Η συμπεριφορά των NAND Flash μνημών, της πιο επιτυχημένης τε-
χνολογίας Non-Volatile μνημών σήμερα, αλλοιώνεται με την αύξηση των
εγγραφών. Αυτή η διαδικασία, που ονομάζεται γήρανση, πέρα από μη ανα-
στρέψιμη είναι και πολύ σημαντική για τον σχεδιασμό συστημάτων που
χρησιμοποιούν NAND Flash μνήμες (π.χ. SSD), επειδή επηρεάζει την ΙΟ
απόδοση και την αξιοπιστία του συστήματος. Τα πειράματα πάνω σε πραγ-
ματικές NAND Flash μνήμες είναι χρονοβόρες και μη αναστρέψιμες δια-
δικασίες, καθώς νέες εγγραφές στην μνήμη αυξάνουν την γήρανση και η
συμπεριφορά του συστήματος αλλάζει.
Σκοπός της παρούσας διπλωματικής εργασίας, είναι η ανάπτυξη ενός
συστήματος που θα μπορεί να εξομοιώσει σε πραγματικό χρόνο και με με-
γάλη ακρίβεια την συμπεριφορά NAND Flash μνημών με συνθήκες γή-
ρανσης παραμετροποιημένες από τον χρήστη. Τα βασικά πλεονεκτήματα
αυτής της προσέγγισης είναι τα ακόλουθα: η τεχνολογία που εξομοιώνεται
μπορεί να χρησιμοποιηθεί υπό ίδιες συνθήκες γήρανσης για επαναληπτικά
πειράματα και το ίδιο σύστημα μπορεί να χρησιμοποιηθεί για να συγκρίνει
διαφορετικές τεχνολογίες μνημών υπό διαφορετικές συνθήκες γήρανσης
χρησιμοποιώντας τις ίδιες ρυθμίσεις hardware. / The behavior of NAND Flash, the most successful non-volatile memory technology today, deteriorates as the number of write accesses increases. This process, known as aging, is not only irreversible but also critical for the design of systemsthat use NAND Flash (ie. Solid-State Drives), since it affects the system’s IO performance and the required overhead for achieving a specific level of reliability. Experimental characterization of NAND Flash-based systems during their whole lifetime is a time-consuming and non-repetitive process, since further programming cycles increase aging, and the system's behavior changes. In this work, we present the architecture and experimental resultsof a system that can be used to emulate in real-time and with high precision the behavior of NAND Flash memories underuser-defined aging conditions. The main advantages of this approach are the following: the emulated technology can be used under the same aging conditions for repetitive experiments and under different aging conditions using the same hardware setup.
| Identifer | oai:union.ndltd.org:upatras.gr/oai:nemertes:10889/8694 |
| Date | 06 May 2015 |
| Creators | Σκλίας, Γεώργιος |
| Contributors | Αντωνακόπουλος, Θεόδωρος, Sklias, Georgios, Μπίρμπας, Αλέξιος |
| Source Sets | University of Patras |
| Language | gr |
| Detected Language | Greek |
| Type | Thesis |
| Rights | 0 |
Page generated in 0.0021 seconds