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Previous issue date: 2015-11-27 / Conselho Nacional de Pesquisa e Desenvolvimento Cient?fico e Tecnol?gico - CNPq / The purpose of this paper was to present a case on the application of the classic method for the evaluation of measurement data and expression of uncertainty in measurement. The object of study was a semiconductor crystal defined as test sample based on their electronic structure. The measurement system allow characterizing the sample by Van der Pauw technique and Hall effect to determine the resistivity and the Hall coefficient of the crystal. The choice of the semiconductor as the object of study and an electronic characterization method for evaluation of uncertainty in measurement is due to its importance in the manufacture of devices used in virtually all electronic products. Firstly, there was be a review of the literature about the characteristics of semiconductors for understanding the results that was be obtained; then, developing a research of physical phenomena that explain the measurements; and finally the presentation of the technical characteristics of the measuring system designed to obtain the values of the study variables. Eventually, classic method was be present and the inherent sources of uncertainty in measurement process was be analyzed as well as the physical phenomena involved and identifying the components that do not affect the measurement results. The final product of this work was be an uncertainty budget for evaluation of measurements. This worksheet was be developed for the measurement system used in this work. However, it is proposed that it should be is tested by other users to evaluate the results obtained with another set of measuring instruments. / A proposta desse trabalho foi apresentar um estudo de caso da aplica??o do m?todo cl?ssico para a avalia??o dos dados de medi??o e para a express?o da incerteza de medi??o. O objeto de estudo foi um cristal semicondutor definido como amostra do ensaio com base na sua estrutura eletr?nica. O sistema de medi??o permite caracterizar a amostra atrav?s do m?todo de Van der Pauw e do efeito Hall para determinar a resistividade e o coeficiente Hall do cristal. A escolha de um semicondutor como objeto de estudo e um m?todo de caracteriza??o eletr?nica para avalia??o da incerteza de medi??o ? devida a sua import?ncia na fabrica??o de dispositivos utilizados em praticamente todos os produtos eletr?nicos. Primeiramente, foi realizada uma revis?o da literatura sobre as caracter?sticas dos semicondutores para compreens?o dos resultados que foram obtidos; em seguida, o desenvolvimento de uma pesquisa dos fen?menos f?sicos que explicam as medi??es realizadas; e, por ?ltimo, a apresenta??o das caracter?sticas t?cnicas do sistema de medi??o destinado para obten??o dos valores das grandezas de estudo. Ap?s, foi apresentado o m?todo para avalia??o da incerteza, e analisadas as fontes de incerteza inerentes ao processo de medi??o e aos fen?menos f?sicos envolvidos, e identificadas as componentes que n?o afetam o resultado da medi??o. O produto final desse trabalho foi uma planilha de c?lculo com o balan?o de incerteza para avalia??o dos resultados das medi??es. Essa planilha foi desenvolvida para o sistema de medi??o utilizado nesse trabalho. Entretanto, prop?em-se que seja testada por outros usu?rios para avalia??o dos resultados obtidos com outro conjunto de instrumentos de medi??o.
| Identifer | oai:union.ndltd.org:IBICT/oai:tede2.pucrs.br:tede/6656 |
| Date | 27 November 2015 |
| Creators | Borcelli, Anelise Fernandes |
| Contributors | Dedavid, Berenice Anina |
| Publisher | Pontif?cia Universidade Cat?lica do Rio Grande do Sul, Programa de P?s-Gradua??o em Engenharia e Tecnologia de Materiais, PUCRS, Brasil, Faculdade de Engenharia |
| Source Sets | IBICT Brazilian ETDs |
| Language | Portuguese |
| Detected Language | English |
| Type | info:eu-repo/semantics/publishedVersion, info:eu-repo/semantics/masterThesis |
| Format | application/pdf |
| Source | reponame:Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da PUC_RS, instname:Pontifícia Universidade Católica do Rio Grande do Sul, instacron:PUC_RS |
| Rights | info:eu-repo/semantics/openAccess |
| Relation | -7432719344215120122, 600, 600, 600, 600, -655770572761439785, 4518971056484826825, -2555911436985713659 |
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