Submitted by Johnny Rodrigues (johnnyrodrigues@ufcg.edu.br) on 2018-11-07T17:16:29Z No. of bitstreams: 1 GEORGE SOBRAL SILVEIRA - TESE PPGEE 2012..pdf: 4756019 bytes, checksum: 743307d8794218c3a447296994c05332 (MD5) / Made available in DSpace on 2018-11-07T17:16:29Z (GMT). No. of bitstreams: 1 GEORGE SOBRAL SILVEIRA - TESE PPGEE 2012..pdf: 4756019 bytes, checksum: 743307d8794218c3a447296994c05332 (MD5) Previous issue date: 2012-08-10 / Capes / A indústria de semicondutores tem investido fortemente no desenvolvimento de sistemas complexos em um único chip, conhecidos como SoC (System-on-Chip). Com os diversos recursos adicionados ao SoC, ocorreu o aumento da complexidade no fluxo de desenvolvimento, principalmente no processo de verificação e um aumento do seu consumo energético. Entretanto, nos últimos anos, aumentou a preocupação com a energia consumida por dispositivos eletrônicos. Dentre as diversas técnicas utilizadas para reduzir o consumo de energia, Power Gating tem se destacado pela sua eficiência. Ultimamente, o processo de verificação dessa técnica vem sendo executado no nível de abstração RTL (Register TransferLevel), com base nas tecnologias CPF (Common Power Format) e UPF (Unified Power Format). De acordo com a literatura, as tecnologias que oferecem suporte a CPF e UPF, e baseadas em simulações, limitam a verificação até o nível de abstração RTL. Nesse nível, a técnica de Power Gating proporciona um considerável aumento na complexidade do processo de verificação dos atuais SoC. Diante desse cenário, o objetivo deste trabalho consiste em uma abordagem metodológica para a verificação funcional no nível ESL (Electronic System-Level) e RTL de circuitos digitais que empregam a técnica de Power Gating, utilizando uma versão modificada do simulador OSCI (Open SystemC Initiative). Foram realizados quatro estudos de caso e os resultados demonstraram a eficácia da solução proposta. / The semiconductor industry has strongly invested in the development of complex systems on a single chip, known as System-on-Chip (SoC), which are extensively used in portable devices. With the many features added to SoC, there has been an increase of complexity in the development flow, especially in the verification process, and an increase in SoC power consumption. However, in recent years, the concern about power consumption of electronic devices, has increased. Among the different techniques to reduce power consumption, Power Gating has been highlighted for its efficiency. Lately, the verification process of this technique has been executed in Register Transfer-Level (RTL) abstraction, based on Common Power Format (CPF) and Unified Power Format (UPF) . The simulators which support CPF and UPF limit the verification to RTL level or below. At this level, Power Gating accounts for a considerable increase in complexity of the SoC verification process. Given this scenario, the objective of this work consists of an approach to perform the functional verification of digital circuits containing the Power Gating technique at the Electronic System Level (ESL) and at the Register Transfer Level (RTL), using a modified Open SystemC Initiative (OSCI) simulator. Four case studies were performed and the results demonstrated the effectiveness of the proposed solution.