Orientador: Armando Turtelli Junior / Dissertação (mestrado) - Universidade Estadual de Campinas, Instituto de Fisica Gleb Wataghin / Made available in DSpace on 2018-07-17T12:07:19Z (GMT). No. of bitstreams: 1
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Previous issue date: 1987 / Resumo: Apresentamos neste trabalho um sistema de automatização de medidas em fotodensitometria microscópica. Basicamente, tais medidas se constituem em quantificar as relações entre a Intensidade de um feixe transmitindo a relação à Intensidade do feixe incidente em filmes de Raio-X. No processo de automatização, implementamos o hardware e o software de uma Interface inteligente, baseada no microprocessador Z80, cujo objetivo é controlar a aquisição de dados do Fotomicrodensitômetro. Além de controlar a aquisição e transmissão de dados, a Interface é responsável pelo comando do Motor de Passo acoplado ao equipamento. Tal sistema facilita a análise de dados dos filmes de Raio-X, bem como proporciona melhor resolução e confiabilidade às medidas / Abstract: Not informed. / Mestrado / Física / Mestre em Física
| Identifer | oai:union.ndltd.org:IBICT/oai:repositorio.unicamp.br:REPOSIP/277332 |
| Date | 25 September 1987 |
| Creators | Vieira, Sibelius Lellis |
| Contributors | UNIVERSIDADE ESTADUAL DE CAMPINAS, Turtelli Junior, Armando, 1942- |
| Publisher | [s.n.], Universidade Estadual de Campinas. Instituto de Física Gleb Wataghin, Programa de Pós-Graduação em Física |
| Source Sets | IBICT Brazilian ETDs |
| Language | Portuguese |
| Detected Language | Portuguese |
| Type | info:eu-repo/semantics/publishedVersion, info:eu-repo/semantics/masterThesis |
| Format | 106f. : il., application/pdf |
| Source | reponame:Repositório Institucional da Unicamp, instname:Universidade Estadual de Campinas, instacron:UNICAMP |
| Rights | info:eu-repo/semantics/openAccess |
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