La probabilité des fautes transitoires augmente avec l'évolution des technologies. Plusieurs approches ont été proposées pour analyser très tôt l'impact de ces fautes sur un circuit numérique. Il est notamment possible d'utiliser une approche fondée sur l'injection de fautes dans une description VHDL au niveau RTL. Dans cette thèse, nous apportons plusieurs contributions à ce type d'analyse. Un premier aspect considéré est la prise en compte de l'environnement du circuit numérique lors des campagnes d'injection. Ainsi, une approche basée sur une analyse de sûreté de fonctionnement multi-niveaux a été développée et appliquée sur un exemple. Les injections sont réalisées dans le circuit numérique décrit au niveau RTL alors que le reste du système est décrit à un niveau d'abstraction plus élevé. L'analyse des résultats montre que certaines défaillances apparaissant au niveau du circuit n'ont en fait aucun impact sur le système. Nous présentons ensuite les avantages de la combinaison de deux types d'analyses : la classification des fautes en fonction de leurs effets, et l'analyse plus détaillée des configurations d'erreurs activées dans le circuit. Une campagne d'injection de fautes de type SEU a été réalisée sur un microcontrôleur 8051 décrit au niveau RTL. Les résultats montrent que la combinaison des analyses permet au concepteur de localiser les points critiques, facilitant l'étape de durcissement. Ils montrent également que, dans le cas d'un processeur à usage général, les configurations d'erreurs peuvent être dépendantes du programme exécuté. Cette étude a également permis de montrer que l'injection d'un très faible pourcentage des fautes possibles permet déjà d'obtenir des informations utiles pour le concepteur. La même méthodologie a été utilisée pour valider la robustesse obtenue avec un durcissement au niveau logiciel. Les résultats montrent que certaines fautes ne sont pas détectées par les mécanismes implémentés bien que ceux-ci aient été préalablement validés par des injections de fautes basées sur un simulateur de jeu d'instructions. Le dernier aspect de cette thèse concerne l'injection de fautes dans des blocs analogiques. En fait très peu de travaux traitent du sujet. Nous proposons donc un flot global d'analyse pour circuits numériques, analogiques ou mixtes, décrits au niveau comportemental. La possibilité d'injecter des fautes dans des blocs analogiques est discutée. Les résultats obtenus sur une PLL, choisie comme cas d'étude, sont analysés et montrent la faisabilité de l'injection de fautes dans des blocs analogiques. Pour valider le flot, des injections de fautes sont également réalisées au niveau transistor et comparées à celles réalisées à haut niveau. Il apparaît une bonne corrélation entre les résultats obtenus aux deux niveaux.