation et le contrôle des couches de résine, ainsi que les méthodes utilisées pour la mesure de quelques unes de leurs caractéristiques principales. Les trois chapitres suivant concernent plus particulierement la MICRORESIST 747 (KMR 747) de chez KODAK. Elle y est étudiée d'un point de vue tant expérimental que théorique. Les résultats obtenus (en particulier pour ce qui est des rnodifications possibles du mode d'utilisation) pourront pour certains être généralisés à d'autres produits. Dans le sixierne chapitre enfin, nous avons cherché à optirniser le rnode d'utilisation et les propriétés de cette résine. Nous nous sornrnes particulierernent intéressé à l'extension de son dornaine spectral de sensibilité, et aux rnodes de stockage d'information. Nous décrirons rapidement quelques montages utilisables pour la réalisation de cornposants optiques / Abstract: Not informed. / Doutorado / Física / Doutor em Ciências

Orientador: Carlos Henrique de Brito Cruz / Dissertação (mestrado) - Universidade Estadual de Campinas, Instituto de Fisica Gleb Wataghin / Made available in DSpace on 2018-07-13T23:56:49Z (GMT). No. of bitstreams: 1 Tsuda_Sergio_M.pdf: 4080573 bytes, checksum: d77babe121c413c660750c56d488f9a2 (MD5) Previous issue date: 1991 / Resumo: Neste trabalho são apresentadas medidas de tempo de resposta e intensidade de saturação para uma chave óptica baseada em rotação induzida de polarização. A chave usa como meio ativo vidro dopado com semicondutor obtido a partir de filtros ópticos de corte abrupto. Usamos vidros Corning tipo CS-2.59, CS-2.60 e CS-2.62, que têm "gaps" de energia na região de 2,0 eV, correspondente à energia dos fótons do laser de corante CPM (Tp = 50 fs, Ep = 0,01 nJ). Para a amostra com o maior "gap" (CS-2.62) observamos tempo de resposta menor do que 50 fs ao mesmo tempo que verificamos uma saturação na amplitude do sinal chaveado para intensidade de bombeamento maior do que 10 mW /cm2. Para as amostras CS-2.60 e CS-2.59 observamos tempo de resposta ligeiramente mais lento e intensidades de saturação correspondentemente menores. A velocidade de resposta do efeito e sua magnitude não são consistentes com modelos baseados em "band-filling". Nossa hipótese é que o efeito seja causado por um deslocamento do "gap" do material devido ao campo do feixe de bombeamento através do efeito Stark óptico. O comportamento de saturação e o tempo de resposta são consistentes com esta hipótese / Abstract: In this work we present measurements of time response and intensity saturation dependence for an optical switch based on induced polarization rotation. The switch uses as active medium a semiconductor doped glass (SDG), which is readily available in the form of sharp cutoff optical filters. We have used Corning SDG CS-2.59, CS-2.60 and CS-2.62 types, which have band gaps in the region close to 2,0 eV, which correspond to the CPM dye laser photon energy (Tp = 50 fs, Ep = 0,01 nJ). For the sample with the highest bandgap (CS-2.62) we have observed a response time lower than 50 fs as well as an amplitude saturation of the switched out signal for pumping intensities above 10 MW /cm2. For the samples CS-2.60 e CS-2.59 we have observed response times slightly slower and saturation intensities correspondently lower. The speed of response and magnitude of the effect are not consistent with models based on band filling. Our hypothesis is that, due to the intense pump beam, tuned below resonance, the band gap suffers an increase, as described in the Optical Stark Effect picture. The saturation and response time behaviour are consistent with this hypothesis / Mestrado / Física / Mestre em Física

Orientador: Antonio G. J. Balbin Villaverde / Dissertação (mestrado) - Universidade Estadual de Campinas, Instituto de Fisica Gleb Wataghin / Made available in DSpace on 2018-07-14T00:22:40Z (GMT). No. of bitstreams: 1 MontanhaNeto_Jose_M.pdf: 1476018 bytes, checksum: 31215cdcc4098eefe4a4821ddb5a008a (MD5) Previous issue date: 1991 / Resumo: Foi construído um sistema para o estudo do efeito Kerr eletro-óptico em líquidos, para o qual desenvolvemos um gerador de pulsos retangulares de alta tensão e curta duração, além de uma célula de Kerr com baixa birrefringência residual. Uma técnica de sinal nulo foi empregada na medida da birrefringência induzida. As constantes de Kerr de sete líquidos puros; água, acetona, clorofórmio, nitrometano, quinolina, ácido acético e isopropil benzeno (cumeno) foram medidas. Para os quatro últimos esta é a primeira vez que suas constantes de Kerr são medidas usando uma técnica de campos elétricos pulsados. Também foi examinada a variação da constante de Kerr de misturas binárias de líquidos puros em função da fração molar do soluto, para cinco sistemas utilizando acetona como solvente, sendo as medidas para quatro dessas misturas inéditas na literatura / Abstract: Not informed. / Mestrado / Física / Mestre em Física

Orientador: Geraldo Ferreira Mendes / Tese (doutorado) - Universidade Estadual de Campinas, Instituto de Fisica Gleb Wataghin / Made available in DSpace on 2018-07-14T00:22:21Z (GMT). No. of bitstreams: 1 Sthel_MarceloSilva_D.pdf: 3530788 bytes, checksum: 70c7e6b73e4e78eef0c8d2c3f4630f92 (MD5) Previous issue date: 1991 / Resumo: Neste trabalho, estudamos a geração holográfica de padrões periódicos, o seu registro em materiais fotossensíveis e a litografia dos mesmos em cristais semicondutores. Gravamos uma microestrutura periódica em semicondutor (InP) com um período de 0,45mm, isto permitiu a produção do primeiro laser semicondutor monomodo do país emitindo em l,5mm. Estes dispositivos são largamente empregados na implantação de sistemas coerentes de comunicações ópticas usados para longas distancias e alta taxa de transmissão. Estudamos também o registro de microestruturas periódica em (InP) através do efeito fotoeletroquímico, o que proporciona um registro direto de microestruturas em semicondutores, portanto sem a necessidade do uso de materiais fotossensíveis. Num outro experimento utilizamos uma montagem holográfica estabilizada eletronicamente cuja colimação do feixe é feita por espelhos parabólicos fora do eixo de simetria, produzindo uma colimação da frente de onda com alta qualidade numa área de 100x100mm2, o que nos levou a confeccionar redes de difrações holográficas em fotorresina de 1200 l/mm com boa homogeneidade. Propusemos também um método para determinação da resolução do processo de exposição filmes fotossensíveis (fotorresinas) durante a exposlçao dos mesmos, isto e em tempo real. O método utiliza o conceito de modulação residual em fotorresina e uma montagem holográfica estabilizada eletronicamente, desta maneira foi possível avaliar a perda de resolução do processo a partir do decréscimo no período do padrão holograf1co usado na exposlçao do filme. Este método dispensa o uso da revelação do material em estudo, o que não ocorre com os métodos convencionais / Abstract: We have studied periodic holographic patterns generation, its recording in photosensitive materials and lithography in semiconductor crystals. The periodic pattern was recorded in InP samples with .45mm pitch, that allowed to produce the first mono mode junction laser in the Country, emitting in 1.5mm. This device is widely used in long distance optical communications. We also have investigated the recording of the periodic corrugation in semiconductor (InP) using photoelectrochemical etching. In this method the recording is made directly in the substrate without photoresist is used as mask. Another experiment was made using a electronically stabilized holographic setup to make holographic gratings using photoresist layer in 100x100mm2 glass substrate the grating was recorded with 1200 l/mm. In this setup the wavefronts were collimated by two off-axis paraboloid mirrors. We also proposed a method to evaluate the resolution of the holographic exposure in positive photoresists / Doutorado / Física / Doutor em Ciências

Orientador: Sergio Moehlecke / Dissertação (mestrado) - Universidade Estadual de Campinas, Instituto de Fisica Gleb Wataghin / Made available in DSpace on 2018-07-14T02:53:33Z (GMT). No. of bitstreams: 1 Andrade_MarcioCalixtode_M.pdf: 6742037 bytes, checksum: 8c01808a57702311c1ef16a5d27ea459 (MD5) Previous issue date: 1987 / Resumo: Filmes finos de óxido de índio estanho (ITO) foram crescidos utilizando o método de 'sputtering R.F.¿ reativo. As propriedades ópticas e elétricas destes filmes mostraram-se fortemente dependentes da pressão parcial de oxigênio durante a deposição. Do estudo dessa dependência e também, das condições de crescimento dos filmes, obtivemos um novo material e processo para aplicação como memória óptica. O processo de gravação baseia-se na mudança local (provocada pela luz de um 'laser') do índice de refração do material (opaco ® transparente) sem a sua destruição. Como resultado foi obtido um material sensível a laser de semicondutor de baixas potências, uma alta razão sinal/ruído de leitura e estabilidade das marcas de gravação. Este material possui características equivalentes aos outros existentes na literatura, com as vantagens que um processo não destrutivo proporciona / Abstract: Indium tin oxide (ITO) thin films have been prepared by reactive r.f. sputtering. The optical and electrical properties of these films showed strong dependence with the oxygen partial pressure during deposition. From the study of this dependence and of films growth conditions, we obtained a new material and process for application as optical recording. The recording process Is based on the local change (caused by a laser light) of the refractive index of the material (opaque transparent) without Its destruction. As a result we have obtained a sensitive material to low power semiconductor lasers, a high signal noise ratio of reading and a good environmental stability. This material posses the same characteristics as the ones related in literature, with the advantage of the a non destructive process / Mestrado / Física / Mestre em Física

Orientador: Ramakant Srivastava / Dissertação (mestrado) - Universidade Estadual de Campinas, Instituto de Fisica Gleb Wataghin / Made available in DSpace on 2018-07-14T05:56:14Z (GMT). No. of bitstreams: 1 Campos_AntonioCarlosde_M.pdf: 2377472 bytes, checksum: cb337e73b4552457acba00d403692d3c (MD5) Previous issue date: 1984 / Resumo: Neste trabalho apresentamos estudos de caracterização de fibras monomodo e multimodo de índice gradual em região de 1.1 - 1.6 mm. O trabalho envolve a elaboração de uma montagem universal de grande versatilidade para dentre outras fazer medições de campo modal de fibras monomodo de perfil arbitrário, visando a obtenção dos parâmetros da fibra de índice degrau equivalente. Foi feita uma comparação entre três técnicas para extração desses parâmetros e uma nova técnica que oferece maior precisão foi proposta. Com este sistema fizemos também medidas de dispersão cromática em fibras monomodo e multimodo. Em fibra multimodo foi executada uma nova técnica para determinação da variação do comprimento de onda de dispersão material nula em função da concentração de germânio no núcleo. Finalizando, fizemos um estudo da possibilidade de se determinar a dispersão de guia de onda em fibras monomodo de perfil arbitrário, utilizando os parâmetros da fibra degrau equivalente / Abstract: In this work we present characterization studies of monomode and gradual index multimode fibers in 1.1 - 1.6 mm band. The work involves the elaboration of a universal set-up of great versatility for doing, among other things, the measurements of modal field of monomode fibers of arbitrary profile, trying to obtain the parameters of the equivalent step index fiber. A comparation was made among three different techniques for obtaining these parameters and a new technique that offers greater precision was proposed. With this system we also made measurements of chromatic dispersion in monomode and multimode fibers. In multimode fibers a new technique was used for determining the variation of the wavelength of zero material dispersion in function of the germanium concentration at the core. Finally, we also made a study of the possibility of determining the waveguides dispersion in monomode fibers of arbitrary profile, using the parameters of the equivalent / Mestrado / Física / Mestre em Física

Orientador: Nicolao Jannuzzi / Dissertação (mestrado) - Universidade Estadual de Campinas, Instituto de Fisica Gleb Wataghin / Made available in DSpace on 2018-07-16T20:54:39Z (GMT). No. of bitstreams: 1 FreitasFilho_JorgedoRego_M.pdf: 1183326 bytes, checksum: a98faca18806f183e9aee822c3dfc742 (MD5) Previous issue date: 1973 / Resumo: Não informado / Abstract: Not informed. / Mestrado / Física / Mestre em Física

Orientador: Jaime Frejlich / Dissertação (mestrado) - Universidade Estadual de Campinas, Instituto de Fisica Gleb Wataghin / Made available in DSpace on 2018-07-17T19:37:21Z (GMT). No. of bitstreams: 1 Pereira_MauroGibson_M.pdf: 1888706 bytes, checksum: 94ebc77d78a4910a5b4b6b2815c85ffe (MD5) Previous issue date: 1984 / Resumo: O objetivo deste trabalho é a seleção e o desenvolvimento de técnicas para preparação e caracterização óptica de filmes de fotorresina. A utilização de filmes fotossensíveis para o registro, processamento de imagens e fabricação de componentes, requer a fabricação de filmes numa ampla faixa de espessuras (décimos a dezenas de micra) que apresentem boa qualidade. Construímos uma máquina de imersão para testes experimentais e comparamos os resultados obtidos com esta técnica com aqueles obtidos na "máquina à rolo" e o "método de centrifugação" . A qualidade dos filmes fabricados por imersão é comparável aos obtidos com a centrífuga, mas muito melhor que usando o rolo. Quando comparados com a centrífuga, nosso processo de deposição demanda mais tempo mas permite a produção de filmes extremamente finos, depende menos das condições de limpeza e forma dos substratos, e gasta menos material. Desenvolvemos para este método uma curva de calibração geral o que deve facilitar muito o emprego desta técnica. Desenvolvemos uma modificação no esquema experimental do método de Abelès para determinação do índice de refração de filmes pouco absorventes sobre substratos transparentes. O método se aplica muito bem para filmes de índice muito maior do que do substrato e cuja medida é muito difícil por outras técnicas / Abstract: This work is concerned with the selection and development of techniques for fabrication and optical characterization of thin photoresist films. The use of these films for optical recording, image processing and component fabrication requires good quality films ranging from tenths up to tens of micrometers in thickness. We developed a machine for dip-coating and compared its performance with that of others such as the rolling machine, and the spinning-wheel method. The quality of the dip-coated films are comparable to those obtained with the spinning wheel and much better than those prepared with the rolling machine. As compared with the spinning-wheel, the dip-coating is more time consuming but allows to produce extremely thin films, it is less dependent upon the cleanliness and shape of substrates and wastes less photoresist.: A calibration curve was developed for the dip-coating process which may largely facilitate the practical use of this method. An implementation on the Abelès method was developed for measuring the refractive index of thin films coated on transparent substrate and using coherent light. This modification allows also measuring index of refraction much higher than that of the substrate, which is otherwise a complicate matter / Mestrado / Física / Mestre em Física

Orientador: Roberto Luzzi / Dissertação (mestrado) - Universidade Estadual de Campinas, Instituto de Fisica Gleb Wataghin / Made available in DSpace on 2018-07-16T07:32:26Z (GMT). No. of bitstreams: 1 Stein_AlziraCristinadeMello_M.pdf: 2300753 bytes, checksum: fb2fb711e015997d84b492cb74e520f0 (MD5) Previous issue date: 1977 / Resumo: Estudamos aqui a propagação de ondas eletromagnéticas em dielétricos absorventes. A teoria da propagação de energia pelo material se apresenta na forma de expressões simples obtidas para a velocidade de transporte de energia associada com a onda eletromagnética, a densidade de energia e o vetor de Poynting. A onda polaritônica é caracterizada pelo seu "conteúdo" de fonons e sua intensidade de campo elétrico através de duas funções bem definidas as quais mostram que a energia quantizada do poláriton é a soma das energias quantizadas do fônon e do fóton que o compõem. Um modelo de dois osciladores acoplados por um acoplamento tipo mola é usado para simular interações harmônicas e assim descrever o dielétrico absorvente. O efeito de um amortecimento fortemente dependente da frequência da radiação incidente, sobre o comportamento dielétrico do material e sobre suas propriedades óticas é mostrado pelo cálculo da constante dielétrica, do índice de refração do coeficiente de extinção, da resposta linear do sistema - a susceptibilidade mecânica e do coeficiente de absorção. Todos esses cálculos são realizados através de um tratamento matemático adequado com uma representação em coordenadas x(q); essas expressões obtidas para as quantidades acima citadas embora dependam do ângulo q são invariantes dando o mesmo valor para diferentes q / Abstract: Not informed. / Mestrado / Física / Mestre em Física

Orientador: Jaime Frejlich / Dissertação (mestrado) - Universidade Estadual de Campinas, Instituto de Fisica Gleb Wataghin / Made available in DSpace on 2018-07-17T19:48:11Z (GMT). No. of bitstreams: 1 Cescato_LucilaHelenaDeliesposte_M.pdf: 1597238 bytes, checksum: fdcc4e2ecbcf4a0041f0333fe9a9ef12 (MD5) Previous issue date: 1980 / Resumo: É estudado um processo de modulação de índice de refração numa fotorresina negativa comercial (KMR-747), utilizada convencionalmente como material de registro sob forma de modulação na espessura geométrica. Esta modulação de índice, que não necessita de revelação posterior, permite a utilização desta fotorresina como material de registro em tempo real, isto é, onde a observação da gravação pode ser feita simultaneamente ao registro; no modo de utilização usual isto não é possível, pois é exigida uma revelação química após a exposição luminosa. Foi feita a descrição da evolução temporal desta modulação de índice, e da influência de parâmetros como temperatura e freqüência espacial do sinal registrado na velocidade desta evolução. Para a execução dos objetivos acima, foram desenvolvidos sistemas para a produção de filmes, assim como para sua caracterização: determinação do índice de refração, coeficiente de absorção, espessura e homogeneidade; foi feita também uma montagem experimental, que nos permite medir variações menores que 10-3 mm no caminho óptico de um filme fino transparente / Abstract: We study an index of refraction modulation process in a commercial negative photoresist. Through this process, which need no chemical development, the photoresist can be used as a real time optical recording material. We describe the temporal evolution of the process and the influence of the temperature and the spatial frequency of the recorded signal on its velocity. For these purposes we have developed systems and methods to produce and characterize photoresist films. An experimental set-up, that allows the measurement of changes of less than 10-3 mm in the optical pathlengh of a thin transparent film, has been developed. / Mestrado / Física / Mestre em Física