Return to search

Análise da estrutura de dependência da volatilidade durante a crise do subprime

Submitted by Bruno Arruda (bparruda@gmail.com) on 2012-05-17T14:57:06Z
No. of bitstreams: 1
Dissertacao_BPA.pdf: 1593580 bytes, checksum: c8ac7ce5f23e303056df8ba1f45181b3 (MD5) / Approved for entry into archive by Gisele Isaura Hannickel (gisele.hannickel@fgv.br) on 2012-05-17T16:17:46Z (GMT) No. of bitstreams: 1
Dissertacao_BPA.pdf: 1593580 bytes, checksum: c8ac7ce5f23e303056df8ba1f45181b3 (MD5) / Made available in DSpace on 2012-05-17T16:40:42Z (GMT). No. of bitstreams: 1
Dissertacao_BPA.pdf: 1593580 bytes, checksum: c8ac7ce5f23e303056df8ba1f45181b3 (MD5)
Previous issue date: 2012-04-19 / Este estudo testa a hipótese de contágio entre setores da economia dos Estados Unidos e do Brasil durante a crise do Subprime. A metodologia econométrica baseia-se em modelos de correlações condicionais dinâmicas e na aplicação de testes LM robustos para testar a presença de quebras estruturais na estrutura de dependência das séries. Eventos considerados relevantes para o desfecho da crise do Subprime, assim como interações entre momentos das próprias séries foram utilizados para identi car as quebras de interesse. A principal conclusão deste trabalho é que houve contágio relacionado a praticamente todos os indicadores entre os setores dos Estados Unidos. O mesmo não ocorreu no Brasil, onde apenas alguns eventos específicos pareceram responsáveis por mudanças nas relações de dependência entre os setores.

Identiferoai:union.ndltd.org:IBICT/oai:bibliotecadigital.fgv.br:10438/9811
Date19 April 2012
CreatorsArruda, Bruno Pontes de
ContributorsMergulhão, João de Mendonça, Hotta, Luiz Koodi, Escolas::EESP, Pereira, Pedro L. Valls
Source SetsIBICT Brazilian ETDs
LanguagePortuguese
Detected LanguagePortuguese
Typeinfo:eu-repo/semantics/publishedVersion, info:eu-repo/semantics/masterThesis
Sourcereponame:Repositório Institucional do FGV, instname:Fundação Getulio Vargas, instacron:FGV
Rightsinfo:eu-repo/semantics/openAccess

Page generated in 0.0018 seconds