Darbo tikslas yra ištirti neatkaitintų ir atkaitintų prie aukštų temperatūrų vakuume LaNiO3 sluoksnių Rentgeno fotoelektronų spektrus. Darbe aprašyti Rentgeno fotoelektronų spektroskopijos (RFS) (XPS- X-ray photoelectron spectroscopy) metodo, naudojamo įvairių medžiagų paviršių cheminei sudėčiai nustatyti, pagrindai. Pirmame skyriuje aprašyti: La- Ni oksidiniai junginiai ir jų tyrimų metodika, plonų nanostruktūrizuotų medžiagų sluoksnių nusodinimo iš dujų fazės (plazmos) metodas- magnetroninis dulkinimas (magnetron sputtering), aparatūra, XPSPeak programos pritaikymas Rentgeno fotoelektronų spektrų tyrimui bei jos naudojimo galimybės. Antrasis skyrius yra skirtas Rentgeno fotoelektroninių spektrų matavimų, naudojant spektrometrą XSAM 800 (Kratos Analytical, Didžioji Britanija) ypatumams ir bandinių gamybos metodikai aptarti. Trečiajame skyriuje pateikiami eksperimentiniai rezultatai gauti, matuojant LaNiO3-x Rentgeno fotoelektronų spektrus. Darbo pabaigoje yra pateikiamos išvados, kurios galėtų būti naudingos, tobulinant LaNiO3-x bandinių gamybos technologiją. / The aim of presented work was to investigate the X-ray photoelectron spectra (XPS) of LaNiO3-x thin films. The films were produced by DC magnetron sputtering. It is known that the temperature dependence of resistivity of as grown films has the metallic character. After the temperature annealing in the high vacuum condition this dependence changes to the semiconductor like character. XPS spectra of the oxygen region of as grown samples indicate that oxygen ions are in three states – O2-, hydroxyl groups (OH)-, and water. After the temperature annealing in the high vacuum condition oxygen ions are only in the two states - O2- and hydroxyl groups (OH)-. Thus the changes of the resistivity temperature dependence are caused by the changes of the oxygen ions system after the temperature annealing in the high vacuum. After temperatures processing in vacuum the samples some time have been sustained in atmospheric conditions, the temperature dependence of resistance again came back to an initial metal condition. This fact means that for the synthesis of qualitative thin layers it is necessary to change technological conditions of production.

Šiame darbe panaudojant zolis-gelis technologiją, susintetinti vanadžio junginių oksidinio kserogelio ir bronzos bei molekulinio oksidinio kserogelio ir bronzos plonieji sluoksniai. Visų minėtų medžiagų cheminė sudėtis ištirta Rentgeno fotoelektronų spektroskopijos metodu, siekiant nustatyti metalų jonų valentines būsenas. Panaudojant zolis-gelis technologiją, galima gana paprastais metodais, nenaudojant sudėtingos technologinės įrangos, gaminti vanadžio oksidinių bronzų plonuosius sluoksnius. Vanadžio amonio hidratuoti oksidiniai junginiai gali būti naudojami kaip medžiagos amoniako dujų jutikliams gaminti. / The thin films of molecular oxide xerogels and bronzes as well as oxide xerogels and bronzes of vanadium compounds were synthesized by sol-gel technology method. The chemical composition of mentioned compounds was investigated using XPS method in order to determine the valence of metal ions. It is shown that it is possible to produce the thin films of vanadium oxide bronzes using simple methods. The possibility to use vanadium-ammonium oxide hydrated compounds as materials for producing the ammonium sensors is shown in the dissertation.

Darbo tikslas yra ištirti etaloninių vanadžio pentoksido ir dioksido Rentgeno fotoelektronų spektrus siekiant nustatyti cheminį poslinkį tarp oksidų V 2p spektrų smailių. Darbe išsamiai aprašytos vanadžio dioksido ir prntoksido struktūros, oksidų savybės, Rentgeno fotoelektronų spektroskopijos metodo pagrindai bei V2O5 ir VO2 Rentgeno fotoelektronų spektrų ypatumai. Aprašyti atliktų eksperimentų metodai. Pateikti eksperimentų ir literatūrinės duomenų bazės analizės rezultatai. Atliktas darbas leido nustatyti sekančius faktus: cheminis poslinkis tarp vanadžio dioksido ir pentoksido etaloninių bandinių Rentgeno fotoelektronų spektrų V 2p3/2 smailių lygus 0.7 eV matuojant spektrus spektrometru XSAM 800 (Kratos Analytical, Anglija); literatūrinių duomenų analizę parodė, kad tikimiausia cheminio poslinkio vertė tarp V 2p3/2 smailių įvairiuose vanadžio junginiuose lygi 1.1 eV; skirtumas tarp eksperimentiškai gautos cheminio poslinkio vertės ir analogiško dydžio gauto iš literatūrinių duomenų analizės sąlygotas tuo, kad buvo matuojami gryni VO2 ir V2O5 bandiniai, o analizei buvo naudojama duomenų visumą apie įvairius vanadžio junginius. / The main aim of the presented work was to investigate the chemical shift between XPS V 2p peaks of standard V2O5 and VO2 samples. The structure and physical properties of vanadium dioxide and pentoxide, X-ray photoelectron spectroscopy basis and some singularities of these oxides XPS spectra are presented. The experimental methods, the results of experiments and the literature analysis results are described. The executed work has allowed establishing following facts: the chemical shift between vanadium dioxide and pentoxide standard samples XPS V 2p peaks is equal to 0.7 eV; the analysis of the literature base shows that this shift for various vanadium compounds is 1.1 eV; the difference between measured chemical shift and chemical shift value established from literature analysis is caused because XPS spectra of pure oxides samples was measured in present work and the analysis of the literature base was performed for various vanadium compounds.

The thin films of oxide xerogels and bronzes and molecular oxide xerogels and bronzes of vanadium compounds were synthesized by sol-gel technology method. The chemical composition of mentioned compounds was investigated using XPS method in order to determine the valence of metal ions. It is shown that it is possible to produce the thin films of vanadium oxide bronzes using simple methods. The possibility to use vanadium-ammonium oxide hydrated compounds as materials for producing the ammonium sensors is shown in the dissertation. / Šiame darbe panaudojant zolis-gelis technologiją, susintetinti vanadžio junginių oksidinių kserogelių ir bronzos bei molekulinių oksidinių kserogelių ir bronzų plonieji sluoksniai. Visų minėtų medžiagų cheminė sudėtis ištirta Rentgeno fotoelektronų spektroskopijos metodu, siekiant nustatyti metalų jonų valentines būsenas. Panaudojant zolis-gelis technologiją, galima gana paprastais metodais, nenaudojant sudėtingos technologinės įrangos, gaminti vanadžio oksidinių bronzų plonuosius sluoksnius. Vanadžio amonio hidratuoti oksidiniai junginiai gali būti naudojami kaip medžiagos amoniako dujų jutikliams gaminti.