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Caracterização de fotodetetores para interferometria

Freschi, Agnaldo Aparecido 04 November 1992 (has links)
Orientador: Jaime Frejlich / Dissertação (mestrado) - Universidade Estadual de Campinas, Instituto de Fisica Gleb Wataghin / Made available in DSpace on 2018-07-18T20:22:47Z (GMT). No. of bitstreams: 1 Freschi_AgnaldoAparecido_M.pdf: 2643646 bytes, checksum: 3559e9210f04e781ce1058a6dbfd1062 (MD5) Previous issue date: 1992 / Resumo: A largura de banda e a faixa de linearidade são duas especificações fundamentais de um detetor. Neste trabalho, apresentamos um novo método para medida da resposta à freqüência de fotodetetores fundamentado em técnicas de velocimetria Doppler. A vibração da membrana de um alto falante comercial é utilizada em um interferômetro como fonte de um sinal óptico de freqüência variável. Freqüências na faixa de 0 a 300 kHz são produzidas, podendo ser facilmente estendidas à faixa de MHz. Para determinação da faixa de linearidade utilizamos um método já disponível na literatura, baseado em técnicas de detecção homodina. Um sinal óptico alternado de amplitude constante e baixa irradiância incide no detetor. A amplitude do sinal elétrico correspondente é medido em um amplificador lock-in cujo valor é proporcional à derivada da curva corrente-irradiância do detetor. Somando incoerentemente um feixe DC de maior irradiância alteramos o ponto de medida da derivada. Variando lentamente a irradiância do feixe DC determinamos de maneira fácil e precisa a faixa de linearidade do detetor. Aplicamos esses métodos para caracterização de fotodiodos de silício operados em diversas configurações eletrônicas / Abstract: Bandwidth and linearity are fundamental parameters in photodetectors behavior, and their knowledge is very important for most experiments in Optics. A new method for frequency response characterization is described in this work. This technique is based on Doppler velocimetry, where the vibration of a commercial loudspeaker in an interferometric setup is used as a variable frequency optical signal source. Frequencies in the 0 to 300kHz range are thus produced, which may be easily extended to the MHz range. For linearity response to intensity, an homodyne detection technique was employed. A constant amplitude low irradiance alternate optical signal is superimposed to a continuous light onto the detector, and the corresponding a.c. signal is measured using a phase-sensitive tuned lock-in amplifier. The measured signal represents the derivative of the detector response which may be measured from zero to the upper limit of interest by simply correspondingly varying the superimposed d.c. light onto the detector. The method is very sensitive and small variations in linearity may be detected. Both these methods are applied for the characterization of Si-photodiodes in different electronic arranges / Mestrado / Física / Mestre em Física
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Mistura de ondas para caracterização de redes em relevo e materiais fotossensíveis

Cordeiro, Cristiano Monteiro de Barros, 1973- 30 June 2003 (has links)
Orientador: Lucila Cescato / Tese (doutorado) - Universidade Estadual de Campinas, Instituto de Fisica Gleb Wataghin / Made available in DSpace on 2018-08-03T16:28:15Z (GMT). No. of bitstreams: 1 Cordeiro_CristianoMonteirodeBarros_D.pdf: 18297420 bytes, checksum: 6b5ccd6fb08ba91ae777a2b43ab4d319 (MD5) Previous issue date: 2003 / Resumo: Neste trabalho foi proposta e utilizada uma técnica, baseada na Mistura de Ondas, para a caracterização de redes de difração em relevo e para o estudo em tempo real de materiais fotossensíveis. Chamamos de mistura de onda ao fenômeno que ocorre quando um padrão de interferência é projetado sobre uma rede de difração de mesmo período. Nesta situação é gerada, em cada uma das direções dos feixes transmitidos, uma mistura ou interferência entre duas ondas difratadas pela rede. Esta mistura carrega informação tanto da amplitude e fases das ondas difratadas como da fase relativa entre o padrão de interferência e a rede. A análise detalhada destas fases possibilitou um melhor entendimento físico do problema e o desenvolvimento de aplicações. As técnicas desenvolvidas neste trabalho utilizam o processamento dos sinais de mistura de onda, nas duas direções das ondas transmitidas, aproveitando a simetria desta configuração. As características particulares desta técnica permitiram: (a) a realização da medida absoluta da diferença de fase entre duas ordens consecutivas de difração de redes em relevo e, (b) a separação das contribuições da modulação do índice de refração e do coeficiente de absorção que ocorrem em tempo real em materiais fotossensíveis / Abstract: In this work it is proposed and demonstrated the use of a wave mixing technique to characterize relief gratings and photosensitive materiais. The wave mixing occurs when an interference pattern is project onto a grating of the same period. In this situation, in each direction of the transmitted beams, it is generated a mixing between two waves diffracted by the grating. This interference carries out information about the amplitude and phase of the diffracted waves, and about the phase difference between the light pattern and the grating. The detailed analysis of these phases allows a better physical understanding of the problem and the developing of new applications. The technique developed in this work uses the processing of the wave mixing signals in both transmitted directions, taking advantage of the symmetry of the configuration. The unique characteristics of this technique permit: (a) to make the absolute phase difference measurements between two consecutive diffraction orders of relief gratings and, (b) to separate the contributions of the refractive index modulation and the absorption coefficient modulation that occurs in photosensitive materiais in real time / Doutorado / Física / Doutor em Ciências

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