• Refine Query
  • Source
  • Publication year
  • to
  • Language
  • 1
  • Tagged with
  • 1
  • 1
  • 1
  • 1
  • 1
  • 1
  • 1
  • 1
  • 1
  • 1
  • 1
  • 1
  • 1
  • 1
  • About
  • The Global ETD Search service is a free service for researchers to find electronic theses and dissertations. This service is provided by the Networked Digital Library of Theses and Dissertations.
    Our metadata is collected from universities around the world. If you manage a university/consortium/country archive and want to be added, details can be found on the NDLTD website.
1

Etaloninių V2O5 ir VO2 bandinių Rentgeno fotoelektronų spektrų tyrimas / XPS study of V2O5 and VO2 standard samples

Šarkauskas, Karolis 11 May 2012 (has links)
Darbo tikslas yra ištirti etaloninių vanadžio pentoksido ir dioksido Rentgeno fotoelektronų spektrus siekiant nustatyti cheminį poslinkį tarp oksidų V 2p spektrų smailių. Darbe išsamiai aprašytos vanadžio dioksido ir prntoksido struktūros, oksidų savybės, Rentgeno fotoelektronų spektroskopijos metodo pagrindai bei V2O5 ir VO2 Rentgeno fotoelektronų spektrų ypatumai. Aprašyti atliktų eksperimentų metodai. Pateikti eksperimentų ir literatūrinės duomenų bazės analizės rezultatai. Atliktas darbas leido nustatyti sekančius faktus: cheminis poslinkis tarp vanadžio dioksido ir pentoksido etaloninių bandinių Rentgeno fotoelektronų spektrų V 2p3/2 smailių lygus 0.7 eV matuojant spektrus spektrometru XSAM 800 (Kratos Analytical, Anglija); literatūrinių duomenų analizę parodė, kad tikimiausia cheminio poslinkio vertė tarp V 2p3/2 smailių įvairiuose vanadžio junginiuose lygi 1.1 eV; skirtumas tarp eksperimentiškai gautos cheminio poslinkio vertės ir analogiško dydžio gauto iš literatūrinių duomenų analizės sąlygotas tuo, kad buvo matuojami gryni VO2 ir V2O5 bandiniai, o analizei buvo naudojama duomenų visumą apie įvairius vanadžio junginius. / The main aim of the presented work was to investigate the chemical shift between XPS V 2p peaks of standard V2O5 and VO2 samples. The structure and physical properties of vanadium dioxide and pentoxide, X-ray photoelectron spectroscopy basis and some singularities of these oxides XPS spectra are presented. The experimental methods, the results of experiments and the literature analysis results are described. The executed work has allowed establishing following facts: the chemical shift between vanadium dioxide and pentoxide standard samples XPS V 2p peaks is equal to 0.7 eV; the analysis of the literature base shows that this shift for various vanadium compounds is 1.1 eV; the difference between measured chemical shift and chemical shift value established from literature analysis is caused because XPS spectra of pure oxides samples was measured in present work and the analysis of the literature base was performed for various vanadium compounds.

Page generated in 0.0517 seconds