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Diffraction inverse par des petites inclusions.

Des inclusions de petits encombrements sont sources de perturbations pour les champs électromagnétiques ambiants (ceux qui existeraient en leurs absences, par exemple). Il est facilement imaginable que la mesure de ces perturbations puisse fournir des informations permettant l'identification des inclusions, où par iden- tification l'on signifie au minimum leur localisation, mais où l'on pourrait aussi signifier quantifocation de leurs paramètres électriques, voire dans la meilleure des hypothèses, caractérisation de leurs encombrements et formes. Récemment, une théorie mathématique a été développée pour préciser de petites inclusions à partir de mesures de frontière, voir [7] et références citées. Cette thèse porte principalement sur l'identication d'inclusions homogènes (de nombre inconnu a priori) d'un milieu donné à partir de mesures d'amplitudes de diraction lors de l'éclairement approprié de ce milieu. Premièrement, nous four- nissons de nouvelles formules asymptotiques, tant robustes que précises, des champs électromagnétiques résultant du phénomène de diffraction. Ensuite, nous les ex- ploitons pour la construction d'algorithmes d'identification non itératifs pertinents. Le problème est traité en trois grandes parties, chacune étant dédiée à une géométrie spécique : 1) Le milieu d'enfouissement de la collection est homogène, l'espace libre. 2) Le milieu est constitué de deux demi-espaces séparés par une interface plane, la collection étudiée se situant dans le demi-espace inférieur et sources et capteurs se situant dans le demi-espace supérieur. 3) Le milieu est un guide d'ondes, et la collection est dans le coeur de ce guide d'ondes.

Identiferoai:union.ndltd.org:CCSD/oai:pastel.archives-ouvertes.fr:pastel-00001126
Date19 November 2004
CreatorsIakovleva, Ekaterina
PublisherEcole Polytechnique X
Source SetsCCSD theses-EN-ligne, France
LanguageEnglish
Detected LanguageFrench
TypePhD thesis

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