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11	Ellipsometrie an organischen Dünnfilmen und Einkristallen zur Bestimmung der optischen und strukturellen Eigenschaften Faltermeier, Daniel, January 2007 (has links) Stuttgart, Univ., Diss., 2007.
12	Die optische Selektivität von W/Altn2O3-Schichten nach Auslagerungen bei 500C mittels spektraler Ellipsometrie zwischen 0,25 und 25 63mm Ǧahānbakhsh, Mohammad. Unknown Date (has links) Techn. Universiẗat, Diss., 1998--Berlin.
13	Untersuchungen zur CO-Oxidation auf Platin mittels optischer Abbildungsmethoden Heumann, Jan P. Unknown Date (has links) (PDF) Tech. Universiẗat, Diss., 2001--Berlin.
14	In-situ Wachstumsuntersuchungen zur selbstorganisierten Ausbildung von InAs-Quantenpunkten auf GaAs(001)-Oberflächen Steimetz, Elisabeth. Unknown Date (has links) (PDF) Techn. Universiẗat, Diss., 2002--Berlin.
15	Spectroscopic ellipsometry of interfacial phase transitions in fluid metallic systems: Kx(KCl)1_x and Ga1_xBix Dogel, Stanislav. January 2004 (has links) (PDF) University, Diss., 2004--Karlsruhe.
16	Surface and interface structure of electrochemically grafted ultra-thin organic films on metallic and semiconducting materials Roodenko, Ecatherina January 2008 (has links) Zugl.: Berlin, Techn. Univ., Diss., 2008
17	Ellipsometrische Untersuchungen an Plasmapolymeren und plasmamodifizierten Polymeroberflaechen Rochotzki, Ralf. January 1996 (has links) Chemnitz-Zwickau, Techn. Univ., Diss., 1996.
18	PLD-Wachstum und Charakterisierung von dünnen Filmen aus Europium- und Yttriumhydriden Schröter, Helge January 2010 (has links) Zugl.: Braunschweig, Techn. Univ., Diss., 2010
19	Echtzeitanalyse des photoinduzierten Wachstums von Siliziumoxid mittels spektroskopischer Ellipsometrie und FTIR-Spektroskopie Patzner, Patrik. Unknown Date (has links) (PDF) Universiẗat, Diss., 2004--Heidelberg.
20	Herstellung und Charakterisierung von organischen Schichtsystemen Lehmann, Daniel 30 November 2005 (has links) (PDF) Im Rahmen dieser Diplomarbeit wurde eine Ultrahochvakuumanlage für organische Molekularstrahldeposition (OMBD) konzipiert und gefertigt, die das Aufwachsen von einzelnen organischen Schichten bis hin zu komplexen Schichtsystemen auf geeigneten Substraten erlaubt. Mit einem ebenfalls konzipierten und gefertigten Probenhalter, sind elektrische Messungen in situ möglich. Für weitere Charakterisierungsmethoden, wie der spektroskopischen Ellipsometrie und der Reflexions-Anisotropie-Spektroskopie sind ebenfalls Optionen für in-situ-Messungen an der UHV-Anlage vorgesehen. Mit dieser Anlage wurden einzelne organische Schichten von Zinkphthalocyanin (ZnPc), Fulleren C60 und Bathocuproin (BCP) hergestellt, die anschließend mit spektroskopischer Ellipsometrie ex situ untersucht wurden. Mit der Herstellung organischer Solarzellen, auf Basis der zuvor hergestellten organischen Einzelschichten, konnte gezeigt werden, dass mit der UHV-Anlage komplexe organische Schichtsysteme erzeugt werden können, an denen in-situ-elektrische Messungen durchführbar sind. / Within the scope of this diploma thesis, a ultra high vacuum chamber for organic molecular beam deposition (OMBD) was designed and built, which allows the growth of single organic layers and complex composit layer structures. With an also designed and built sample holder, it is possible to make in situ electrical measurements. Single organic layers of zinc-phthalocyanine (ZnPc), fullerene C60 and bathocuproine (BCP) were deposited inside this chamber and characterized ex situ by spectroscopic ellipsometry. The preparation of an organic photovoltaic (OPV) cell based on the before characterized single layers, demonstrates that it is possible to deposit complex layer structures and characterize them electrical in situ. BCP C60 OMBD Organische Molekularstrahldeposition VASE ZnPc ddc:530 Ellipsometrie Organischer Halbleiter Solarzelle Ultrahochvakuum

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