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NOUVELLES METHODES D'IMAGERIE HAUTE RESOLUTION POUR L'ANALYSE DES COMPOSANTS NANOELECTRONIQUESShao, Kai 02 October 2012 (has links) (PDF)
Ce travail de thèse a contribué au développement de la techniques de test par faisceau laser en mode d'absorption deux photons (TPA). Cette technique a plus spécifiquement été utilisée pour la détection de défauts et l'injection de fautes dans les circuits intégrés.
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