Darbe analizuojami ZnS ploni sluoksniai, gauti vakuuminio garinimo būdu. Tyrimai atliekami skenuojančio zondo mikroskopijos metodu. Ištirta plonų sluoksnių paviršiaus struktūra ir įvertintas gamybos metodo kokybiškumas. Išmatavus srovių priklausomybes nuo įtampų, esant skirtingoms bandinio temperatūroms, sudarytos voltamperines charakteristikos (VACh), tokiu būdu nustatytas ZnS plėvelės laidumo mechanizmas. Įvertinta aktyvacijos energija (lygi 0,64 eV). Nustatyta, kad srovę tiriamoje struktūroje sąlygoja elektronų tuneliniai šuoliai iš paviršinių puslaidininkio būsenų dalyvaujant fononams. Remiantis gautais duomenimis galima teigti, kad vakuuminio garinimo metodu gauti ZnS sluoksniai pasižymi dideliais paviršiaus netolygumais. / The paper analyzes the ZnS thin films obtained by vacuum evaporation. Research carried out by scanning probe microscopy. The structure of thin layers surface is investigated and the quality of the production method is assessed. Measuring the voltage dependence of currents at different sample temperatures concluded voltage characteristics (VACh), thus the conduction mechanism of ZnS films was determined. Estimated thermal activation energy is 0.64 eV. It was found that the electrical current of the investigated structure is determined by tunneled electron jumps from the semiconductor surface states in the presence of phonons. Experiments results show that the ZnS layers produced by vacuum evaporation method are characterized by large surface irregularities.

Šiame darbe yra aptariamos elektroninės mikroskopijos technologijos, elektroninių mikroskopų pagrindiniai veikimo principai, jais gaunami vaizdai bei apdorojimo metodai, funkcionalumo praplėtimo galimybės. Ypatingas dėmesys yra skiriamas – Artimo lauko optinio skenavimo mikroskopijai (SNOM – Scanning Near-Field Optical Microscopy). Darbo eigoje suprojektuota ir sukurta programinė įranga, leidžianti prie SNOM tipo mikroskopo prijungti nestandartinį grįžtamojo signalo įrenginį - fotonų skaitiklį. Fotonų skaitiklis yra daug jautresnis už standartiškai naudojamą fotodaugintuvą, tai leidžia SNOM mikroskopu atlikti naujus eksperimentus, kaip fluorescencijos tyrimas, tiriamųjų objektų žymėjimas kvantiniais taškais ir kt. Suprojektuota programa valdo SNOM naudodama sąsajas su mikroskopo programine įranga, sinchronizuoja fotonų skaitikliu gaunamus rezultatus, generuoja vaizdus, pateikia galimybes juos išsaugoti įvairiais formatais. Atlikus programos funkcionalumo tyrimą realiomis sąlygomis, buvo atrasti ir pašalinti programos trūkumai (susiję su sinchronizacija ir SNOM zondo veikimo ypatumais), bei nustatytos fotonų skaitiklio greitaveikos ribos, maksimalios fotonų skaičiaus reikšmės, rekomenduojama matavimo periodo trukmė. Darbe naudojamo fotonų skaitiklio greitaveikos problemoms spręsti pasiūlytas fotonų skaitiklio vienlustės sistemos projektas. Vienlustei sistemai sukurti buvo naudojami duomenys, surinkti programinės įrangos kūrimo ir testavimo metu. Pateikiami vienlustės sistemos... [toliau žr. visą tekstą] / This paper describes technologies used in electronic microscopy, mainly SNOM (Scanning Near-Field Optical Microscopy) and functionality extension possibilities. Software that enables using a photon counting unit as a supplementary input device was designed and presented. The photon counting device is much more sensitive than standard input device, thus new experiments as fluorescence research and Q-dot marking becomes available. The designed software collects data from photon counting unit and utilizes scripts to link with default SNOM software that controls probe movement. While testing the software, issues related to latency and synchronization helped to find out timing limits and optimal probe movement paths. To improve quality and speed of the whole scanning process a system-on-chip (SoC) project is presented. The paper provides details of SoC design, operation and limitations.