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Cálculo de blindagem para instalações de radioterapia por raios X com auxílio de computadorPedrosa, Paulo Sergio, Instituto de Engenharia Nuclear 02 1900 (has links)
Submitted by Marcele Costal de Castro (costalcastro@gmail.com) on 2017-09-11T18:19:56Z
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Previous issue date: 2004-02 / Este trabalho apresenta uma metodologia para cálculos de blindagem de raios X em instalações de radioterapia com auxílio de computador. O trabalho consistiu no desenvolvimento de um programa amigável em Delphi, que através da entrada manual de dados de um projeto básico de arquitetura e de alguns parâmetros (como carga de trabalho, tensão máxima do equipamento e outros), interpreta a geometria e calcula as blindagens das paredes, chão e teto de uma instalação de radioterapia por raios X. Como produto final, este programa fornece uma tela gráfica do computador com todos os dados de entrada e o cálculo das blindagens, além a respectiva memória de cálculo . O programa verificou-se ser amigável, rápido e com resultados confiáveis, podendo ser aplicado na execução prática de projetos de blindagem de instalações de radioterapia por raios X.
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Avaliação do controle de qualidade e proteção radiologica na cidade do Rio de JaneiroSpyrides, Kyria Spyro 09 May 2002 (has links)
Orientador: Frab Norberto Boscolo / Tese (doutorado) - Universidade Estadual de Campinas, Faculdade de Odontologia de Piracicaba / Made available in DSpace on 2018-08-02T16:16:43Z (GMT). No. of bitstreams: 1
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Previous issue date: 2002 / Resumo: A radiografia periapical desempenha papel relevante na prática clínica, devido a sua reconhecida importância no diagnóstico. Porém, para oferecer uma boa qualidade de imagem é necessário um criterioso respeito às etapas de sua aquisição. Tal condição está, também, associada à proteção radiológica do profissional e do paciente. Com o objetivo de avaliar o conhecimento dos profissionais da cidade do Rio de Janeiro, no que diz respeito aos fatores relacionados a aquisição das radiografias periapicais em seus consultórios, e o funcionamento dos aparelhos de raios-X. Inicialmente, elaborou-se um questionário abordando-se aspectos fundamentais para a obtenção de uma radiografia periapical. Posteriormente, foi realizada a verificação dos aparelhos de raios-X por meio de uma série de procedimentos e medições que fazem parte dos testes de constância, previstos pelo programa de garantia de qualidade. Participaram desta pesquisa 200 cirurgiões-dentistas de diversas especialidades. Dentre os resultados obtidos, verificou-se algumas respostas satisfatórias; vários aspectos merecem registro, como a grande variação em relação ao tempo de exposição utilizado, a preferência na realização do processamento pelo método visual, o acionamento dos raios-X pelo botão de retardo, a falta de exatidão nos timers e a variação de valores efetivos na quilovoltagem. Tais resultados destacaram-se por estarem em desacordo com a legislação vigente que regulamentam a proteção radiológica (Portaria 453 Secretaria de Vigilância Sanitária - Ministério da Saúde). Com base nos resultados obtidos verificou-se a pouca informação dos profissionais em relação às normas preconizadas para a realização das radiografias odontológicas e que, no geral, os aparelhos de raios-X odontológicos não se encontram dentro dos padrões aceitáveis de funcionamento / Abstract: Periapical radiography is a relevant instrument in clinical practice due to its recognized importance in diagnosis. However, in order to offer a good quality image, a judicious respect is required for the stages in obtaining it. This condition is also associated with radiological protection of the professional and the patient.With the aim of evaluating the knowledge of professionals in the city of Rio de Janeiro with regard to performing periapical radiography in their office and how X-ray apparatus works, a questionnaire was initially drawn up, covering fundamental aspects for obtaining a periapical radiography. Afterwards, a check was made on X-ray apparatuses be a series of procedures and measurements that form part of the consistency tests foreseen in the qualíty guarantee programo Two hundred (200) dental surgeons, in various specializations, participated in this research. Among the results obtained, some satisfactory replies were found; many aspects are worthy of recording, like the wide range of exposure time used, the preference for carrying out processing by the visual method, the activation of X-rays by means of the retard button, the lack of accuracy of the timers and the range of effective values in Kilovolts. These results were noteworthy due to being in disagreement with the technical standards in force that regulate radiological protection (Administrative Ruling 453 Secretary for Sanitary Control - Ministry of Health). Based on the results obtained it was found that professionals were poorly informed with regard to the preconized standards for carrying our odontological radiography and that X-ray apparatuses are within the acceptable working standards / Doutorado / Doutor em Radiologia Odontológica
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Estudo das variações siderais da radiação cósmicaManganote, Edmilson José Tonelli, 1962- 23 July 1991 (has links)
Orientador: Armando Turtelli Junior / Tese (doutorado) - Universidade Estadual de Campinas, Instituto de Fisica Gleb Wataghin / Made available in DSpace on 2018-07-14T00:26:39Z (GMT). No. of bitstreams: 1
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Previous issue date: 1991 / Resumo: Os principais objetivos deste trabalho são o estudo das variações siderais da radiação cósmica e a procura de fontes gama de energia acima de 100TeV. A primeira parte foi feita utilizando-se dados coletados pelo detetor de Chacaltaya entre agosto de 1982 e julho de 1984 e a segunda parte com dados do mesmo detetor entre agosto de 1987 e agosto de 1988. Os resultados obtidos na primeira parte deste trabalho reforçam a existência de uma anisotropia sidera na faixa e energia de 1012 - 1014 eV. Para a procura de fontes gama, nenhum sinal estatisticamente significativo foi observado / Abstract: The major aims of this work are the study of the sidereal variations of cosmic radiation and search for gamma ray sources of ultra high energy in the south hemisphere. The first part was made using data recorded by the Chacaltaya detector between august/1982 and july/1984. The second one used recorded data by the same experiment, but in the period between august/1987 and august/1988. The obtained results on the first part reinforced the existence of a cosmic ray anisotropy in the energy interval of 1012 ¿ 1014 eV. In the search of gamma sources no statistically significant signal was found / Doutorado / Física / Doutor em Ciências
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Observação direta e estudo da difração bragg paralela à superfície de monocristaisSanjurjo, Neusa Lopes 04 November 1991 (has links)
Orientador: Cicero Campos / Tese (doutorado) - Universidade Estadual de Campinas, Instituto de Fisica Gleb Wataghin / Made available in DSpace on 2018-07-14T01:02:21Z (GMT). No. of bitstreams: 1
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Previous issue date: 1991 / Resumo: Neste trabalho foi desenvolvida uma nova geometria de espalhamento que permite a observação direta do feixe de raios-X, difratado paralelamente a superfície do cristal. Esta geometria é uma modificação da geometria usual de Renninger para a produção sistemática da difração múltipla. Enquanto que na geometria de Renninger o plano de incidência primário coincide com o plano do difratômetro, na geometria proposta, é o plano de incidência secundário que fica no plano do difratômetro.
O estudo geométrico feito no espaço reciproco, para a ocorrência da difração paralela à superfície, fornece a regra de seleção para os índices de Miller, em cristais cúbicos, nas seguintes orientações da superfície de corte: [100], [110], e [111].
Para o estudo da distribuição de intensidade foram selecionados dois cristais de silício livre de deslocações, Si [100] e Si [111], com cerca de 1 cm de diâmetro na superfície. Foram realizadas experiências de secção topográfica para o feixe difratado paralelamente a superfície, em amostras com valores de mt » 7, usando a radiação de MoKa .
Três casos de difração paralela à superfície foram examinados neste estudo. A amostra de Si [111] foi utilizada para o estudo das difrações: simples 000 113, e múltipla de três feixes 000 222 113. A de Si [100], foi utilizada para o estudo da difração múltipla de quatro feixes 000 400 220 220. Em todos os casos examinados, foi observado um reforço da intensidade, na região superficial do feixe difratado. Nessas topografias pode-se observar claramente distribuição de intensidade, proveniente da região abaixo da superfície.
É apresentado uma breve discussão sobre o novo efeito Borrmann múltiplo, paralelo à superfície do cristal. Este efeito pode ser comparado com o seu similar, que ocorre na direção perpendicular a superfície de entrada [0-40].
Para explicar o reforço na intensidade que ocorre proveniente da região superficial da amostra, foram feitos cálculos para: coeficiente de absorção, campo de onda e perfil de intensidade. Estes cálculos utilizaram a formulação de Laue para a teoria dinâmica da difração dos raios-X, desenvolvida por Ewald [00-1], e aplicada para a difração simples no caso Laue simétrico e na difração simples paralela à superfície. Foi estudado o cristal de silício com radiação MoKa . Estes resultados concordam com a existência do reforço na intensidade, advindas da região superficial. Este último efeito tem a mesma explicação que o reforço apresentado na região dos extremos do leque de Borrmann, para cristais finos, no caso da transmissão Laue simétrica [0-27].
Foi obtido um alto valor da intensidade em amostras de InP [001], para a reflexão 062 utilizando radiação Cuka , e para a reflexão 462 com radiação MoKa . Como é esperado, foi medido o mesmo valor da intensidade nas quatro posições equivalentes, para este eixo de simetria quaternário, e difração múltipla de três feixes 000 004 062. Não é do nosso conhecimento o registro na literatura, da existência de intensidade transmitida para grandes valores da espessura, mt > 200, como foi conseguido neste trabalho. Foram feitas secções topográficas nas mesmas condições anteriores, para várias amostras de InP e para InP com camadas epitaxiais. Foram encontrados resultados interessantes para amostra tencionada e também para amostra com camada fina / Abstract: In this work a new scattering geometry is developed to allow for direct observation of the X-ray beam, diffracted parallel to the crystal surface. It is a modification of the usual Renninger geometry, for systematic multiple diffraction occurrence. While in Renninger geometry the primary incidence plane lies on the diffractometer plane in the proposed geometry, the secondary incidence one is made parallel to the diffractometer plane, instead.
The geometric study in reciprocal space for occurrence of surface parallel diffraction, provides the Miller indices selection, for [100], [110] and [111] surface orientation, in cubic crystals.
For intensity distribution purposes, it was selected two dislocation free Silicon crystals, Si [111] and Si [100], with about 1 cm of surface diameter. Topographic section experiments were obtained, for the parallel surface diffracted beam using values of mt » 7, with MoKa radiation.
Three surface parallel diffraction cases were examined in this study, Si [111] simple diffraction 000 113, Si [111] three beam multiple diffraction 000 222 113 and Si [100] four beam multiple diffraction 000 400 220 220. An intensity enhancement for the beam, coming from the sample surface region, was found in all cases. On these topographies one can clearly observe the intensity distribution of the underneath portion of the beam.
A brief discussion is made on the new multiple Borrmann effect, parallel to the crystal surface. This effect can be compared with the one occurring perpendicularly to the surface for the same crystal and same multiple diffraction case [0-40].
In order to explain the intensity enhancement at the crystal surface, calculations of absorption coefficient, wave field and intensity profile, using Laue formulation of Ewald dynamical theory [00-1] were made. This development was applied to simple diffraction case, in Laue symmetric and surface parallel diffraction, using Silicon and MoKa radiation. The results are able to account for the existence of the surface enhancement, and bears the same explanation as the one presented by thin crystals Laue symmetric diffraction [0-27], at the extremes of Borrmann fan.
Strong beam intensity was found for 462 reflection in InP [001] samples, using MoKa radiation. The same was obtained for 062 reflection in InP [001] samples using CuKa radiation, for value6 of mt > 200. The 4-fold equivalent crystal settings, in case of the three beam multiple diffraction 000 004 062, provided the expected equal intensities. The existence of intensities for such very high crystal thicknesses has not been reported in the literature yet. Topographic sections were obtained with same conditions for several InP [001] samples and for InP layered material. Striking results were found for crystal under stress and also thin layers / Doutorado / Física / Doutor em Ciências
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Um estudo do comportamento das componentes hadrônicas da radiação cósmica na atmosfera em altas energiasBrunetto, Sérgio Querino, 1955- 05 March 1990 (has links)
Orientador: Jose Bellandi Filho / Tese (doutorado) - Universidade Estadual de Campinas, Instituto de Fisica Gleb Wataghin / Made available in DSpace on 2018-07-14T01:06:01Z (GMT). No. of bitstreams: 1
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Previous issue date: 1990 / Resumo: Estuda-se o comportamento das componentes hadrônicas da radiação cósmica na atmosfera, assumindo-se que a seção de choque inelástica hádron-ar depende da energia de interação. Resolve-se as equações de difusão unidimensionais usando-se o modelo de partícula líder e o método de ordenação de operadores exponenciais de Feynman. Compara-se as soluções obtidas com os dados de fluxo hadrônico medidos em diferentes profundidades atmosféricas / Abstract: We analyze the behavior of the hadronic cosmic-ray components in the atmosphere, assuming that the inelastic hadron-air cross section depends on the interaction energy. We solve the one-dimensional diffusion equations using the leading particle model and a Feynman-like procedure of ordered exponential operators. We compare our solutions with experimental data for hadronic flux at different atmospheric depths / Doutorado / Física / Doutor em Ciências
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Simulação de difração múltipla de raios-X e aplicaçõesCosta, Conceição Aparecida Braga Salles da 20 December 1989 (has links)
Orientador: Lisandro Pavie Cardoso / Dissertação (mestrado) - Universidade Estadual de Campinas, Instituto de Fisica Gleb Wataghin / Made available in DSpace on 2018-07-14T01:04:49Z (GMT). No. of bitstreams: 1
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Previous issue date: 1989 / Resumo: No presente trabalho, foi implementado um programa (MULTX) que é utilizado para simular diagramas de difração múltipla de raios-X em geometria de Renninger. Neste programa, a teoria de difração múltipla de raios-X para cristais imperfeitos é utilizada. O cálculo interativo das intensidade está baseado no termo geral da série de Taylor, cuja expansão da potência do feixe primário aparece em função da penetração x do feixe no cristal a partir da sua superfície. Este desenvolvimento permite considerar a interação simultânea dos muito feixes envolvidos no fenômeno de difração múltipla.
Os diagramas simulados são calculados ponto a ponto e os testes para o Si e o GaAs apresentaram reproduções muito boas dos diagramas experimentais para diferentes reflexões primárias. O programa MULTX permitiu também uma primeira análise da influência de alguns fatores como polarização, largura mosaico e comprimento médio dos feixes difratados, nas intensidades multiplamente difratadas.
Como uma primeira aplicação prática do programa de simulação de difração múltipla de raios-X, foi estudada uma camada epitaxial de GaAs crescida por Epitaxia Química em Vácuo (VCE) sobre substrato de Si. A concordância obtida é muito boa, desde que o cálculo dos comprimentos médios dos feixes difratados pela camada considere a grande redução da espessura / Abstract: Not informed. / Mestrado / Física / Mestre em Física
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Avaliação do comportamento das fases estacionarias DC-200 e DC-QF-1 sobre chromosorb W sinalizado submetidas a radiação gamaFacchin, Ileana 14 July 2018 (has links)
Orientador : Carol Hollingworth Collins / Dissertação (mestrado) - Universidade Estadual de Campinas, Instituto de Quimica / Made available in DSpace on 2018-07-14T01:30:26Z (GMT). No. of bitstreams: 1
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Previous issue date: 1990 / Mestrado
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Condições de contorno e efeitos dinâmicos na difração múltipla dos raios-XCampos, Cícero, 1948- 13 July 1984 (has links)
Orientador: Shih-Lin Chang / Tese (doutorado) - Universidade Estadual de Campinas, Instituto de Fisica Gleb Wataghin / Made available in DSpace on 2018-07-14T05:53:17Z (GMT). No. of bitstreams: 1
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Previous issue date: 1984 / Resumo: Com base na formulação de Laue para a teoria dinâmica, este trabalho contém um estudo da propagação dos raios-x no meio cristalino. Estão analisados; o efeito das condições de contorno na superfície de incidência do feixe da amostra, e o efeito que a espessura das amostras tem sobre a distribuição da intensidade transmitida. Para o estudo das condições de contorno foram selecionadas a reflexão (220) e radiação de Moka para um cristal de silício. Foi analisado o caso em que a superfície de entrada da amostra e composta de dois planos oblíquos.
Para o estudo do efeito da espessura sobre a distribuição das intensidades, foram selecionados os casos (000) (111) (111) de três feixes, (000) (220) (400) (220) de quatro feixes, ambos para o silício e radiação Moka , e o caso de seis feixes (000) (220) (242) (044) (224) (202) para o germânio e radiação de Cuka.
No tratamento teórico do problema utilizou-se o programa de calculo baseado no desenvolvido por Chang (56) e Huang (58). Foram implementados os cálculos do vetor de Poynting e o da intensidade resultante. Alem destas modificações, foi introduzido um ângulo de corte arbitrário para a superfície de entrada e para a superfície de saída da amostra.
Como resultado, obteve-se um novo interferômetro para os raios-x e verificou-se que as experiências de seção, para as amostras com espessura media m t = 2, podem contribuir para a explicação da transmissão Borrmann múltipla / Abstract: Not informed. / Doutorado / Física / Doutor em Ciências
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Difração múltipla de raios-X no estudo de impurezas em cristaisCardoso, Lisandro Pavie, 1950- 24 July 1983 (has links)
Orientador: Stephenson Caticha-Ellis / Tese (doutorado) - Universidade Estadual de Campinas, Instituto de Fisica Gleb Wataghin / Made available in DSpace on 2018-07-14T06:59:54Z (GMT). No. of bitstreams: 1
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Previous issue date: 1983 / Resumo: Neste trabalho é utilizada a técnica de difração múltipla de raios-X no estudo da concentração e localização de impurezas na rede cristalina, acrescida da observação fundamental de que as impurezas não podem estar distribuídas com a mesma simetria do grupo espacial do cristal. Isto em princípio, poderia fazer aparecer intensidade espalhada nos nós proibidos da rede recíproca do cristal. Esse efeito foi efetivamente observado em diagramas de difração múltipla, onde através da escolha adequada das reflexões envolvidas, produz-se um reforço na intensidade espalhada nas posições proibidas para o cristal puro, porém observáveis no dopado.
Foi desenvolvida a teoria das refletividades no caso cinemático que leva em conta o espalhamento pelos átomos de impurezas, cuja análise mostrou, em primeira aproximação, que a influência das impurezas pode se dar tanto nas posições permitidas para o cristal puro quanto nas proibidas, sendo que nas primeiras pode-se em princípio, obter informação sobre a posição e nas últimas, sobre a concentração das mesmas.
A aplicação dessa teoria no caso da difração múltipla de raios-x forneceu subsídios para a escolha das posições de medida (reflexões múltiplas). Seu estudo analítico feito em aproximações de segunda e terceira ordens, resultou na escolha de casos de três feixes tipo Bragg-Bragg com ambas reflexões proibidas com acoplamento forte o caso mais favorável para o estudo da concentração. Ambos os casos Bragg-Bragg e Bragg~Laue, com reflexão secundária permitida são adequados ao estudo da localização das impurezas. Porém a sensibilidade varia muito segundo as reflexões envolvidas.
Além disso, também é apresentada nesse trabalho, uma nova contribuição ao uso da difração múltipla com a escolha de um vetor primário proibido e sem simetria, o que produz várias vantagens, entre elas: discriminação por observação direta dos chamados pares de Bijvoet, desacoplamento dos casos de quatro feixes simultâneos transformando-os em casos de três feixes, uma indexação em forma absoluta usando apenas um espelho de simetria em diagramas de difração múltipla, assim como a possibilidade de se medir numa ou duas experiências a maior parte dos fatores de estrutura já corrigidos por absorção, Lorentz, polarização e extinção, fornecendo assim um método novo para medidas destinadas à resolução de estruturas.
Sendo que a maior dificuldade experimental reside em que é necessário medir intensidades extremamente fracas, é preciso usar fontes geradoras de raios-X de alta potência.
As experiências foram realizadas com um Rotaflex (ânodo rotatório) com alvo de Cu, no qual foram feitas várias adaptações para permitir as medidas pretendidas. Contudo a fonte aconselhável para esta experiência seria um síncroton. As amostras utilizadas foram placas cristalinas de Si puro e dopadas com Au e Sb, cortadas na direção [111] e também rutilo (TiO2) cortado na direção [201] proibida pelo grupo espacial e sem simetria especial, para usar a nova técnica de desacoplamento.
Os resultados experimentais foram analisados através dos gráficos da relação R=[(sinal/ruído)dop]/[(sinal/ruído)puro] em função a concentração atômica (Au e Sb) para diferentes posições desses átomos na rede do Si. O fato importante a ser ressaltado é que a cada tipo de posição corresponde uma curva diferente no intervalo de concentrações possíveis, o que possibilita a sua discriminação. No caso do rutilo são mostrados diagramas de difração múltipla mostrando claramente o efeito de desacoplamento e indexação absoluta / Abstract: Not informed. / Doutorado / Física / Doutor em Ciências
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Observações sobre os momentos transversais dos pions neutros e dos raios gamas do estado intermediário de massa ~3 GeV/c2 (mirim) na produção múltipla de mésonsFauth, Anderson Campos, 1957- 27 January 1986 (has links)
Orientador: Kotaro Sawayanagi / Dissertação (mestrado) - Universidade Estadual de Campinas, Instituto de Fisica Gleb Wataghin / Made available in DSpace on 2018-07-14T09:50:43Z (GMT). No. of bitstreams: 1
Fauth_AndersonCampos_M.pdf: 1371288 bytes, checksum: 06e1353fb3e94790d264614367376eda (MD5)
Previous issue date: 1986 / Resumo:É obtida a distribuição de momento transversal dos pions neutros de 32 C-jatos Mirins com SEg > 20 TeV através de dois métodos de acoplamento 2g ® pº. Estes resultados independem de qualquer modelo de produção de partículas. Realiza-se uma simulação, pelo método de Monte Carlo, da produção de pions e avalia-se que os dois métodos conseguem obter em média aproximadamente 50% de acoplamentos corretos. Constata-se que a forma da distribuição dos pions neutros depende fracamente da porcentagem de acoplamentos corretos. A distribuição de momento transversal dos pions neutros dos eventos Mirins é obtida por uma terceira maneira, a qual é completamente independente das duas primeiras, que consiste da composição entre uma solução analítica e o método de Monte Carlo. Os resultados dos três métodos são consistentes entre si / Abstract: Not informed. / Mestrado / Física / Mestre em Física
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