La probabilité des fautes transitoires augmente avec l'évolution des technologies. Ceci a suscité un intérêt croissant pour les méthodes prédictives d'analyse des comportements erronés d'un circuit. Ce travail porte sur l'étude de deux aspects complémentaires : l'injection de fautes dans des circuits décrits au niveau RTL et l'analyse des résultats obtenus à l'issue de campagnes d'injection.<br />Nous présentons une nouvelle approche pour la génération de mutants, permettant l'instrumentation d'un circuit pour des modèles de fautes hétérogènes. Pendant la définition d'une campagne d'injection de fautes, le flot d'analyse que nous avons proposé permet au concepteur d'introduire, dans le même circuit, des inversions de bits uniques (SEU) ou multiples (MBF), ou encore des transitions erronées. En outre, nous avons visé une génération de mutant la plus efficace selon plusieurs contraintes qui incluent (1) la modification simple et automatique de la description initiale du circuit, (2) l'optimisation des entrées additionnelles pour le contrôle d'injection et (3) la réduction du surcoût matériel après synthèse pour une bonne compatibilité avec des campagnes d'injection de fautes basées sur l'émulation.<br />Dans le flot d'analyse, un modèle comportemental est généré permettant au concepteur d'identifier les chemins de propagation d'erreurs dans le circuit. Une telle analyse vise à identifier, très tôt dans le flot de conception, les modes de défaillance inacceptables d'un circuit afin de modifier immédiatement sa description et ainsi améliorer sa robustesse.<br />Nous présentons des résultats obtenus suite à des injections multi niveaux dans des descriptions VHDL de circuits numériques. Ces résultats démontrent qu'une campagne d'injection réalisée très tôt dans le processus de conception, sur une description encore très éloignée de l'implémentation finale, peut donner des informations très utiles sur les caractéristiques de sûreté d'un circuit.