Šiais laikais naujos technologijos sudaro vis didesnę mūsų gyvenimo dalį, bet jų jau greičiausiai neįsivaizduotume savęs. Tačiau ne visi naujų tachnologijų kūriniai tarnauja ilgai, taip pat kaip ne visi jie veikia teisingai. Tam, kad nustatytume, jog įrenginys veikia teisingai raikalinga atlikti testavimą. Mažėjant schemų dydžiams, augant metalo tankiui ir didėjant lustų veikimo greičiui, vėlinimų testavimas tampa būtinybe tam, kad palaikyti kokybę susijusią su schemos veikimo greičių sutrikimais. Vėlinimo gedimų tyrimas atsako į klausimą ar schema veikia teisingai be didelių nuostolių. Šiame darbe aptarsime vėlinimo gedimų atsiradimo priežastis bei galimas juos įtakojančias sąlygas. Taip pat analizuosime vėlinimo gedimų testavimo modelius, metodus, jų privalumus, trūkumus ir galimus trūkumų sprendimus. Tyrimui pilnai atlikti inicijuosime eksperimentą, siekdami išsiaiškinti tiesioginės ir netiesioginės įtakos poveikį vėlinimų gedimų funkciniam testui. / Nowadays new technologies contains the bigger part of our lifes, we couldnt imagine our selves without them. Otherwise, not all creations of new technologies are serving so long, also not all of them are serving right and effectively. When the system size degrees, the metal grows, and the time working on chips grows – the delay fault testing becomes very important part of system creation process. The delay fault test answers to the question does the system works right and without any big loses. The test process has important point in Delay test has been investigated for many years. We can say that test process contains on these steps: setting the purpose of the test, designing the test, controlling the test process, perform the test and analyze test results. Also we will shortly discuss about basic gauge of testing process. The main point of this paper is to analyze the models of delay faults test processes. To see the best and the worst sides of delay faults and represent experimental test to demonstrate the the robust and non-robust test advantagies in delay fault test.

Automatinis testų rinkinių generavimas (pasaulyje priimtas angliškas sutrumpinimas – ATPG) yra pakankamai senai sprendžiama problema. Jos tikslas – surasti optimalų testinių vektorių sekas, kurios pilnai užtikrintų visas schemos gamybos etape padarytas klaidas per mažiausią laiką. Vienas iš skaitmeninių schemų testavimo ir testų rinkinių sudarymo metodas yra funkcinis testavimo metodas. Jo privalumai yra tame, kad testų rinkinių sudarymo programa nežino schemos vidinės struktūros, o testuoja tik idealų schemos modelį, kuri yra pateikta juodos dėžės pavidale, tai yra programa gali gauti idealaus schemos reakciją į tam tikrą įvedimo signalų vektorių. Šiame darbe parinktas funkcinis testavimo metodas. Šiame darbe aprašoma testinių rinkinių atrinkimo programinės įrangos teorinė bazė, automatinio testų rinkinio formavimo trumpa istorinė apžvalga, baltos ir juodos dėžės modelių pagristų formavimo algoritmų palyginimai. Aprašoma programų sistemos statinė struktūra bei jos komponentai, sistemos panaudojimo atvejai. Tyrimų dalyje aprašoma tyrimo metodika, siūlomi programos kokybės tobulinimo metodai. Eksperimentų dalyje aprašomi tyrimų eksperimentų rezultatai. / Automated test pattern generation (ATPG) problem is being solved for a relatively long time. Its' point is to find optimal test vector sequences, which would cover most of all production-caused digital circuit faults and would run for the minimum amount of time. One of the ways to test and generate test vectors for digital circuits is functional test method. Its' benefit is that system does not need to be aware of digital circuit's inner logical model, but has to deal only with the input, so that just the ideal model of the digital circuit can be used as a "black box". The program's algorithm can get ideal digital circuit's reaction for corresponding input test vector. This paper will mostly cover functional model approach to ATPG. This paper covers automated test vector generation software basic theory with brief historical review, comparison of white box and black box models' testing and test vector generation algorithms. Also the software's static structures along with its components, system’s typical use cases are covered. The research part of the paper is focused mostly on the algorithms used, containing research methods which provide the results for the experiment part.