A diminuição no tamanho dos transistores vem aumentando cada vez mais o número de funções que os dispositivos eletrônicos podem realizar. Apesar da diminuição do tamanho mínimo dos transistores, a velocidade máxima dos circuitos não consegue seguir a mesma taxa de aumento. Um dos grandes culpados apontados pelos pesquisadores são as interconexões entre os transistores e também entre os componentes. O aumento no número de interconexões dos circuitos traz consigo um significativo aumento do cosumo de energia, aumento do atraso de propagação dos sinais, além de um aumento da complexidade e custo do projeto dos circuitos integrados. Como uma possível solução a este problema é proposta a utilização de lógica multivalorada, mais especificamente, a lógica quaternária. Os dispositivos FPGAs são caracterizados principalmente pela grande flexibilidade que oferecem aos projetistas de sistemas digitais. Entretanto, com o avanço nas tecnologias de fabricação de circuitos integrados e diminuição das dimensões de fabricação, os problemas relacionados ao grande número de interconexões são uma preocupação para as próximas tecnologias de FPGAs. As tecnologias menores que 90nm possuem um grande aumento na taxa de erros dos circuitos, na lógica combinacional e sequencial. Apesar de algumas potenciais soluções começara a ser investigadas pela comunidade, a busca por circuitos tolerantes a erros induzidos por radiação, sem penalidades no desempenho, área ou potência, ainda é um assunto de pesquisa em aberto. Este trabalho propõe o uso de circuitos quaternários com modificações para tolerar falhas provenientes de eventos transientes. Como principal contribuição deste trabalho destaca-se o desenvolvimento de uma CLB (do inglês Configurable Logic Block) quaternária capaz de suportar eventos transientes e, na possibilidade de um erro, evitá-lo ou corrigi-lo. / The decrease in transistor size is increasing the number of functions that can be performed by the electronic devices. Despite this reduction in the transistors minimum size, the circuit’s speed does not follow the same rate. One of the major reasons pointed out by researchers are the interconnections between the transistors and between the components. The increase in the number of circuit interconnections brings a significant increase in energy consumption, propagation delay of signals, and an increase in the complexity and cost of new technologies IC designs. As a possible solution to this problem the use of multivalued logic is being proposed, more specifically, the quaternary logic. FPGA devices are characterized mainly by offering greater flexibility to designers of digital systems. However, with the advance in IC manufacturing technologies and the reduced size of the minimum fabricated dimensions, the problems related to the large number of interconnections are a concern for future technologies of FPGAs. The sub 90nm technologies have a large increase in the error rate of its functions for the combinational and sequential logic. Although potential solutions are being investigated by the community, the search for circuits tolerant to radiation induced errors, without performance, area, or power penalties, is still an open research issue. This work proposes the use of quaternary circuits with modifications to tolerate faults from transient events. The main contribution of this work is the development of a quaternary CLB (Configurable Logic Block) able to withstand transient events and the occurrence of soft errors.
| Identifer | oai:union.ndltd.org:IBICT/oai:lume56.ufrgs.br:10183/72925 |
| Date | January 2012 |
| Creators | Rhod, Eduardo Luis |
| Contributors | Carro, Luigi |
| Source Sets | IBICT Brazilian ETDs |
| Language | English |
| Detected Language | Portuguese |
| Type | info:eu-repo/semantics/publishedVersion, info:eu-repo/semantics/doctoralThesis |
| Format | application/pdf |
| Source | reponame:Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFRGS, instname:Universidade Federal do Rio Grande do Sul, instacron:UFRGS |
| Rights | info:eu-repo/semantics/openAccess |
Page generated in 0.011 seconds