對於任何一種產品不論其設計如何完善，製造過程如何完備，機器如何精密，操作技術如何純熟，所製造出來的產品一定會有所差異。造成產品差異性的原因有很多，其中因素之一為:量測產品的特性所使用的量測設備，可能因為量測的不精確進而存在量測誤差，以至於測量產品特性值不正確。以往建立管制圖之數學模式中，大多不考慮測量誤差的存在，因為一般認為量測誤發生次數或頻率太少，故在模式中忽略了量測誤差的重要性。目前沒有相關文獻探討量測誤差對偵測小偏移量管制圖之效應，因此本研究考慮在製程含有量測誤差的情形下建立EWMA管制圖和 區域管制圖，且分別以Crowder(1987a,b)提出的數值方法和Davis, Homer and Woodall(1990)提出的馬可夫鏈(Markov Chain)的方法計算EWMA管制圖和 區域管制圖之平均連串長度，分析探討量測誤差分別對EWMA管制圖和 區域管制圖的設計參數及偵測能力之影響，最後比較EWMA管制圖和 區域管制圖的偵測力差異。
| Identifer | oai:union.ndltd.org:CHENGCHI/A2002001347 |
| Creators | 蔡麗美, Tsai, Li-Mei |
| Publisher | 國立政治大學 |
| Source Sets | National Chengchi University Libraries |
| Language | 中文 |
| Detected Language | Unknown |
| Type | text |
| Rights | Copyright © nccu library on behalf of the copyright holders |
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