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Estudo da deposi??o de filmes finos de BaTi(1-X)Zr(X)O3 por meio de planejamento Box-BehnkenMendes, Armando Monte 28 January 2015 (has links)
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Previous issue date: 2015-01-28 / Conselho Nacional de Desenvolvimento Cient?fico e Tecnol?gico (CNPq) / Coordena??o de Aperfei?oamento de Pessoal de N?vel Superior (CAPES) / Materiais cer?micos ferroel?tricos com estrutura perovskita (ABO3) s?o largamente utilizados em componentes de mem?ria no estado s?lido (FeRAM?s e DRAM?s) bem como em capacitores de m?ltiplas camadas, especialmente na forma de filmes finos. Quando dopados com ?ons de zirc?nio, materiais ? base de BaTiO3 formam uma solu??o s?lida conhecida como titanato zirconato de b?rio (BaTi1-xZrxO3). Tamb?m chamado de BZT, esse material pode sofrer significativas mudan?as em suas propriedades el?tricas diante de pequenas varia??es do teor de zirc?nio na rede cristalina. O presente trabalho consiste no estudo dos efeitos dos par?metros de deposi??o de filmes finos de BaTi0,75Zr0,25O3 pelo m?todo de spin-coating sobre sua morfologia e propriedades f?sicas, utilizando um planejamento experimental do tipo Box-Behnken. A resina utilizada no processo de deposi??o foi sintetizada pelo m?todo dos precursores polim?ricos (Pechini) e foi subsequentemente dividida em tr?s parcelas cada qual teve sua viscosidade ajustada para 10, 20 e 30 mPa?s por meio de um viscos?metro rotativo. As resinas foram depositadas em substratos de Pt/Ti/SiO2/Si pelo m?todo de spin-coating em 15 diferentes combina??es de viscosidade, velocidade de rota??o (3000, 5500 e 8000 rpm) e n?mero de camadas depositadas (5, 8 e 11 camadas) previstas no planejamento e ent?o calcinadas a 800?C por 1h. A fase cristalina dos filmes foi determinada por difra??o de Raios-X (DRX) e indexada com a carta JCPDS 36-0019. Morfologia da superf?cie e tamanho de gr?o foram observados por meio de microscopia de for?a at?mica (AFM) indicando filmes bem densificados e tamanho m?dio de gr?o em torno de 50nm. Imagens da se??o transversal dos filmes foram obtidas por interm?dio de microscopia eletr?nica de varredura com emiss?o de campo (MEV-FEG), indicando espessuras bem uniformes variando de 140-700 nm entre amostras. Medidas de capacit?ncia foram realizadas ? temperatura ambiente com a ajuda de um analisador de imped?ncia. Os filmes apresentaram valores de constante diel?trica de 49-277 a 100KHz e baixa perda diel?trica. O planejamento indicou efeitos n?o significativos das intera??es entre os par?metros de deposi??o sobre a espessura dos filmes. A metodologia de superf?cies de resposta possibilitou uma melhor observa??o dos efeitos das vari?veis. / Ferroelectric ceramics with perovskite structure (ABO3) are widely used in solid state
memories (FeRAM?s and DRAM's) as well as multilayered capacitors, especially as a thin
films. When doped with zirconium ions, BaTiO3-based materials form a solid solution known
as barium zirconate titanate (BaTi1-xZrxO3). Also called BZT, this material can undergo
significant changes in their electrical properties for a small variation of zirconium content in
the crystal lattice. The present work is the study of the effects of deposition parameters of
BaTi0,75Zr0,25O3 thin films by spin-coating method on their morphology and physical
properties, through an experimental design of the Box-Behnken type. The resin used in the
process has been synthesized by the polymeric precursor method (Pechini) and subsequently
split into three portions each of which has its viscosity adjusted to 10, 20 and 30 mPa?s by
means of a rotary viscometer. The resins were then deposited on Pt/Ti/SiO2/Si substrates by
spin-coating method on 15 different combinations of viscosity, spin speed (3000, 5500 and
8000 rpm) and the number of deposited layers (5, 8 and 11 layers) and then calcined at 800 ?
C for 1 h. The phase composition of the films was analyzed by X-ray diffraction (XRD) and
indexed with the JCPDS 36-0019. Surface morphology and grain size were observed by
atomic force microscopy (AFM) indicating uniform films and average grain size around 40
nm. Images of the cross section of the films were obtained by scanning electron microscopy
field emission (SEM-FEG), indicating very uniform thicknesses ranging from 140-700 nm
between samples. Capacitance measurements were performed at room temperature using an
impedance analyzer. The films presented dielectric constant values of 55-305 at 100kHz and
low dielectric loss. The design indicated no significant interaction effects between the
deposition parameters on the thickness of the films. The response surface methodology
enabled better observes the simultaneous effect of variables.
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Estudo de propriedades el?tricas em compostos de BarioSales, F?bio Henrique Silva 12 September 1997 (has links)
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Previous issue date: 1997-09-12 / Este trabalho tem como objetivo estudar a influ?ncia da adi??o de diversos aditivos tais como ?xido de sil?cio (SiO2), ?xido de bismuto (BiO2), ?xido de c?rio (CeO2) e ?xido de lant?nio (La2O3) nas propriedades el?tricas e diel?tricas do titanato de b?rio (BaTiO3) policristalino. As amostras de titanato de b?rio foram compactadas e sinterizadas no Laborat?rio de Tecnologia dos P?s, do Departamento de F?sica da Universidade Federal do Rio Grande do Norte.
Foram realizadas medidas de resistividade el?trica e constante diel?trica em fun??o da temperatura, bem como ensaios de difra??o de raios-X e an?lise microestrutural atrav?s da microscopia eletr?nica de varredura. A an?lise dos resultados permitiu avaliar a influ?ncia dos aditivos nas propriedades el?tricas e diel?tricas, e propor a utiliza??o de cer?micas eletr?nicas a base de titanato de b?rio com propriedades superiores as do material existente atualmente
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Obten??o e caracteriza??o f?sico-qu?mica de blendas polim?ricas, baseadas em POE e PMMA, dopadas com di?xido de tit?nioLima, Elias Janu?rio de 28 May 2013 (has links)
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Previous issue date: 2013-05-28 / Coordena??o de Aperfei?oamento de Pessoal de N?vel Superior / The study of polymer blends has been an alternative method in the search field of new
materials for obtaining materials with improved properties. In this work blends of
poly(methyl methacrylate) (PMMA) and poly(ethylene oxide) (PEO) doped with titanium
dioxide (TiO2) were studied. The PEO is a polymer semicrystalline structure varying between,
70 and 84% crystallinity, while the PMMA exhibits behavior amorphous in their structure.
The use of TiO2 is related to corrosion-resistant of titanium as well as good heat transfer and
other characteristics. The study of these polymer blends doped TiO2 gives the properties
junction organic (polymer) and inorganic (oxide) which leads to modification of the
properties of the resultant material. The blends were doped TiO2 (POE/PMMA/TiO2) in
different proportions of the PMMA with the PEO and TiO2 fixed. The ratios were: 90/10/0,1;
85/15/0, 1; 80/20/0,1, 75/25/0,1 and 70/30/0,1. The resulting material was obtained in powder
form and being characterized by Fourier Transformed Infrared (FTIR) Spectroscopy,
Scanning Electron Microscopy (SEM), X-Ray Diffraction (XRD), Thermogravimetric
Analysis (TGA) and Electrochemical Impedance Spectroscopy (EIS). The infrared spectra
(IR) for the blends in different ratios showed a band at 1744 cm-1, characteristic of the C=O
stretching, which increases in intensity with increasing PMMA composition, while in the
spectrum of pure PEO this band is absent. This may suggest that the interaction is occurring
between the polymers. In the micrographs of the blends also observed change in their surfaces
with variation of the composition of PMMA, contributing to the change of the electrical
properties of the material. The EIS data showed that the material exhibited conductivity of the
order of 10-6 S.cm-1. The blend in the ratio B2(85/15/0, 1) showed better conductivity, σ =
1.56 x 10-6 S.cm-1. It was observed that the diffusion coefficient for the blends, B5(70/30/0, 1)
was the largest, 1.07 x 10-6 m2.s-1. The XRD data showing that, with the variation in the
composition of the PMMA blend crystallinity of the material is decreased reaching a
minimum B3(80/20/0,1), and then increases again. Thermal analysis suggests that blends
made from the material obtained can be applied at room temperature / O estudo de blendas polim?ricas tem sido um m?todo alternativo no campo de
pesquisa de novos materiais para obten??o de materiais com melhores propriedades. Neste
trabalho blendas de poli(metacrilato de metila) (PMMA) e poli(?xido de etileno) (POE)
dopadas com di?xido de tit?nio (TiO2) foram estudadas. O POE ? um pol?mero de estrutura
semicristalina com varia??o entre, 70 e 84% de cristalinidade, enquanto o PMMA apresenta
comportamento amorfo em sua estrutura. O uso do TiO2 est? relacionado ? alta resist?ncia a
corros?o do tit?nio, assim como a boa transfer?ncia de calor, al?m de outras caracter?sticas.
Uma das suas aplica??es ? a fotocat?lise. O estudo destas blendas polim?ricas dopadas com
TiO2 proporciona a jun??o das propriedades org?nica (pol?meros) e inorg?nica (?xido), o que
leva a modifica??o das propriedades do material resultante. As blendas foram dopadas com
TiO2 (POE/PMMA/TiO2) em diferentes propor??es do POE e PMMA com o TiO2 fixo. As
propor??es foram: 90/10/0,1; 85/15/0,1; 80/20/0,1; 75/25/0,1 e 70/30/0,1. O material
resultante obtido foi em forma de p? sendo caracterizado por Espectroscopia de
Infravermelho por Transformada de Fourier (FTIR), Microscopia de Varredura Eletr?nica
(MEV), Difra??o de Raios X (DRX), Termogravimetria (TG/DTG) e Espectroscopia de
Imped?ncia Eletroqu?mica (EIE). Os espectros de infravermelho (IV) para as blendas em
diferentes propor??es apresentaram uma banda em 1744 cm-1, caracter?stica do estiramento
C=O, que aumenta de intensidade com o aumento da composi??o do PMMA, enquanto no
espectro do POE puro esta banda est? ausente. Isto pode sugerir que est? ocorrendo ?
intera??o entre os pol?meros. Nas micrografias das blendas, tamb?m, observa-se mudan?a em
suas superf?cies com a varia??o da composi??o do PMMA o que pode contribuir na mudan?a
das propriedades el?tricas do material. Os dados de EIE mostraram que o material apresentou
condutividade da ordem de 10-6 S.cm-1. A blenda na propor??o B2(85/15/0,1) apresentou
melhor condutividade, σ = 1,56 x 10-6 S.cm-1. Observou-se que o coeficiente de difus?o para
as blendas, a B5(70/30/0,1) foi o maior, 1,07 x 10-6 m2.s-1. Os dados de DRX mostram que,
com a varia??o na composi??o de PMMA na blenda a cristalinidade do material vai
diminuindo atingindo um m?nimo em B3(80/20/0,1) e, ent?o, volta a aumentar. An?lise
t?rmica realizada das blendas sugere que o material obtido pode ser aplicado em temperatura
ambiente
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