Magistro darbe analizuojamas funkcinio testo sudarymas aukštame abstrakcijos lygmenyje. Toks testo kūrimo būdas leidžia vystyti testą ankstyvuose projektavimo etapuose lygiagrečiai su kitomis projektavimo proceso veiklomis. Realizuojamas funkcinis vėlinimo testo sudarymo algoritmas pagal pokyčius išėjimuose, kuris remiasi tik programinio prototipo pirminių įėjimų ir pirminių išėjimų reikšmėmis. Atliekami eksperimentai. Eksperimento metu atliekami testinių rinkinių generavimai 35 loginėms schemoms pasinaudojant 15 skirtingos spartos procesorių. Gauti testo greitaveikos bei kokybės rezultatai parodė jog algoritmas pakankamai spartus ir gebantis rasti visus reikalingus rinkinius funkcinio vėlinimo testo sudarymui. / This work studies the test generation in functional level of the circuits. Such an approach allows developing the test at the early stages of the design process in parallel with other activities of this process. Created test generation algorithm of the functional test that is based solely on the primary input values and the primary output values of the programming prototype. The experiment contains 35 logic schemas processed test generation algorithm on 15 different powers CPU. The results of experiment shows that suggested algorithm is capable to find all needed pairs to complete functional test and the speed of algorithm is measurable at the same time.