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Previous issue date: 2007-01-08 / Dezessete terceiros molares h?gidos extra?dos foram utilizados com objetivo de avaliar a dentina quanto: resist?ncia ? uni?o por microtra??o (μTBS) com resina composta (CR) Z250 e adesivo Single Bond 2 (3M); aspecto pr?vio ao tratamento adesivo (APTA); uni?o adesiva (UA); tipo de fratura por microscopia eletr?nica de varredura (MEV) e espectroscopia por dispers?o de energia (EDS) comparando o tratamento com ponta diamantada KGSorensen (PD) e haste ultra-s?nica CVDentUS (UT) com (c/a) ou sem (s/a) condicionamento ?cido. Quatro grupos (n=40) divididos conforme processamento dentin?rio (PDs/a; PDc/a; UTs/a; UTc/a) foram restaurados, inclu?dos em resina acr?lica autopolimeriz?vel e transformados em pequenas barras por m?quina de corte seriado para posterior ensaio de μTBS em m?quina universal EMIC DL-2000 (0,5 mm/min). As amostras foram analisadas por MEV e EDS para classifica??o de fratura, UA e APTA. Os testes estat?sticos foram: Kolmogorov-Smirnov; An?lise de Vari?ncia fatorial; Tukey e Exato de Fisher (p≤0,05). As falhas foram classificadas em: Coesiva em dentina (CD); coesiva em CR (CM); interfacial coesiva na base ou topo de camada h?brida (CBT); interfacial coesiva adesiva (CA); mista (M); interfacial no smear layer (S). Os resultados mostraram (grupo, m?dia μTBS em MPa - desvio padr?o): (UTc/a, 45,31-8,16); (PDc/a, 34,04-9,29); (UTs/a, 15,17-3,71); (PDs/a, 9,86-3,80). O m?todo PD est? associado ? CBT e o m?todo UT ?s CA e CM, c/a est? associado ?s CBT e CM e s/a ? S. O APTA mostrou: PDs/a total obstru??o dos canal?culos dentin?rios (cd); UTs/a parcial desobstru??o dos cd e aspecto irregular de superf?cie; PDc/a completa desobstru??o dos cd; UTc/a completa desobstru??o dos cd e aspecto irregular de superf?cie. Em PDs/a ocorreu camada h?brida retil?nea sem penetra??es de tags (PT); UTs/a, curvil?nea com algumas PT; PDc/a, retil?nea com PT; UTc/a, curvil?nea com PT. Concluiu-se que a associa??o do tratamento UTc/a promove valores maiores de μTBS. Existe associa??o entre falha CBT com o m?todo PD, falhas CA e CM com o m?todo UT, falhas CBT e CM com o m?todo c/a e falha S com o m?todo s/a. As falhas que ofereceram maior resist?ncia para seu rompimento s?o, em ordem decrescente: CD; CM; CBT; CA; M; S
| Identifer | oai:union.ndltd.org:IBICT/oai:tede2.pucrs.br:tede/1175 |
| Date | 08 January 2007 |
| Creators | Conde, Alexandre |
| Contributors | Mota, Eduardo Gon?alves |
| Publisher | Pontif?cia Universidade Cat?lica do Rio Grande do Sul, Programa de P?s-Gradua??o em Odontologia, PUCRS, BR, Faculdade de Odontologia |
| Source Sets | IBICT Brazilian ETDs |
| Language | Portuguese |
| Detected Language | Portuguese |
| Type | info:eu-repo/semantics/publishedVersion, info:eu-repo/semantics/doctoralThesis |
| Format | application/pdf |
| Source | reponame:Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da PUC_RS, instname:Pontifícia Universidade Católica do Rio Grande do Sul, instacron:PUC_RS |
| Rights | info:eu-repo/semantics/openAccess |
| Relation | -8096554818733665164, 500, 600, 4673435736271820140 |
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