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Titre de l'écran-titre (visionné le 7 août 2023) / Le réseau échelle est un élément important de la spectroscopie astronomique du fait de ses caractéristiques qui le différencient des autres réseaux de diffraction tels que sa plus grande résolution spectrale ainsi que sa plus grande dispersion angulaire. Le réseau échelle est donc très utilisé comme élément dispersif dans les spectromètres. De ce fait, il est important que le réseau soit construit avec assez de précision pour que ses performances atteignent celles attendues pour son utilisation. Mon projet porte sur le développement d'un banc de test qui permet de mesurer le pas d'un réseau afin de pouvoir s'assurer de la qualité de sa fabrication. Cette méthode utilise un interféromètre de Fizeau ainsi qu'une platine rotative. La platine rotative permet de trouver la position angulaire d'un ordre précis en configuration Littrow alors que l'interféromètre permet d'apporter des corrections dans les calculs qui permettent une plus grande précision. Ensuite, les données ont été traitées avec des méthodes de calculs à partir des mesures directes ou en passant par une optimisation qui permet d'obtenir des résultats plus précis. Ces méthodes de traitement des données se sont avérées efficaces pour calculer le pas du réseau, quoique celles avec optimisation le sont nettement plus que la méthode directe. Enfin, les corrections obtenues avec l'interféromètre ont eu peu d'impact, sauf pour la correction de l'échelle dans son axe de dispersion. / The echelle diffraction grating is a crucial component in astronomical spectroscopy because of its characteristics that differenciate it from other diffraction gratings like its greater spectral resolution and its greater angular dispersion. Echelle grating are often used as the dispersive element in spectrometers. Therefore, making sure the echelle grating's fabrication was with enough precision is important for the echelle to perform at the expected performance for its utilization. My project is about designing a testing bench to measure the grooves length of an echelle grating to characterized the precision of its fabrication. This method used a Fizeau's interferometer and a rotating plate. The rotating plate allows to find the angular position of a specific order in the Littrow configuration while the interferometer allows to perform corrections in the calculation for a better precision. Then, the data will be processed with different methods of calculation which use the measures directly or after those measures has been optimized for more precise results. Those methods appear to be efficient to calculate the grooves density but the method with optimisation is more accurate than the direct method. Finally, the corrections done with the interferometer didn't yield a great impact on the result except for the correction of the echelle in the axis of dispersion.

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A description of the apparatus used in microwave phase and diffraction measurements is contained in the first chapter of this thesis. The field was investigated by a phase technique and the point source of radiation reasonably well established. Several diffraction patterns about a dielectric and a conducting rod were taken at several distances behind the rod with E vector of the field parallel to the axis of the rod. These were qualitatively analysed and compared with the patterns of one other worker at 1.25 cm. Agreements and differences were noted. / Thesis / Master of Science (MS)