Cada vez mais, estudos ressaltam os efeitos nocivos da radiação advinda de exames radiográficos, chamando atenção para o risco que podem representar à saúde dos indivíduos. Tendo em vista as inúmeras alterações celulares derivadas das exposições aos raios X, foi objetivo deste trabalho avaliar a ação de 12 R de radiação X, aplicados semanalmente em camundongos, desde uma idade precoce até a vida adulta, analisando a sua ação nas células a partir do desenvolvimento mandibular. Para tanto, foi realizado um estudo experimental utilizando 90 camundongos machos com 6 semanas de vida, tendo um grupo-controle (G1 – 40 animais), um grupo que foi exposto à radiação semanalmente durante 30 semanas (G2 – 40 animais) e um grupo de 10 animais, (G0) que foi utilizado para o estabelecimento das medidas mandibulares iniciais de controle. Ao término do experimento, os animais foram anestesiados e mortos por decapitação sendo suas mandíbulas removidas para serem dissecadas. Posteriormente, estas foram fotografadas com máquina digital utilizando parâmetros específicos e, através do software Image Tool, foram realizadas seis medidas mandibulares. A análise de variância múltipla considerando as seis medidas como variáveis dependentes mostrou diferença estatística significativa para todas as medidas. Através dos resultados obtidos, pôde-se detectar a interferência da radiação X em doses baixas e periódicas como agente externo, causando diminuição do crescimento ósseo em mandíbulas de camundongos durante o envelhecimento. Assim, é possível concluir que existe associação entre exposição crônica à radiação X e redução no crescimento mandibular de camundongos (p<0,05). / Studies have increasingly stressed the negative effects of radiation from X-ray examinations, and have drawn attention to the risk it may represent to patient health. Several cell changes occur due to exposure to X-rays. The purpose of this study was to evaluate the effect of low-dose X –ray exposure on cells from an early age to adulthood by analyzing mandibular development. An experimental study was conducted with 90 six-week-old male mice divided into a control group (G1 – 40 animals), a group exposed to radiation weekly for 30 weeks (G2 – 40 animals) and a group of 10 animals (G0) used to define initial control mandibular measures. After the experiment, the animals were anesthetized and beheaded, and their mandibles were removed for dissection. The mandibles were then photographed digitally using specific parameters. The Image Tool software was used to obtain six mandibular measures. Multiple analysis of variance using the six measures as dependent variables showed a statistically significant difference in all measures. Results showed that there is an association between chronic X-ray exposure and reduction in mandibular growth in mice (p<0.05).

Esta pesquisa teve como objetivo estudar o efeito da radiação X, em baixas doses, nos processos de perda e reparação óssea alveolar em camundongos submetidos à cirurgia de retalho mucoperiostal. O processo de perda óssea alveolar é um fenômeno comum em todos os indivíduos, entretanto, sabe-se que o descolamento da mucosa nesta região estimula tal fenômeno. Sabendo dos efeitos biológicos da radiação X sobre os tecidos, procurou-se analisar a possível interferência de ação da mesma como agente adicional a este processo. Foram utilizados 72 camundongos CF 1 Mus Domesticus divididos em grupo teste (expostos à quatro doses semanais de 0,002C/Kg de radiação) e controle (não expostos à radiação). Os resultados mostraram, segundo análises estatísticas, utilizando o teste Kruskal Wallis e teste U de Mann- Whitney, que não houve diferença significativa, considerando p= 0,05, em relação a perda e reparação óssea alveolar entre o grupo teste e controle. Pôde-se concluir que dose de radiação compatível com exames de investigação por imagem, por um período de quatro semanas, não altera os padrões de reabsorção e reparação óssea alveolar em camundongos submetidos à cirurgia de retalho mucoperiostal. / This research aims to study the effects of x-radiation, in low doses, to the alveolar bone loss and repair processes in mice submitted to chirurgical mucoperistal flap. Alveolar bone loss is common to all individuals, but it is known that the displacement of the mucosa stimulates the phenomenon. In order to analyze x-radiation as an additional agent to this process of loss and repair, 72 CF 1 Mus Domesticus mice were divided into experimental group (exposed to radiation) and test group (not exposed to radiation) at a dose of 0,002C/Kg. The results showed no significant difference in alveolar bone loss and repair comparing the experimental and the test groups, considering p = 0,05. It is possible to conclude, therefore, that low doses of radiation during a period of four weeks does not alter the patterns of alveolar bone loss and repair in mice submitted to chirurgical mucoperistal flap.

Esta pesquisa teve como objetivo estudar o efeito da radiação X, em baixas doses, nos processos de perda e reparação óssea alveolar em camundongos submetidos à cirurgia de retalho mucoperiostal. O processo de perda óssea alveolar é um fenômeno comum em todos os indivíduos, entretanto, sabe-se que o descolamento da mucosa nesta região estimula tal fenômeno. Sabendo dos efeitos biológicos da radiação X sobre os tecidos, procurou-se analisar a possível interferência de ação da mesma como agente adicional a este processo. Foram utilizados 72 camundongos CF 1 Mus Domesticus divididos em grupo teste (expostos à quatro doses semanais de 0,002C/Kg de radiação) e controle (não expostos à radiação). Os resultados mostraram, segundo análises estatísticas, utilizando o teste Kruskal Wallis e teste U de Mann- Whitney, que não houve diferença significativa, considerando p= 0,05, em relação a perda e reparação óssea alveolar entre o grupo teste e controle. Pôde-se concluir que dose de radiação compatível com exames de investigação por imagem, por um período de quatro semanas, não altera os padrões de reabsorção e reparação óssea alveolar em camundongos submetidos à cirurgia de retalho mucoperiostal. / This research aims to study the effects of x-radiation, in low doses, to the alveolar bone loss and repair processes in mice submitted to chirurgical mucoperistal flap. Alveolar bone loss is common to all individuals, but it is known that the displacement of the mucosa stimulates the phenomenon. In order to analyze x-radiation as an additional agent to this process of loss and repair, 72 CF 1 Mus Domesticus mice were divided into experimental group (exposed to radiation) and test group (not exposed to radiation) at a dose of 0,002C/Kg. The results showed no significant difference in alveolar bone loss and repair comparing the experimental and the test groups, considering p = 0,05. It is possible to conclude, therefore, that low doses of radiation during a period of four weeks does not alter the patterns of alveolar bone loss and repair in mice submitted to chirurgical mucoperistal flap.

Cada vez mais, estudos ressaltam os efeitos nocivos da radiação advinda de exames radiográficos, chamando atenção para o risco que podem representar à saúde dos indivíduos. Tendo em vista as inúmeras alterações celulares derivadas das exposições aos raios X, foi objetivo deste trabalho avaliar a ação de 12 R de radiação X, aplicados semanalmente em camundongos, desde uma idade precoce até a vida adulta, analisando a sua ação nas células a partir do desenvolvimento mandibular. Para tanto, foi realizado um estudo experimental utilizando 90 camundongos machos com 6 semanas de vida, tendo um grupo-controle (G1 – 40 animais), um grupo que foi exposto à radiação semanalmente durante 30 semanas (G2 – 40 animais) e um grupo de 10 animais, (G0) que foi utilizado para o estabelecimento das medidas mandibulares iniciais de controle. Ao término do experimento, os animais foram anestesiados e mortos por decapitação sendo suas mandíbulas removidas para serem dissecadas. Posteriormente, estas foram fotografadas com máquina digital utilizando parâmetros específicos e, através do software Image Tool, foram realizadas seis medidas mandibulares. A análise de variância múltipla considerando as seis medidas como variáveis dependentes mostrou diferença estatística significativa para todas as medidas. Através dos resultados obtidos, pôde-se detectar a interferência da radiação X em doses baixas e periódicas como agente externo, causando diminuição do crescimento ósseo em mandíbulas de camundongos durante o envelhecimento. Assim, é possível concluir que existe associação entre exposição crônica à radiação X e redução no crescimento mandibular de camundongos (p<0,05). / Studies have increasingly stressed the negative effects of radiation from X-ray examinations, and have drawn attention to the risk it may represent to patient health. Several cell changes occur due to exposure to X-rays. The purpose of this study was to evaluate the effect of low-dose X –ray exposure on cells from an early age to adulthood by analyzing mandibular development. An experimental study was conducted with 90 six-week-old male mice divided into a control group (G1 – 40 animals), a group exposed to radiation weekly for 30 weeks (G2 – 40 animals) and a group of 10 animals (G0) used to define initial control mandibular measures. After the experiment, the animals were anesthetized and beheaded, and their mandibles were removed for dissection. The mandibles were then photographed digitally using specific parameters. The Image Tool software was used to obtain six mandibular measures. Multiple analysis of variance using the six measures as dependent variables showed a statistically significant difference in all measures. Results showed that there is an association between chronic X-ray exposure and reduction in mandibular growth in mice (p<0.05).

Cada vez mais, estudos ressaltam os efeitos nocivos da radiação advinda de exames radiográficos, chamando atenção para o risco que podem representar à saúde dos indivíduos. Tendo em vista as inúmeras alterações celulares derivadas das exposições aos raios X, foi objetivo deste trabalho avaliar a ação de 12 R de radiação X, aplicados semanalmente em camundongos, desde uma idade precoce até a vida adulta, analisando a sua ação nas células a partir do desenvolvimento mandibular. Para tanto, foi realizado um estudo experimental utilizando 90 camundongos machos com 6 semanas de vida, tendo um grupo-controle (G1 – 40 animais), um grupo que foi exposto à radiação semanalmente durante 30 semanas (G2 – 40 animais) e um grupo de 10 animais, (G0) que foi utilizado para o estabelecimento das medidas mandibulares iniciais de controle. Ao término do experimento, os animais foram anestesiados e mortos por decapitação sendo suas mandíbulas removidas para serem dissecadas. Posteriormente, estas foram fotografadas com máquina digital utilizando parâmetros específicos e, através do software Image Tool, foram realizadas seis medidas mandibulares. A análise de variância múltipla considerando as seis medidas como variáveis dependentes mostrou diferença estatística significativa para todas as medidas. Através dos resultados obtidos, pôde-se detectar a interferência da radiação X em doses baixas e periódicas como agente externo, causando diminuição do crescimento ósseo em mandíbulas de camundongos durante o envelhecimento. Assim, é possível concluir que existe associação entre exposição crônica à radiação X e redução no crescimento mandibular de camundongos (p<0,05). / Studies have increasingly stressed the negative effects of radiation from X-ray examinations, and have drawn attention to the risk it may represent to patient health. Several cell changes occur due to exposure to X-rays. The purpose of this study was to evaluate the effect of low-dose X –ray exposure on cells from an early age to adulthood by analyzing mandibular development. An experimental study was conducted with 90 six-week-old male mice divided into a control group (G1 – 40 animals), a group exposed to radiation weekly for 30 weeks (G2 – 40 animals) and a group of 10 animals (G0) used to define initial control mandibular measures. After the experiment, the animals were anesthetized and beheaded, and their mandibles were removed for dissection. The mandibles were then photographed digitally using specific parameters. The Image Tool software was used to obtain six mandibular measures. Multiple analysis of variance using the six measures as dependent variables showed a statistically significant difference in all measures. Results showed that there is an association between chronic X-ray exposure and reduction in mandibular growth in mice (p<0.05).

Esta pesquisa teve como objetivo estudar o efeito da radiação X, em baixas doses, nos processos de perda e reparação óssea alveolar em camundongos submetidos à cirurgia de retalho mucoperiostal. O processo de perda óssea alveolar é um fenômeno comum em todos os indivíduos, entretanto, sabe-se que o descolamento da mucosa nesta região estimula tal fenômeno. Sabendo dos efeitos biológicos da radiação X sobre os tecidos, procurou-se analisar a possível interferência de ação da mesma como agente adicional a este processo. Foram utilizados 72 camundongos CF 1 Mus Domesticus divididos em grupo teste (expostos à quatro doses semanais de 0,002C/Kg de radiação) e controle (não expostos à radiação). Os resultados mostraram, segundo análises estatísticas, utilizando o teste Kruskal Wallis e teste U de Mann- Whitney, que não houve diferença significativa, considerando p= 0,05, em relação a perda e reparação óssea alveolar entre o grupo teste e controle. Pôde-se concluir que dose de radiação compatível com exames de investigação por imagem, por um período de quatro semanas, não altera os padrões de reabsorção e reparação óssea alveolar em camundongos submetidos à cirurgia de retalho mucoperiostal. / This research aims to study the effects of x-radiation, in low doses, to the alveolar bone loss and repair processes in mice submitted to chirurgical mucoperistal flap. Alveolar bone loss is common to all individuals, but it is known that the displacement of the mucosa stimulates the phenomenon. In order to analyze x-radiation as an additional agent to this process of loss and repair, 72 CF 1 Mus Domesticus mice were divided into experimental group (exposed to radiation) and test group (not exposed to radiation) at a dose of 0,002C/Kg. The results showed no significant difference in alveolar bone loss and repair comparing the experimental and the test groups, considering p = 0,05. It is possible to conclude, therefore, that low doses of radiation during a period of four weeks does not alter the patterns of alveolar bone loss and repair in mice submitted to chirurgical mucoperistal flap.

Este trabalho estuda os efeitos da radiação em dispositivos analógicos programáveis (FPAAs, do inglês, Field Programmable Analog Arrays) e técnicas de proteção que podem ser aplicadas para mitigar tais efeitos. Circuitos operando no espaço ou em altitudes elevadas, como, por exemplo, em satélites e aeronaves, recebem doses de radiação e impacto de íons e outras partículas que, dependendo da altitude e de características do próprio circuito, podem afetar o seu correto funcionamento. Os FPAAs proporcionam características interessantes aos sistemas analógicos e de sinal misto, como a prototipação rápida e a possibilidade de reconfiguração dinâmica (permitindo a implementação de sistemas de instrumentação e controle adaptativos). Assim, os FPAAs podem ser atrativos aos projetistas de sistemas de aplicação espacial, uma vez que a utilização de componentes comerciais, (COTS - do inglês, Commercial Off-The-Shelf), é uma alternativa para redução de custos do sistema final. Por isso, é necessário classificar estes dispositivos segundo o nível de tolerância à radiação e desenvolver técnicas de proteção contra seus efeitos. Essencialmente, é possível dividir os efeitos da radiação em dois principais grupos: efeitos de dose total ionizante ou TID (do inglês, Total Ionizing Dose) e os eventos singulares (Single Event Effects ou SEEs). Os dois principais eventos singulares que podem perturbar os FPAAs são investigados: os SETs (Single Event Transients) e os SEUs (Single Event Upsets). Os SETs podem gerar pulsos transientes em determinados nós do circuito, e, quando atingem o inversor de controle das portas de transmissão dos bancos de capacitores do dispositivo, podem ocasionar uma redistribuição de carga entre os capacitores do banco, afetando temporariamente o sinal que trafega pelo FPAA. Tais efeitos foram investigados através de simulações spice. Já os SEUs podem afetar os FPAAs que são baseados em memória do tipo SRAM. Para investigar tais efeitos foram realizados experimentos de injeção de falhas do tipo bit-flip (inversão de bit) no bitstream de programação de um FPAA baseado neste tipo de memória. Os experimentos mostraram que a inversão de um único bit pode ser catastrófica para o funcionamento do sistema. Posteriormente, um esquema self-checking (autoverificável) baseado em redundância foi proposto. Tal esquema foi construído com os recursos programáveis do FPAA e é capaz de recuperar os dados originais de programação do dispositivo se um erro for detectado. A capacidade do esquema proposto de detectar desvios funcionais no bloco sob teste e sua confiabilidade quando os seus próprios blocos são afetados por inversão de bits de memória, foram investigadas. Finalmente, os efeitos de dose total sobre dispositivos programáveis foram investigados através de um experimento prático, no qual um FPAA comercial foi bombardeado por radiação gama proveniente de uma fonte de Cobalto-60. Os resultados experimentais mostraramm que as chaves analógicas, que proporcionam a programabilidade do dispositivo, e seus circuitos de controle são os principais responsáveis por degradar o sinal processado pelo FPAA quando determinados níveis de dose total acumulada são atingidos. / In this work the radiation effects on Field Programmable Analog Arrays (FPAAs) are studied and mitigation techniques are proposed. The main effects induced by radiation sources in electronic circuits operating in space and at high altitudes are SEU (Single Event Upset), SET (Single Event Transient) and TID (Total Ionizing Dose). FPAAs are programmable analog circuits that provide design flexibility and some interesting features for applications such as adaptive control and instrumentation and evolvable analog hardware. These features can be very useful in avionics and space applications, where the system environmental variables can vary significantly in few minutes, being necessary to re-calibrate the sensor conditioning circuits to correct errors or improve system performance, for example. Since the use of commercial off-the-shelf (COTS) components may reduce systems costs in such critical applications, it is very important to develop system-level mitigation techniques (to radiation effects), aiming the increasing of the reliability of commercial available devices (including FPAAs). Some FPAA models are based on SRAM memory cells, which make this kind of device vulnerable to SEU when employed in applications susceptible to radiation incidence. An SEU can affect the programming memory of the FPAA and change the device configuration, modifying the analog circuit behavior. In this work, fault injection experiments were performed in order to investigate the effects of SEU in a commercial FPAA by injecting bit-flips in the FPAA programming bitstream. Then, a self-checking scheme was proposed. This scheme, which is built with the FPAA available programming resources, is able to restore the original programming data if an error is detected. Fault injection was also performed to investigate the reliability of the checker when the bitstream section which controls its own blocks is corrupted due to an SEU. Results indicated a very low aliasing probability due to single faults in the checker (0.24%). Effects of SET were also studied, considering the disturbance of the switches (transmission gates) of the FPAA programmable capacitor banks. Spice simulations showed that transient pulses in the control circuit of the switches may lead to charge redistribution between the capacitors of the bank, affecting the voltage and current of the involved nodes. Finally, total ionizing dose (TID) effects were investigated by means of an irradiation experiment. In such experiment the FPAA was exposed to Cobalt-60 gamma radiation. The experimental results showed that the analog switches of the device as well as their control circuits are the main responsible for degradating the processed signal when certain radiation levels were achieved.

Este trabalho estuda os efeitos da radiação em dispositivos analógicos programáveis (FPAAs, do inglês, Field Programmable Analog Arrays) e técnicas de proteção que podem ser aplicadas para mitigar tais efeitos. Circuitos operando no espaço ou em altitudes elevadas, como, por exemplo, em satélites e aeronaves, recebem doses de radiação e impacto de íons e outras partículas que, dependendo da altitude e de características do próprio circuito, podem afetar o seu correto funcionamento. Os FPAAs proporcionam características interessantes aos sistemas analógicos e de sinal misto, como a prototipação rápida e a possibilidade de reconfiguração dinâmica (permitindo a implementação de sistemas de instrumentação e controle adaptativos). Assim, os FPAAs podem ser atrativos aos projetistas de sistemas de aplicação espacial, uma vez que a utilização de componentes comerciais, (COTS - do inglês, Commercial Off-The-Shelf), é uma alternativa para redução de custos do sistema final. Por isso, é necessário classificar estes dispositivos segundo o nível de tolerância à radiação e desenvolver técnicas de proteção contra seus efeitos. Essencialmente, é possível dividir os efeitos da radiação em dois principais grupos: efeitos de dose total ionizante ou TID (do inglês, Total Ionizing Dose) e os eventos singulares (Single Event Effects ou SEEs). Os dois principais eventos singulares que podem perturbar os FPAAs são investigados: os SETs (Single Event Transients) e os SEUs (Single Event Upsets). Os SETs podem gerar pulsos transientes em determinados nós do circuito, e, quando atingem o inversor de controle das portas de transmissão dos bancos de capacitores do dispositivo, podem ocasionar uma redistribuição de carga entre os capacitores do banco, afetando temporariamente o sinal que trafega pelo FPAA. Tais efeitos foram investigados através de simulações spice. Já os SEUs podem afetar os FPAAs que são baseados em memória do tipo SRAM. Para investigar tais efeitos foram realizados experimentos de injeção de falhas do tipo bit-flip (inversão de bit) no bitstream de programação de um FPAA baseado neste tipo de memória. Os experimentos mostraram que a inversão de um único bit pode ser catastrófica para o funcionamento do sistema. Posteriormente, um esquema self-checking (autoverificável) baseado em redundância foi proposto. Tal esquema foi construído com os recursos programáveis do FPAA e é capaz de recuperar os dados originais de programação do dispositivo se um erro for detectado. A capacidade do esquema proposto de detectar desvios funcionais no bloco sob teste e sua confiabilidade quando os seus próprios blocos são afetados por inversão de bits de memória, foram investigadas. Finalmente, os efeitos de dose total sobre dispositivos programáveis foram investigados através de um experimento prático, no qual um FPAA comercial foi bombardeado por radiação gama proveniente de uma fonte de Cobalto-60. Os resultados experimentais mostraramm que as chaves analógicas, que proporcionam a programabilidade do dispositivo, e seus circuitos de controle são os principais responsáveis por degradar o sinal processado pelo FPAA quando determinados níveis de dose total acumulada são atingidos. / In this work the radiation effects on Field Programmable Analog Arrays (FPAAs) are studied and mitigation techniques are proposed. The main effects induced by radiation sources in electronic circuits operating in space and at high altitudes are SEU (Single Event Upset), SET (Single Event Transient) and TID (Total Ionizing Dose). FPAAs are programmable analog circuits that provide design flexibility and some interesting features for applications such as adaptive control and instrumentation and evolvable analog hardware. These features can be very useful in avionics and space applications, where the system environmental variables can vary significantly in few minutes, being necessary to re-calibrate the sensor conditioning circuits to correct errors or improve system performance, for example. Since the use of commercial off-the-shelf (COTS) components may reduce systems costs in such critical applications, it is very important to develop system-level mitigation techniques (to radiation effects), aiming the increasing of the reliability of commercial available devices (including FPAAs). Some FPAA models are based on SRAM memory cells, which make this kind of device vulnerable to SEU when employed in applications susceptible to radiation incidence. An SEU can affect the programming memory of the FPAA and change the device configuration, modifying the analog circuit behavior. In this work, fault injection experiments were performed in order to investigate the effects of SEU in a commercial FPAA by injecting bit-flips in the FPAA programming bitstream. Then, a self-checking scheme was proposed. This scheme, which is built with the FPAA available programming resources, is able to restore the original programming data if an error is detected. Fault injection was also performed to investigate the reliability of the checker when the bitstream section which controls its own blocks is corrupted due to an SEU. Results indicated a very low aliasing probability due to single faults in the checker (0.24%). Effects of SET were also studied, considering the disturbance of the switches (transmission gates) of the FPAA programmable capacitor banks. Spice simulations showed that transient pulses in the control circuit of the switches may lead to charge redistribution between the capacitors of the bank, affecting the voltage and current of the involved nodes. Finally, total ionizing dose (TID) effects were investigated by means of an irradiation experiment. In such experiment the FPAA was exposed to Cobalt-60 gamma radiation. The experimental results showed that the analog switches of the device as well as their control circuits are the main responsible for degradating the processed signal when certain radiation levels were achieved.

Este trabalho estuda os efeitos da radiação em dispositivos analógicos programáveis (FPAAs, do inglês, Field Programmable Analog Arrays) e técnicas de proteção que podem ser aplicadas para mitigar tais efeitos. Circuitos operando no espaço ou em altitudes elevadas, como, por exemplo, em satélites e aeronaves, recebem doses de radiação e impacto de íons e outras partículas que, dependendo da altitude e de características do próprio circuito, podem afetar o seu correto funcionamento. Os FPAAs proporcionam características interessantes aos sistemas analógicos e de sinal misto, como a prototipação rápida e a possibilidade de reconfiguração dinâmica (permitindo a implementação de sistemas de instrumentação e controle adaptativos). Assim, os FPAAs podem ser atrativos aos projetistas de sistemas de aplicação espacial, uma vez que a utilização de componentes comerciais, (COTS - do inglês, Commercial Off-The-Shelf), é uma alternativa para redução de custos do sistema final. Por isso, é necessário classificar estes dispositivos segundo o nível de tolerância à radiação e desenvolver técnicas de proteção contra seus efeitos. Essencialmente, é possível dividir os efeitos da radiação em dois principais grupos: efeitos de dose total ionizante ou TID (do inglês, Total Ionizing Dose) e os eventos singulares (Single Event Effects ou SEEs). Os dois principais eventos singulares que podem perturbar os FPAAs são investigados: os SETs (Single Event Transients) e os SEUs (Single Event Upsets). Os SETs podem gerar pulsos transientes em determinados nós do circuito, e, quando atingem o inversor de controle das portas de transmissão dos bancos de capacitores do dispositivo, podem ocasionar uma redistribuição de carga entre os capacitores do banco, afetando temporariamente o sinal que trafega pelo FPAA. Tais efeitos foram investigados através de simulações spice. Já os SEUs podem afetar os FPAAs que são baseados em memória do tipo SRAM. Para investigar tais efeitos foram realizados experimentos de injeção de falhas do tipo bit-flip (inversão de bit) no bitstream de programação de um FPAA baseado neste tipo de memória. Os experimentos mostraram que a inversão de um único bit pode ser catastrófica para o funcionamento do sistema. Posteriormente, um esquema self-checking (autoverificável) baseado em redundância foi proposto. Tal esquema foi construído com os recursos programáveis do FPAA e é capaz de recuperar os dados originais de programação do dispositivo se um erro for detectado. A capacidade do esquema proposto de detectar desvios funcionais no bloco sob teste e sua confiabilidade quando os seus próprios blocos são afetados por inversão de bits de memória, foram investigadas. Finalmente, os efeitos de dose total sobre dispositivos programáveis foram investigados através de um experimento prático, no qual um FPAA comercial foi bombardeado por radiação gama proveniente de uma fonte de Cobalto-60. Os resultados experimentais mostraramm que as chaves analógicas, que proporcionam a programabilidade do dispositivo, e seus circuitos de controle são os principais responsáveis por degradar o sinal processado pelo FPAA quando determinados níveis de dose total acumulada são atingidos. / In this work the radiation effects on Field Programmable Analog Arrays (FPAAs) are studied and mitigation techniques are proposed. The main effects induced by radiation sources in electronic circuits operating in space and at high altitudes are SEU (Single Event Upset), SET (Single Event Transient) and TID (Total Ionizing Dose). FPAAs are programmable analog circuits that provide design flexibility and some interesting features for applications such as adaptive control and instrumentation and evolvable analog hardware. These features can be very useful in avionics and space applications, where the system environmental variables can vary significantly in few minutes, being necessary to re-calibrate the sensor conditioning circuits to correct errors or improve system performance, for example. Since the use of commercial off-the-shelf (COTS) components may reduce systems costs in such critical applications, it is very important to develop system-level mitigation techniques (to radiation effects), aiming the increasing of the reliability of commercial available devices (including FPAAs). Some FPAA models are based on SRAM memory cells, which make this kind of device vulnerable to SEU when employed in applications susceptible to radiation incidence. An SEU can affect the programming memory of the FPAA and change the device configuration, modifying the analog circuit behavior. In this work, fault injection experiments were performed in order to investigate the effects of SEU in a commercial FPAA by injecting bit-flips in the FPAA programming bitstream. Then, a self-checking scheme was proposed. This scheme, which is built with the FPAA available programming resources, is able to restore the original programming data if an error is detected. Fault injection was also performed to investigate the reliability of the checker when the bitstream section which controls its own blocks is corrupted due to an SEU. Results indicated a very low aliasing probability due to single faults in the checker (0.24%). Effects of SET were also studied, considering the disturbance of the switches (transmission gates) of the FPAA programmable capacitor banks. Spice simulations showed that transient pulses in the control circuit of the switches may lead to charge redistribution between the capacitors of the bank, affecting the voltage and current of the involved nodes. Finally, total ionizing dose (TID) effects were investigated by means of an irradiation experiment. In such experiment the FPAA was exposed to Cobalt-60 gamma radiation. The experimental results showed that the analog switches of the device as well as their control circuits are the main responsible for degradating the processed signal when certain radiation levels were achieved.