Les processeurs intégrés dans des domaines critiques exigent une combinaison de fiabilité, de performances et de faible consommation d'énergie. Very Large Instruction Word (VLIW) processeurs améliorent les performances grâce à l'exploitation ILP (Instruction Level Parallelism), tout en maintenant les coûts et la puissance à un niveau bas. L’ILP étant fortement dépendant de l'application, le processeur n'utilise pas toutes ses ressources en permanence et ces ressources peuvent donc être utilisées pour l'exécution d'instructions redondantes. Cette thèse présente une méthodologie d’injection fautes pour processeurs VLIW et trois mécanismes matériels pour traiter les pannes légères, permanentes et à long terme menant à trois contributions.La première contribution présente un schéma d’analyse du facteur de vulnérabilité architecturale et du facteur de vulnérabilité d’instruction pour les processeurs VLIW. Une méthodologie d’injection de fautes au niveau de différentes structures de mémoire est proposée pour extraire les capacités de masquage architecture / instruction du processeur. Un schéma de classification des défaillances de haut niveau est présenté pour catégoriser la sortie du processeur. La deuxième contribution explore les ressources inactives hétérogènes au moment de l'exécution, à l'intérieur et à travers des ensembles d'instructions consécutifs. Pour ce faire, une technique d’ordonnancement des instructions optimisée pour le matériel est appliquée en parallèle avec le pipeline afin de contrôler efficacement la réplication et l’ordonnancement des instructions. Suivant les tendances à la parallélisation croissante, une conception basée sur les clusters est également proposée pour résoudre les problèmes d’évolutivité, tout en maintenant une pénalité surface/énergie raisonnable. La technique proposée accélère la performance de 43,68% avec une surcoût en surface et en énergie de ~10% par rapport aux approches existantes. Les analyses AVF et IVF évaluent la vulnérabilité du processeur avec le mécanisme proposé.La troisième contribution traite des défauts persistants. Un mécanisme matériel est proposé, qui réplique au moment de l'exécution les instructions et les planifie aux emplacements inactifs en tenant compte des contraintes de ressources. Si une ressource devient défaillante, l'approche proposée permet de relier efficacement les instructions d'origine et les instructions répliquées pendant l'exécution. Les premiers résultats de performance d’évaluation montrent un gain de performance jusqu’à 49% sur les techniques existantes.Afin de réduire davantage le surcoût lié aux performances et de prendre en charge l’atténuation des erreurs uniques et multiples sur les transitoires de longue durée (LDT), une quatrième contribution est présentée. Nous proposons un mécanisme matériel qui détecte les défauts toujours actifs pendant l'exécution et réorganise les instructions pour utiliser non seulement les unités fonctionnelles saines, mais également les composants sans défaillance des unités fonctionnelles concernées. Lorsque le défaut disparaît, les composants de l'unité fonctionnelle concernés peuvent être réutilisés. La fenêtre de planification du mécanisme proposé comprend deux ensembles d'instructions pouvant explorer des solutions d'atténuation lors de l'exécution de l'instruction en cours et de l'instruction suivante. Les résultats obtenus sur l'injection de fautes montrent que l'approche proposée peut atténuer un grand nombre de fautes avec des performances, une surface et une surcharge de puissance faibles. / Embedded processors in critical domains require a combination of reliability, performance and low energy consumption. Very Long Instruction Word (VLIW) processors provide performance improvements through Instruction Level Parallelism (ILP) exploitation, while keeping cost and power in low levels. Since the ILP is highly application dependent, the processor does not use all its resources constantly and, thus, these resources can be utilized for redundant instruction execution. This thesis presents a fault injection methodology for VLIW processors and three hardware mechanisms to deal with soft, permanent and long-term faults leading to three contributions. The first contribution presents an Architectural Vulnerability Factor (AVF) and Instruction Vulnerability Factor (IVF) analysis schema for VLIW processors. A fault injection methodology at different memory structures is proposed to extract the architectural/instruction masking capabilities of the processor. A high-level failure classification schema is presented to categorize the output of the processor. The second contribution explores heterogeneous idle resources at run-time both inside and across consecutive instruction bundles. To achieve this, a hardware optimized instruction scheduling technique is applied in parallel with the pipeline to efficiently control the replication and the scheduling of the instructions. Following the trends of increasing parallelization, a cluster-based design is also proposed to tackle the issues of scalability, while maintaining a reasonable area/power overhead. The proposed technique achieves a speed-up of 43.68% in performance with a ~10% area and power overhead over existing approaches. AVF and IVF analysis evaluate the vulnerability of the processor with the proposed mechanism.The third contribution deals with persistent faults. A hardware mechanism is proposed which replicates at run-time the instructions and schedules them at the idle slots considering the resource constraints. If a resource becomes faulty, the proposed approach efficiently rebinds both the original and replicated instructions during execution. Early evaluation performance results show up to 49\% performance gain over existing techniques.In order to further decrease the performance overhead and to support single and multiple Long-Duration Transient (LDT) error mitigation a fourth contribution is presented. We propose a hardware mechanism, which detects the faults that are still active during execution and re-schedules the instructions to use not only the healthy function units, but also the fault-free components of the affected function units. When the fault faints, the affected function unit components can be reused. The scheduling window of the proposed mechanism is two instruction bundles being able to explore mitigation solutions in the current and the next instruction execution. The obtained fault injection results show that the proposed approach can mitigate a large number of faults with low performance, area, and power overhead.