La mesure de champs de température sans contact est un paramètre clé pour l'optimisation et le contrôle des procédés. Les systèmes actuels présentent des limitations, particulièrement sur des surfaces hétérogènes et/ou dans des conditions dynamiques pouvant entraîner une altération de la surface. Ces restrictions sont causées par la méconnaissance de l'émissivité de la surface qui est une fonction complexe de nombreuses grandeurs physiques (température, longueur d'onde, rugosité, direction de détection). La thèse présentée propose le développement complet d'une nouvelle méthode de mesure de champs de température vraie, dénommée THERMOREFLECTOMETRIE, applicable sur tout type de matériaux opaques, dans la gamme [300-1000]°C. Elle permet la mesure en ligne de l'émissivité par le couplage d'une étape classique de THERMOGRAPHIE avec une étape de REFLECTOMETRIE laser. La démarche adoptée consiste premièrement en l'analyse critique de la méthode et de ses facteurs d'influence, ainsi que du dimensionnement optimal des éléments par des études en simulations. Ensuite un prototype opérationnel est mis en oeuvre et ses défauts sont caractérisés, du point de vue d'un système de type CAMERA, et les corrections nécessaires sont mises en place. Enfin, les performances expérimentales sont évaluées sur des scènes thermiques complexes et hétérogènes qui mettent en évidence la bonne précision du prototype pour tous les échantillons testés / True temperature field measurement is a key parameter for the optimization and the control of industrial processes. Current systems present limitations, especially on heterogeneous surfaces and/or in dynamical conditions involving the surface's variation. These restrictions are due to the ignorance of the surface's emissivity, which is a complex function of many physical quantities (temperature, wavelength, roughness, direction of detection). This thesis presents the complete development of a new method of true temperature field measurement, called Thermoreflectometry, applicable on any kind of opaque material, in the range [300-1000]°C. It allows the on-line measurement of emissivity by mixing a step of classical THERMOGRAPHY with a step of laser REFLECTOMETRY. The approach of this work is, first, the critical analysis of the method and its influence quantities, and then the optimal dimensionment of the components by simulation studies. Thirdly, a prototype is built and its defaults are characterized, following a CAMERA-based point of view, and the possible corrections are implemented. Finally, the experimental performances are estimated on some complex heterogeneous thermal scenes which emphasize the prototype's precision for all the tested samples

L'auto-assemblage de polymères a été étudié afin d'élaborer des films multicouches possédant des propriétés conductrices. Dans un premier temps, l'influence de différents paramètres physico-chimiques (pH , force ionique, nature et charge des ions, concentrations en polymères...) sur la croissance de couche polymères isolants (PSS ou PDDA) / polymères conducteurs ( PEDOT : PSS ou P3HT-R) a été étudiée par des mesures in-situ de réflectométrie laser à angle fixe. La compréhension de ses paramètres a permis de contrôler l'assemblage des matériaux afin d'obtenir des films multicouches aux propriétés souhaitées ( épaisseur, morphologie, conductivité électrique...)les épaisseurs des films obtenus ont été déterminées par ellipsométrie ou profilométrie, la morphologie de la morphologie de la surface de ces films a été observé par MEB et leur conductivité a été mesurée par la méthode de van Pauw. Dans un second temps, des films multicouches polymères / particules composites ont été construits après avoir optimisé les conditions d'élaboration des particules composites Al2-PEDOT : PSSph ou SiO2-P3HT-R).Les films multicouches obtenus présentent des conductivités équivalentes à celles des films à base de polymères mais sont construits avec moins d'étapes d'adsorption. Enfin des couches multicouches à bases de deux polymères conducteurs (P3HT-R et PEDOT:PSS) ont été construits sur substrats souples. Ils présentent la plus haute conductivité mesurée (1,5 S.m-1) et conservent leurs propriétés électriques lorsqu'ils sont soumis à des contraintes mécaniques de flexion , ce qui est prometteur quant à leur utilisation dans le domaine de l'électronique déformable. / Self-assembly of polymers has been studied in order to produce multilayer films having conductive properties. First, the influence of various physicochemical parameters (pH, ionic strength, nature and charge of ions, polymer concentrations, etc.) on the growth of insulating polymer (PSS or PDDA) / conductive polymers (PEDOT : PSS or P3HT-R) was studied by in-situ measurements of fixed-angle laser reflectometry. The understanding of its parameters allowed to control the assembly of the materials in order to obtain multilayer films with the desired properties (thickness, morphology, electrical conductivity...) The thicknesses of the films obtained were determined by ellipsometry or profilometry, morphology Of the surface morphology of these films was observed by SEM and their conductivity was measured by the method of van Pauw. Second, polymer multilayer films / composite particles were built after optimizing the conditions for the production of the composite particles Al2-PEDOT: PSSph or SiO2-P3HT-R). The multilayer films obtained have conductivities equivalent to those of Films are based on polymers but are constructed with fewer adsorption steps. Finally, multilayer layers based on two conductive polymers (P3HT-R and PEDOT: PSS) were built on flexible substrates. They have the highest conductivity measured (1.5 Sm-1) and retain their electrical properties when subjected to mechanical bending stresses, which is promising for their use in the field of deformable electronics.