在產品研究開發階段，決者經常面臨如何挑選比控制（標準）母體更具可靠度的設計
母體。本篇論文研究的範圍是在型ＩＩ截略抽樣計劃且特定時間下，挑選較具可靠度
的韋伯母體。
假設π□、π□，．．．．，πk 是Ｋ＋１個獨立的韋伯母體，第ｉ個韋伯母體πi
的可靠度函數如下：Ｒ（ｔ；αｉ；βｉ）＝ｅｘｐ（－（ｔ╱αｉ）βi ）假如Ｒ
（Ｓ* ；αｉ；βｉ）＞Ｒ（Ｓ* ；α□；βυ）則稱母體πｉ比π□更具可靠度。
在型ＩＩ截略抽樣計劃下，我們主要決定ヾ每一母體適當的樣本和截略數（ｎｉ；γ
ｉ）ゝ局部最適法則以便由π□到πk 中挑選比π□更具可靠度的母體。
當形狀參數β已知時，由Huang et al （一九八四）的局部最適法則來推導挑選法則
，在控制此法則的正確挑選機率及誤差機率下，計算樣本數及臨界值。
當形狀參數β在某一區間中有事前分配，則修正局部最適法則。最後以法則來做模擬
，由結果得知此法則對事前分配的變異仍相當的適用。
| Identifer | oai:union.ndltd.org:CHENGCHI/B2002005737 |
| Creators | 吳慧貞, WU, HUI-ZHEN |
| Publisher | 國立政治大學 |
| Source Sets | National Chengchi University Libraries |
| Language | 中文 |
| Detected Language | Unknown |
| Type | text |
| Rights | Copyright © nccu library on behalf of the copyright holders |
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