A diminuição no tamanho dos transistores vem aumentando cada vez mais o número de funções que os dispositivos eletrônicos podem realizar. Apesar da diminuição do tamanho mínimo dos transistores, a velocidade máxima dos circuitos não consegue seguir a mesma taxa de aumento. Um dos grandes culpados apontados pelos pesquisadores são as interconexões entre os transistores e também entre os componentes. O aumento no número de interconexões dos circuitos traz consigo um significativo aumento do cosumo de energia, aumento do atraso de propagação dos sinais, além de um aumento da complexidade e custo do projeto dos circuitos integrados. Como uma possível solução a este problema é proposta a utilização de lógica multivalorada, mais especificamente, a lógica quaternária. Os dispositivos FPGAs são caracterizados principalmente pela grande flexibilidade que oferecem aos projetistas de sistemas digitais. Entretanto, com o avanço nas tecnologias de fabricação de circuitos integrados e diminuição das dimensões de fabricação, os problemas relacionados ao grande número de interconexões são uma preocupação para as próximas tecnologias de FPGAs. As tecnologias menores que 90nm possuem um grande aumento na taxa de erros dos circuitos, na lógica combinacional e sequencial. Apesar de algumas potenciais soluções começara a ser investigadas pela comunidade, a busca por circuitos tolerantes a erros induzidos por radiação, sem penalidades no desempenho, área ou potência, ainda é um assunto de pesquisa em aberto. Este trabalho propõe o uso de circuitos quaternários com modificações para tolerar falhas provenientes de eventos transientes. Como principal contribuição deste trabalho destaca-se o desenvolvimento de uma CLB (do inglês Configurable Logic Block) quaternária capaz de suportar eventos transientes e, na possibilidade de um erro, evitá-lo ou corrigi-lo. / The decrease in transistor size is increasing the number of functions that can be performed by the electronic devices. Despite this reduction in the transistors minimum size, the circuit’s speed does not follow the same rate. One of the major reasons pointed out by researchers are the interconnections between the transistors and between the components. The increase in the number of circuit interconnections brings a significant increase in energy consumption, propagation delay of signals, and an increase in the complexity and cost of new technologies IC designs. As a possible solution to this problem the use of multivalued logic is being proposed, more specifically, the quaternary logic. FPGA devices are characterized mainly by offering greater flexibility to designers of digital systems. However, with the advance in IC manufacturing technologies and the reduced size of the minimum fabricated dimensions, the problems related to the large number of interconnections are a concern for future technologies of FPGAs. The sub 90nm technologies have a large increase in the error rate of its functions for the combinational and sequential logic. Although potential solutions are being investigated by the community, the search for circuits tolerant to radiation induced errors, without performance, area, or power penalties, is still an open research issue. This work proposes the use of quaternary circuits with modifications to tolerate faults from transient events. The main contribution of this work is the development of a quaternary CLB (Configurable Logic Block) able to withstand transient events and the occurrence of soft errors.

A diminuição no tamanho dos dispositivos nas tecnologias do futuro traz consigo um grande aumento na taxa de erros dos circuitos, na lógica combinacional e seqüencial. Apesar de algumas potenciais soluções começarem a ser investigadas pela comunidade, a busca por circuitos tolerantes a erros induzidos por radiação, sem penalidades no desempenho, área ou potência, ainda é um assunto de pesquisa em aberto. Este trabalho propõe duas soluções para lidar com este comportamento imprevisível das tecnologias futuras: a primeira solução, chamada MemProc, é uma arquitetura baseada em memória que propõe reduzir a taxa de falhas de aplicações embarcadas micro-controladas. Esta solução baseia-se no uso de memórias magnéticas, que são tolerantes a falhas induzidas por radiação, e área de circuito combinacional reduzida para melhorar a confiabilidade ao processar quaisquer aplicações. A segunda solução proposta aqui é uma implementação de um IP de infra-estrutura para o processador MIPS indicada para sistemas em chip confiáveis, devido a sua adaptação rápida e por permitir diferentes níveis de robustez para a aplicação. A segunda solução é também indicada para sistemas em que nem o hardware nem o software podem ser modificados. Os resultados dos experimentos mostram que ambas as soluções melhoram a confiabilidade do sistema que fazem parte com custos aceitáveis e até, no caso da MemProc, melhora o desempenho da aplicação. / Device scaling in new and future technologies brings along severe increase in the soft error rate of circuits, for combinational and sequential logic. Although potential solutions are being investigated by the community, the search for circuits tolerant to radiation induced errors, without performance, area, or power penalties, is still an open research issue. This work proposes two solutions to cope with this unpredictable behavior of future technologies: the first solution, called MemProc, is a memory based architecture proposed to reduce the fault rate of embedded microcontrolled applications. This solution relies in the use magnetic memories, which are tolerant to radiation induced failures, and reduced combinational circuit area to improve the reliability when processing any application. The second solution proposed here is an infrastructure IP implementation for the MIPS architecture indicated for reliable systems-on-chip due to its fast adaptation and different levels of application hardening that are allowed. The second solution is also indicated for systems where neither the hardware nor the software can be modified. The experimental results show that both solutions improve the reliability of the system they take part with affordable overheads and even, as in the case of the MemProc solution, improving the performance results.

A diminuição no tamanho dos transistores vem aumentando cada vez mais o número de funções que os dispositivos eletrônicos podem realizar. Apesar da diminuição do tamanho mínimo dos transistores, a velocidade máxima dos circuitos não consegue seguir a mesma taxa de aumento. Um dos grandes culpados apontados pelos pesquisadores são as interconexões entre os transistores e também entre os componentes. O aumento no número de interconexões dos circuitos traz consigo um significativo aumento do cosumo de energia, aumento do atraso de propagação dos sinais, além de um aumento da complexidade e custo do projeto dos circuitos integrados. Como uma possível solução a este problema é proposta a utilização de lógica multivalorada, mais especificamente, a lógica quaternária. Os dispositivos FPGAs são caracterizados principalmente pela grande flexibilidade que oferecem aos projetistas de sistemas digitais. Entretanto, com o avanço nas tecnologias de fabricação de circuitos integrados e diminuição das dimensões de fabricação, os problemas relacionados ao grande número de interconexões são uma preocupação para as próximas tecnologias de FPGAs. As tecnologias menores que 90nm possuem um grande aumento na taxa de erros dos circuitos, na lógica combinacional e sequencial. Apesar de algumas potenciais soluções começara a ser investigadas pela comunidade, a busca por circuitos tolerantes a erros induzidos por radiação, sem penalidades no desempenho, área ou potência, ainda é um assunto de pesquisa em aberto. Este trabalho propõe o uso de circuitos quaternários com modificações para tolerar falhas provenientes de eventos transientes. Como principal contribuição deste trabalho destaca-se o desenvolvimento de uma CLB (do inglês Configurable Logic Block) quaternária capaz de suportar eventos transientes e, na possibilidade de um erro, evitá-lo ou corrigi-lo. / The decrease in transistor size is increasing the number of functions that can be performed by the electronic devices. Despite this reduction in the transistors minimum size, the circuit’s speed does not follow the same rate. One of the major reasons pointed out by researchers are the interconnections between the transistors and between the components. The increase in the number of circuit interconnections brings a significant increase in energy consumption, propagation delay of signals, and an increase in the complexity and cost of new technologies IC designs. As a possible solution to this problem the use of multivalued logic is being proposed, more specifically, the quaternary logic. FPGA devices are characterized mainly by offering greater flexibility to designers of digital systems. However, with the advance in IC manufacturing technologies and the reduced size of the minimum fabricated dimensions, the problems related to the large number of interconnections are a concern for future technologies of FPGAs. The sub 90nm technologies have a large increase in the error rate of its functions for the combinational and sequential logic. Although potential solutions are being investigated by the community, the search for circuits tolerant to radiation induced errors, without performance, area, or power penalties, is still an open research issue. This work proposes the use of quaternary circuits with modifications to tolerate faults from transient events. The main contribution of this work is the development of a quaternary CLB (Configurable Logic Block) able to withstand transient events and the occurrence of soft errors.

Esta dissertação propõe a utilização da técnica de filtragem adaptativa de pulsos transientes de modo a proteger os circuitos integrados sob efeito da radiação ionizante. Para garantir o uso desta técnica é necessária a utilização de um flip-flop tolerante à radiação que possua a capacidade de ter um ajuste de atraso configurável. O objetivo do uso do flip-flop programável é ter a opção de selecionar o atraso mais apropriado para filtragem temporal de pulsos de SET para cada circuito. Sendo assim, cada flip-flop pode filtrar SETs pelo uso de diferentes atrasos, baseado no atraso de propagação de cada caminho lógico. A variação nos atrasos de propagação entre múltiplos caminhos combinacionais pode ser usada para aumentar ou reduzir o atraso da filtragem de SET. Esta abordagem foi validada com o estudo de caso através de simulação elétrica e pela injeção de milhares de pulsos de SET com diferentes larguras em um circuito com filtragem adaptativa de pulsos tolerantes, os quais foram injetados de forma randômica no circuito. Os resultados mostraram o uso eficiente desta técnica de filtragem de SET em circuitos integrados. De modo a maximizar os resultados, um novo elemento de atraso programável foi desenvolvido e inserido no flip-flop. Para validação deste novo elemento, um segundo estudo de caso, utilizando o conjunto de circuitos dos benchmarks do ISCAS'85 foi também avaliado com a injeção de falhas. Os resultados mostraram que o uso do método proposto, reduz o número de erros sem perda de desempenho e com baixo incremento de área. / This dissertation proposes the use of an adaptive filtering technique of transient pulses in order to protect the integrated circuit under the effect of radiation. To ensure this technique it is necessary to use a tolerant radiation flip-flop having the ability to have a configurable delay adjustment. The purpose of the use a programmable radiation hardened flip-flop is having option of to select the most appropriate delay in the SET temporal filtering for each flip-flop in a circuit. Thus, each flip-flop can filter SETs by using different delays based on the propagation-delay of its logical path. The propagation-delay variances among multiple paths can be used to increase or reduce the delay of the SET filtering. This approach was validated in a case-study by electrical simulation with injection of thousands of SET pulses of different widths, which were randomly injected in a circuit with adaptive filtering technique and the results showed efficient use of this SET filtering technique in integrated circuits. In order to maximize the results of this technique a new programmable delay element was developed and inserted into the flip-flop. This approach of the new element was validated in a second case-study, using a set of benchmark circuits from ISCAS’85 was also evaluated by injecting faults. Results showed that using the proposed method, the number of errors can be reduced without decreasing the performance and with low area overhead.

A diminuição no tamanho dos dispositivos nas tecnologias do futuro traz consigo um grande aumento na taxa de erros dos circuitos, na lógica combinacional e seqüencial. Apesar de algumas potenciais soluções começarem a ser investigadas pela comunidade, a busca por circuitos tolerantes a erros induzidos por radiação, sem penalidades no desempenho, área ou potência, ainda é um assunto de pesquisa em aberto. Este trabalho propõe duas soluções para lidar com este comportamento imprevisível das tecnologias futuras: a primeira solução, chamada MemProc, é uma arquitetura baseada em memória que propõe reduzir a taxa de falhas de aplicações embarcadas micro-controladas. Esta solução baseia-se no uso de memórias magnéticas, que são tolerantes a falhas induzidas por radiação, e área de circuito combinacional reduzida para melhorar a confiabilidade ao processar quaisquer aplicações. A segunda solução proposta aqui é uma implementação de um IP de infra-estrutura para o processador MIPS indicada para sistemas em chip confiáveis, devido a sua adaptação rápida e por permitir diferentes níveis de robustez para a aplicação. A segunda solução é também indicada para sistemas em que nem o hardware nem o software podem ser modificados. Os resultados dos experimentos mostram que ambas as soluções melhoram a confiabilidade do sistema que fazem parte com custos aceitáveis e até, no caso da MemProc, melhora o desempenho da aplicação. / Device scaling in new and future technologies brings along severe increase in the soft error rate of circuits, for combinational and sequential logic. Although potential solutions are being investigated by the community, the search for circuits tolerant to radiation induced errors, without performance, area, or power penalties, is still an open research issue. This work proposes two solutions to cope with this unpredictable behavior of future technologies: the first solution, called MemProc, is a memory based architecture proposed to reduce the fault rate of embedded microcontrolled applications. This solution relies in the use magnetic memories, which are tolerant to radiation induced failures, and reduced combinational circuit area to improve the reliability when processing any application. The second solution proposed here is an infrastructure IP implementation for the MIPS architecture indicated for reliable systems-on-chip due to its fast adaptation and different levels of application hardening that are allowed. The second solution is also indicated for systems where neither the hardware nor the software can be modified. The experimental results show that both solutions improve the reliability of the system they take part with affordable overheads and even, as in the case of the MemProc solution, improving the performance results.

A diminuição no tamanho dos transistores vem aumentando cada vez mais o número de funções que os dispositivos eletrônicos podem realizar. Apesar da diminuição do tamanho mínimo dos transistores, a velocidade máxima dos circuitos não consegue seguir a mesma taxa de aumento. Um dos grandes culpados apontados pelos pesquisadores são as interconexões entre os transistores e também entre os componentes. O aumento no número de interconexões dos circuitos traz consigo um significativo aumento do cosumo de energia, aumento do atraso de propagação dos sinais, além de um aumento da complexidade e custo do projeto dos circuitos integrados. Como uma possível solução a este problema é proposta a utilização de lógica multivalorada, mais especificamente, a lógica quaternária. Os dispositivos FPGAs são caracterizados principalmente pela grande flexibilidade que oferecem aos projetistas de sistemas digitais. Entretanto, com o avanço nas tecnologias de fabricação de circuitos integrados e diminuição das dimensões de fabricação, os problemas relacionados ao grande número de interconexões são uma preocupação para as próximas tecnologias de FPGAs. As tecnologias menores que 90nm possuem um grande aumento na taxa de erros dos circuitos, na lógica combinacional e sequencial. Apesar de algumas potenciais soluções começara a ser investigadas pela comunidade, a busca por circuitos tolerantes a erros induzidos por radiação, sem penalidades no desempenho, área ou potência, ainda é um assunto de pesquisa em aberto. Este trabalho propõe o uso de circuitos quaternários com modificações para tolerar falhas provenientes de eventos transientes. Como principal contribuição deste trabalho destaca-se o desenvolvimento de uma CLB (do inglês Configurable Logic Block) quaternária capaz de suportar eventos transientes e, na possibilidade de um erro, evitá-lo ou corrigi-lo. / The decrease in transistor size is increasing the number of functions that can be performed by the electronic devices. Despite this reduction in the transistors minimum size, the circuit’s speed does not follow the same rate. One of the major reasons pointed out by researchers are the interconnections between the transistors and between the components. The increase in the number of circuit interconnections brings a significant increase in energy consumption, propagation delay of signals, and an increase in the complexity and cost of new technologies IC designs. As a possible solution to this problem the use of multivalued logic is being proposed, more specifically, the quaternary logic. FPGA devices are characterized mainly by offering greater flexibility to designers of digital systems. However, with the advance in IC manufacturing technologies and the reduced size of the minimum fabricated dimensions, the problems related to the large number of interconnections are a concern for future technologies of FPGAs. The sub 90nm technologies have a large increase in the error rate of its functions for the combinational and sequential logic. Although potential solutions are being investigated by the community, the search for circuits tolerant to radiation induced errors, without performance, area, or power penalties, is still an open research issue. This work proposes the use of quaternary circuits with modifications to tolerate faults from transient events. The main contribution of this work is the development of a quaternary CLB (Configurable Logic Block) able to withstand transient events and the occurrence of soft errors.

Esta dissertação propõe a utilização da técnica de filtragem adaptativa de pulsos transientes de modo a proteger os circuitos integrados sob efeito da radiação ionizante. Para garantir o uso desta técnica é necessária a utilização de um flip-flop tolerante à radiação que possua a capacidade de ter um ajuste de atraso configurável. O objetivo do uso do flip-flop programável é ter a opção de selecionar o atraso mais apropriado para filtragem temporal de pulsos de SET para cada circuito. Sendo assim, cada flip-flop pode filtrar SETs pelo uso de diferentes atrasos, baseado no atraso de propagação de cada caminho lógico. A variação nos atrasos de propagação entre múltiplos caminhos combinacionais pode ser usada para aumentar ou reduzir o atraso da filtragem de SET. Esta abordagem foi validada com o estudo de caso através de simulação elétrica e pela injeção de milhares de pulsos de SET com diferentes larguras em um circuito com filtragem adaptativa de pulsos tolerantes, os quais foram injetados de forma randômica no circuito. Os resultados mostraram o uso eficiente desta técnica de filtragem de SET em circuitos integrados. De modo a maximizar os resultados, um novo elemento de atraso programável foi desenvolvido e inserido no flip-flop. Para validação deste novo elemento, um segundo estudo de caso, utilizando o conjunto de circuitos dos benchmarks do ISCAS'85 foi também avaliado com a injeção de falhas. Os resultados mostraram que o uso do método proposto, reduz o número de erros sem perda de desempenho e com baixo incremento de área. / This dissertation proposes the use of an adaptive filtering technique of transient pulses in order to protect the integrated circuit under the effect of radiation. To ensure this technique it is necessary to use a tolerant radiation flip-flop having the ability to have a configurable delay adjustment. The purpose of the use a programmable radiation hardened flip-flop is having option of to select the most appropriate delay in the SET temporal filtering for each flip-flop in a circuit. Thus, each flip-flop can filter SETs by using different delays based on the propagation-delay of its logical path. The propagation-delay variances among multiple paths can be used to increase or reduce the delay of the SET filtering. This approach was validated in a case-study by electrical simulation with injection of thousands of SET pulses of different widths, which were randomly injected in a circuit with adaptive filtering technique and the results showed efficient use of this SET filtering technique in integrated circuits. In order to maximize the results of this technique a new programmable delay element was developed and inserted into the flip-flop. This approach of the new element was validated in a second case-study, using a set of benchmark circuits from ISCAS’85 was also evaluated by injecting faults. Results showed that using the proposed method, the number of errors can be reduced without decreasing the performance and with low area overhead.

A diminuição no tamanho dos dispositivos nas tecnologias do futuro traz consigo um grande aumento na taxa de erros dos circuitos, na lógica combinacional e seqüencial. Apesar de algumas potenciais soluções começarem a ser investigadas pela comunidade, a busca por circuitos tolerantes a erros induzidos por radiação, sem penalidades no desempenho, área ou potência, ainda é um assunto de pesquisa em aberto. Este trabalho propõe duas soluções para lidar com este comportamento imprevisível das tecnologias futuras: a primeira solução, chamada MemProc, é uma arquitetura baseada em memória que propõe reduzir a taxa de falhas de aplicações embarcadas micro-controladas. Esta solução baseia-se no uso de memórias magnéticas, que são tolerantes a falhas induzidas por radiação, e área de circuito combinacional reduzida para melhorar a confiabilidade ao processar quaisquer aplicações. A segunda solução proposta aqui é uma implementação de um IP de infra-estrutura para o processador MIPS indicada para sistemas em chip confiáveis, devido a sua adaptação rápida e por permitir diferentes níveis de robustez para a aplicação. A segunda solução é também indicada para sistemas em que nem o hardware nem o software podem ser modificados. Os resultados dos experimentos mostram que ambas as soluções melhoram a confiabilidade do sistema que fazem parte com custos aceitáveis e até, no caso da MemProc, melhora o desempenho da aplicação. / Device scaling in new and future technologies brings along severe increase in the soft error rate of circuits, for combinational and sequential logic. Although potential solutions are being investigated by the community, the search for circuits tolerant to radiation induced errors, without performance, area, or power penalties, is still an open research issue. This work proposes two solutions to cope with this unpredictable behavior of future technologies: the first solution, called MemProc, is a memory based architecture proposed to reduce the fault rate of embedded microcontrolled applications. This solution relies in the use magnetic memories, which are tolerant to radiation induced failures, and reduced combinational circuit area to improve the reliability when processing any application. The second solution proposed here is an infrastructure IP implementation for the MIPS architecture indicated for reliable systems-on-chip due to its fast adaptation and different levels of application hardening that are allowed. The second solution is also indicated for systems where neither the hardware nor the software can be modified. The experimental results show that both solutions improve the reliability of the system they take part with affordable overheads and even, as in the case of the MemProc solution, improving the performance results.

Esta dissertação propõe a utilização da técnica de filtragem adaptativa de pulsos transientes de modo a proteger os circuitos integrados sob efeito da radiação ionizante. Para garantir o uso desta técnica é necessária a utilização de um flip-flop tolerante à radiação que possua a capacidade de ter um ajuste de atraso configurável. O objetivo do uso do flip-flop programável é ter a opção de selecionar o atraso mais apropriado para filtragem temporal de pulsos de SET para cada circuito. Sendo assim, cada flip-flop pode filtrar SETs pelo uso de diferentes atrasos, baseado no atraso de propagação de cada caminho lógico. A variação nos atrasos de propagação entre múltiplos caminhos combinacionais pode ser usada para aumentar ou reduzir o atraso da filtragem de SET. Esta abordagem foi validada com o estudo de caso através de simulação elétrica e pela injeção de milhares de pulsos de SET com diferentes larguras em um circuito com filtragem adaptativa de pulsos tolerantes, os quais foram injetados de forma randômica no circuito. Os resultados mostraram o uso eficiente desta técnica de filtragem de SET em circuitos integrados. De modo a maximizar os resultados, um novo elemento de atraso programável foi desenvolvido e inserido no flip-flop. Para validação deste novo elemento, um segundo estudo de caso, utilizando o conjunto de circuitos dos benchmarks do ISCAS'85 foi também avaliado com a injeção de falhas. Os resultados mostraram que o uso do método proposto, reduz o número de erros sem perda de desempenho e com baixo incremento de área. / This dissertation proposes the use of an adaptive filtering technique of transient pulses in order to protect the integrated circuit under the effect of radiation. To ensure this technique it is necessary to use a tolerant radiation flip-flop having the ability to have a configurable delay adjustment. The purpose of the use a programmable radiation hardened flip-flop is having option of to select the most appropriate delay in the SET temporal filtering for each flip-flop in a circuit. Thus, each flip-flop can filter SETs by using different delays based on the propagation-delay of its logical path. The propagation-delay variances among multiple paths can be used to increase or reduce the delay of the SET filtering. This approach was validated in a case-study by electrical simulation with injection of thousands of SET pulses of different widths, which were randomly injected in a circuit with adaptive filtering technique and the results showed efficient use of this SET filtering technique in integrated circuits. In order to maximize the results of this technique a new programmable delay element was developed and inserted into the flip-flop. This approach of the new element was validated in a second case-study, using a set of benchmark circuits from ISCAS’85 was also evaluated by injecting faults. Results showed that using the proposed method, the number of errors can be reduced without decreasing the performance and with low area overhead.

Cette thèse a pour objet l'étude des éléments radioactifs qui peuvent altérer le bon fonctionnement des composants électroniques au niveau terrestre. Ces éléments radioactifs sont appelés émetteurs alpha. Intrinsèques aux composants électroniques, ils se désintègrent et émettent des particules alpha qui ionisent la matière du dispositif électronique et déclenchent des SEU (Single Event Upset). Ces travaux visent à évaluer la fiabilité des circuits digitaux due à cette contrainte radiative interne aux composants électroniques. Dans ce but, tous les émetteurs alpha naturelles ou artificielles susceptibles de contaminer les matériaux des circuits digitaux ont été identifiés et classés en deux catégories : les impuretés naturelles et les radionucléides introduits. Les impuretés naturelles proviennent d'une contamination naturelle ou involontaire des matériaux utilisés. Afin d'évaluer leurs effets sur la fiabilité, le SER (Soft Error Rate) a été déterminé par simulations Monte-Carlo pour différents nœuds technologiques dans le cas de l'équilibre séculaire. Par ailleurs, avec la miniaturisation des circuits digitaux, de nouveaux éléments chimiques ont été suggérés ou employés dans la nanoélectronique. Les radionucléides introduits regroupent ce type d'élément naturellement constitué d'émetteurs alpha. Des études basées sur des simulations Monte-Carlo et des applications analytiques ont été effectués pour évaluer la fiabilité des dispositifs électroniques. Par la suite, des recommandations ont été proposées sur l'emploi de nouveaux éléments chimiques dans la nanotechnologie. / This work studies radioactive elements that can affect the proper functioning of electronic components at ground level. These radioactive elements are called alpha emitters. Intrinsic to electronic components, they decay and emit alpha particles which ionize the material of the electronic device and trigger SEU (Single Event Upset).This thesis aims to assess the reliability of digital circuits due to this internal radiative constraint of electronic components. For that, all alpha-emitting natural or artificial isotopes that can contaminate digital circuits have been identified and classified into two categories: natural impurities and introduced radionuclides.Natural impurities result from a natural or accidental contamination of materials used in nanotechnology. To assess their effects on reliability, the SER (Soft Error Rate) was determined by Monte Carlo simulations for different technology nodes in the case of secular equilibrium. Besides, a new analytical approach was developed to determine the consequences of secular disequilibrium on the reliability of digital circuits.Moreover, with the miniaturization of digital circuits, new chemical elements have been suggested or used in nanoelectronics. The introduced radionuclides include this type of element consisting of natural alpha emitters. Studies based on Monte Carlo simulations and analytical approches have been conducted to evaluate the reliability of electronic devices. Subsequently, recommendations were proposed on the use of new chemical elements in nanotechnology.