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Zur Erfassung von form- und materialbedingten Oberflächenstrukturen mit Mikro-Deflexions-EllipsometrieWirth, Frank. Unknown Date (has links) (PDF)
Kassel, Universiẗat, Diss., 2008.
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Entwicklung eines elektrooptischen Ellipsometers und dessen Erprobung im Bereich der GlaukomfrüherkennungTürpitz, Alexander. January 2000 (has links)
Heidelberg, Univ., Diplomarb., 1997.
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Ellipsometry study of the c-axis pseudogap in high temperature superconductors with Zn and Ni impuritiesPimenov, Alexei, January 2005 (has links) (PDF)
Stuttgart, Univ., Diss., 2005.
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Lichtinduzierte Generierung und Charakterisierung optischer AnisotropieJung, Carl Christoph. January 2004 (has links)
Zugl.: Potsdam, Univ., veränd. Diss., 2004.
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The initial stages of the oxidation of zirconiumLyapin, Andrey January 2005 (has links) (PDF)
Zugl.: Stuttgart, Univ., Diss., 2005
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Charakterisierung von molekularen und biomolekularen Wechselwirkungen mittels Kalorimetrie und spektroskopischen MethodenWöllner, Karin, January 2008 (has links)
Tübingen, Univ., Diss., 2008.
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The initial stages of the oxidation of zirconiumLyapin, Andrey, January 2005 (has links)
Zugl.: Stuttgart, Univ., Diss., 2005.
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On the initial oxidation of MgAl alloysVinodh, M. S., January 2006 (has links)
Zugl.: Stuttgart, Univ., Diss., 2006.
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Einsatzmöglichkeiten und Grenzen der temperaturvariablen Ellipsometrie zur thermophysikalischen Charakterisierung polymerer SchichtenKahle, Olaf. Unknown Date (has links) (PDF)
Brandenburgische Techn. Universiẗat, Diss., 2002--Cottbus.
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Adsorptionsschichten an fluiden Grenzflächen : Skalengesetze und IonenverteilungenTeppner, Randolf January 2000 (has links)
In dieser Arbeit wurden zwei Themenbereiche bearbeitet: <br />
1. Ellipsometrie an Adsorpionsschichten niedermolekularer Tenside an der Wasser/Luft-Grenzfläche (Ellipsometrie ist geeignet, adsorbierte Mengen von nicht- und zwitterionischen Tensiden zu messen, bei ionischen werden zusätzlich die Gegenionen mit erfaßt; Ellipsometrie mißt sich ändernde Gegenionenverteilung).<br />
2. Ellipsometrische Untersuchung von endadsorbierten Polymerbürsten an der Wasser/Öl-Grenzfläche (Ellipsometrie ist nicht in der Lage, verschiedene Segmentkonzentrationsprofile innerhalb der Bürste aufzulösen, ist aber sehr wohl geeignet, Skalengesetze für Dicken und Drücke in Abhängigkeit von Ankerdichte und Kettenlänge der Polymere zu überprüfen; für in Heptan gequollene Poly-isobuten-Bürsten konnte gezeigt werden, daß sie sich entsprechend den theoretischen Vorhersagen für Bürsten in einem theta-Lösungsmittel verhalten) / In this publication two subjects are dealt with:<br />
1. Ellipsometry on adsorption layers of low molecular weight surfactants at the air/water-interface (Ellipsometry is suitable to measure adsorbed amounts of non-ionic surfactants, whereas this is impossible for ionic surfactants; in the latter case the ellipsometric signal is strongly influenced by the counter ion distribution; ellipsometry can measure changes in the counter ion distribution)<br />
2. Ellipsometric investigation of polymer brushes anchored to the oil/water-interface (Ellipsometry is not able to distinguish between different segmental concentration profiles within the brush, but it is nevertheless suitable to check scaling laws for brush height and pressure in dependence on anchor density and degree of polymerization of the polymers; it could be shown, that brushes of poly-isobutylene swollen in heptane behave as predicted for brushes in a theta-solvent)
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