Da Prüfungen und Tests häufig dazu dienen, den Zugang zu Bildungsprogrammen zu steuern und die Grundlage zur Abschlussvergabe am Ende von Bildungsprogrammen bilden, ist ihre Fairness und Validität von größter Bedeutung. Ein kontrovers diskutierter Aspekt standardisierter Tests ist die Verwendung von Zeitlimits. Unabhängig davon ob eine Testadministration Zeitdruck hervorrufen soll oder nicht, sollten Testentwickler:innen in die Lage versetzt werden, den Zeitdruck einer Testadministrationen explizit gestalten zu können. Zu diesem Zweck schlägt van der Linden (2011a, 2011b) einen Ansatz zur Kontrolle des Zeitdrucks von Tests in der automatisierten Testhefterstellung (ATA) unter Verwendung von Mixed Integer Linear Programming und eines lognormalen Antwortzeitmodells vor. Dabei hat der Ansatz von van der Linden jedoch eine zentrale Limitation: Er ist auf das zwei-parametrische lognormale Antwortzeitmodell beschränkt, das gleiche Geschwindigkeits-Sensitivitäten (d.h. Faktorladungen) für alle Items annimmt. Diese Arbeit zeigt, dass ansonsten parallele Testhefte mit unterschiedlichen Geschwindigkeits-Sensitivitäten für bestimmte Testteilnehmende unfair sind. Darüber hinaus wird eine Erweiterung des van der Linden-Ansatzes vorgestellt, die unterschiedliche Geschwindigkeits-Sensitivitäten von Items in ATA berücksichtigt. Weiter wird diskutiert, wie Testhefte mit identischen, aber unterschiedlich angeordneten Items zu Fairness-Problemen aufgrund von Item-Positionseffekten führen können und wie dies verhindert werden kann. Die vorliegende Arbeit enthält zusätzlich Anleitungen zur Verwendung des R-Pakets eatATA für ATA und zur Verwendung von Stan und rstan für Bayesianische hierarchische Antwortzeitmodellierung. Abschließend werden Alternativen, praktische Implikationen und Grenzen der vorgeschlagenen Ansätze diskutiert und Vorschläge für zukünftige Forschungsthemen gemacht. / As examinations and assessments are often used to control access to educational programs and to assess successful participation in an educational program, their fairness and validity is of great importance. A controversially discussed aspect of standardized tests is setting time limits on tests and how this practice can result in test speededness. Regardless of whether a test should be speeded or not, being able to deliberately control the speededness of tests is desirable. For this purpose, van der Linden (2011a, 2011b) proposed an approach to control the speededness of tests in automated test assembly (ATA) using mixed integer linear programming and a lognormal response time model. However, the approach by van der Linden (2011a, 2011b) has an important limitation, in that it is restricted to the two-parameter lognormal response time model which assumes equal speed sensitivities (i.e., factor loadings) across items. This thesis demonstrates that otherwise parallel test forms with differential speed sensitivities are indeed unfair for specific test-takers. Furthermore, an extension of the van der Linden approach is introduced, which incorporates speed sensitivities in ATA. Additionally, test speededness can undermine the fairness of a test if identical but differently ordered test forms are used. To prevent that the score of test-takers depends on whether easy or difficult items are located at the end of a test form, it is proposed that the same, most time intensive items should be placed at the end of all test forms. The thesis also provides introductions and tutorials on using the R package eatATA for ATA and using Stan and rstan for Bayesian hierarchical response time modeling. Finally, the thesis discusses alternatives, practical implications, and limitations of the proposed approaches and provides an outlook on future related research topics.