Return to search

Teknikstress hos en yngre generation – hur bemöts den? : En kvalitativ studie som undersöker om och varför yngre anställda upplever teknikstress och hur fenomenet bemöts av cheferna

Informations och kommunikationsteknologi (IKT) har blivit en del av allas vardag och har ockuperat individers privat- och arbetsliv. IKT-relaterad stress, också känt som teknikstress, är ett fenomen som påverkas av IKT-användning och i en organisatorisk kontext kan denna typ av stress få stora konsekvenser. Detta då teknikstress påverkar de anställda negativt genom bland annat minskad arbetsnöjdhet och hämmad produktivitet samt en ökad frånvaro och utbrändhet. Konsekvenserna av teknikstress har alltså en direkt effekt på organisationen och dess arbetskraft. Det finns även fördomar om att yngre, som är uppvuxna med IKT, skulle vara bättre på att hantera IKT då de exponeras för det i en tidig ålder. Syftet med undersökningen är att reda ut om och varför de yngre anställda upplever teknikstress och hur det hanteras av organisationen i form av hur cheferna bemöter de anställdas upplevda teknikstress. För att undersöka det användes teorier kring teknikstress och ledarskap samt en analysmodell bestående av krav-kontroll och stödmodellen. Empirin samlades in genom en kvalitativ metod i form av semi-strukturerade intervjuer. Resultatet visade på att unga upplever teknikstress, dels på grund av en hög arbetsbörda med mycket multitasking men också på grund av den IKT de använder. Det framgick också att cheferna inte, i tillräckligt hög utsträckning, bemöter denna teknikstress. Detta beror bland annat på att de anställda inte informerar sin chef när de känner teknikstress.

Identiferoai:union.ndltd.org:UPSALLA1/oai:DiVA.org:uu-448420
Date January 2021
CreatorsMossberg, Erik, Kinnunen, Wilma
PublisherUppsala universitet, Företagsekonomiska institutionen
Source SetsDiVA Archive at Upsalla University
LanguageSwedish
Detected LanguageSwedish
TypeStudent thesis, info:eu-repo/semantics/bachelorThesis, text
Formatapplication/pdf
Rightsinfo:eu-repo/semantics/openAccess

Page generated in 0.0021 seconds